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질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014035547
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질화물계 발광소자(GaN-based semiconductor light emitting diode)의 광 추출 효율 향상시킬 수 있는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법을 제공함으로써, 질화물계 발광 다이오드의 표면에 다결정 산화막의 습식 식각을 통해 나노 스케일의 구(nanosphere)를 형성하여 이를 이용한 표면 패터닝(patterning)으로 발광소자의 광 추출 효율을 향상 시킨다. 또한, 상기 나노 스케일의 구를 질화물계 반도체층의 표면에 돌기형성을 위한 건식 식각용 마스크로 사용가능하고, 또한, 투명전극층과 동일한 다결정 산화막을 이용한 나노 스케일의 구를 이용하여 투명전극층에 패턴 형성이 가능하다. 이때, 다결정 산화막의 질화물계 반도체층의 표면에 포토레지스트(photoresist)를 마스크로 이용하여 선택적인 증착을 통해 패턴 형성이 가능하고, 투명전극층의 위 혹은 아래에 나노 스케일의 구를 형성하여 서로 다른 형태의 투명전극층의 패턴을 형성할 수 있다. 또한, 산성용액의 농도를 조절하여 손쉽게 균일한 나노스케일의 구를 형성할 수 있고, 제거할 수 있다.
Int. CL H01L 33/22 (2010.01.01) H01L 33/42 (2010.01.01) H01L 33/16 (2010.01.01)
CPC H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01)
출원번호/일자 1020090011231 (2009.02.11)
출원인 전북대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1097878-0000 (2011.12.16)
공개번호/일자 10-2010-0091856 (2010.08.19) 문서열기
공고번호/일자 (20111223) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.02.11)
심사청구항수 25

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍창희 대한민국 서울특별시 영등포구
2 강지혜 대한민국 전라북도 전주시 완산구
3 김형구 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정태련 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, ****호 (서초동, 현대전원오피스텔)(특허법인 동원)
2 염홍서 대한민국 경기도 성남시 분당구 판교로 ***(야탑동, 탑마을경남아너스빌) 경남상가 B*-***(서준국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.02.11 수리 (Accepted) 1-1-2009-0085725-11
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.09.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.10.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0065643-85
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0488926-48
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.11.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0746493-19
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2010-0746492-63
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2010-5245806-20
8 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2011.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0297676-38
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0434431-49
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.09 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0434432-95
11 등록결정서
Decision to grant
2011.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0694842-78
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2012-5206243-46
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-5013206-34
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 위에 다수의 질화물계 반도체층을 형성하는 단계; 상기 적층된 질화물계 반도체의 상부면에 다결정 산화막을 형성하는 단계; 상기 다결정 산화막에 산성 용액을 이용한 습식 식각을 적용하여 나노 스케일의 구(nanosphere)를 형성하는 단계; 상기 나노 스케일의 구를 식각 패턴으로 하여 상기 질화물계 반도체의 상부면을 건식 식각하는 단계를 포함하는 질화물계 발광 소자의 제조방법
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 질화물계 반도체의 상부면에 형성한 나노 스케일의 구를 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
4 4
제3항에 있어서, 투명전극층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
5 5
제1항에 있어서, 투명전극층을 형성하는 단계를 더 포함하며, 상기 나노스케일의 구의 패턴이 전사되어 투명전극층의 패턴이 동시에 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
6 6
제1항에 있어서, 투명전극층을 형성하는 단계를 더 포함하며, 상기 투명전극층의 하부패턴이 전사되어 투명전극층의 패턴이 동시에 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
7 7
제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 전극패드를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자의 제조방법
8 8
제1항에 있어서, 상기 기판 위에 다수의 질화물계 반도체 층을 형성하는 단계가 n형층의 일부를 메사식각으로 노출시키는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자의 제조방법
9 9
제8항에 있어서, 상기 나노 스케일의 구를 식각 패턴으로 하여 상기 질화물계 반도체의 상부면과 메사식각된 경사면, 노출된 n형층의 일부를 건식 식각하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 질화물계 반도체의 상부면에 형성한 나노 스케일의 구를 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 질화물계 반도체의 상부면에 투명전극층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
12 12
제11항에 있어서, 상기 질화물계 반도체의 노출된 n형층의 일부에 n형 전극패드와 투명전극층 형성면에 p형 전극패드를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자의 제조방법
13 13
제8항에 있어서, 상기 나노 스케일의 구를 식각 패턴으로 하여 상기 질화물계 반도체의 상부면을 건식 식각하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
14 14
기초 기판 위에 복수층의 질화물계 반도체를 성장하여 상기 질화물계 반도체의 n형 층을 노출시키는 a 단계; 상기 질화물계 반도체의 전면에 다결정 산화막을 증착하고 산성 용액을 이용한 습식 식각을 통해 나노 스케일의 구(nanosphere)를 형성하는 b 단계; 상기 나노 스케일의 구를 식각 패턴으로 하여 상기 질화물계 반도체를 건식 식각하는 c 단계; 상기 질화물계 반도체 위에 형성한 나노 스케일의 구 위로 투명전극층을 형성하는 d 단계; 상기 c단계에서 형성된 질화물계 반도체의 표면의 패턴의 요철과, 나노 스케일의 구의 직경에 따른 요철이 중첩되어 상기 d단계에서의 상기 투명전극층의 형성이 진행됨에 따라 투명전극층에 패턴형성이 완료되는 e 단계; 그리고 상기 질화물계 반도체에 n형 전극패드(60)와 p형 전극패드(50)를 형성하는 f 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 발광 소자의 제조방법
15 15
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 질화물계 반도체층은 n형 질화물계 반도체 층, 활성 층, p형 질화물계 반도체 층을 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조방법
16 16
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 나노 스케일의 구를 형성하기 위한 다결정 산화막은 SnOx, InxOy, AlxOy, ZnO, ZrOx, HfOx, TiOx, TaxOy, GaxO등의 하나 혹은 두 개 이상으로 이루어지는 다결정 산화막인 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조방법
17 17
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막의 식각은 습식 식각으로 수행되며, 상기 산성 용액은 염산(HCl), 질산(HNO3), 인산(H3PO4), 옥살산(oxalic acid), 황산(H2SO4), 불산(HF)등의 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조방법
18 18
제17항에 있어서, 상기 산성 용액의 산도(pH)는 0
19 19
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막은 열처리를 거치지 않은 다결정질 상태에서 결합력이 약한 결정 경계(grain boundary)와 다결정 산화막과 질화물계 반도체의 결합력이 약한 계면에서의 활발한 식각에 의한 나노 스케일의 구를 형성하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조방법
20 20
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막의 두께는 50nm에서 600nm 일 때, 이때 상기 다결정 산화막의 두께를 조절함에 따라 생성되는 나노 스케일의 구의 평균적인 크기를 조절하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광 소자의 제조방법
21 21
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막의 습식 식각을 통한 나노 스케일의 구를 상기 질화물계 반도체의 표면에 돌기를 형성하기 위한 건식 식각용 마스크로 사용하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
22 22
제21항에 있어서, 상기 질화물계 반도체의 표면에 돌기를 형성하기 위한 건식 식각용 마스크로 사용하는 나노 스케일의 구를 보다 경화시키기 위한 열처리를 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
23 23
제5항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막의 습식 식각을 통한 나노 스케일의 구를 질화물계 반도체의 투명 전극 층의 패턴을 형성하기 위해 투명 전극 층의 상부 혹은 하부에 형성하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
24 24
제23항에 있어서, 상기 투명 전극 층의 패턴을 형성하기 위한 나노 스케일의 구를 ICP처리를 통해 구의 형태를 변화시키는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
25 25
제4항 내지 제6항, 제11항, 또는 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 다결정 산화막과 상기 투명전극층의 재질이 동일한 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
26 26
제1항 또는 제14항에 있어서, 상기 다결정 산화막은 포토리쏘그래피 공정에 의한 패턴을 따라 남겨지는 영역이 선택적인 것을 특징으로 하는 질화물계 반도체 발광소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.