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절대 위치 측정 방법, 절대 위치 측정 장치, 및 스케일

  • 기술번호 : KST2014035736
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 절대 위치 측정 방법, 절대 위치 측정 장치, 및 스케일을 제공한다. 이 스케일은 제1 폭을 가지고 제1 상태를 나타내는 제1 심볼(symbol), 상기 제1 폭을 가지고 제2 상태를 나타내는 제2 심볼을 이용하여 N 스테이지(stage)의 선형 피드백 천이 레지스터의 시퀀스를 가지고 반복적으로 배치된 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)를 대체하여 형성된 스케일 패턴을 포함한다. 제1 심볼은 2 개 이상의 제1 심볼 영역들로 분할되고, 제2 심볼은 2 개 이상으로 제2 심볼 영역들로 분할되고, 제1 심볼과 상기 제2 심볼이 중첩되어 동일한 구조를 가지는 중첩 영역이 적어도 하나는 존재한다.
Int. CL G01D 5/347 (2006.01)
CPC G01D 5/34707(2013.01) G01D 5/34707(2013.01)
출원번호/일자 1020120051435 (2012.05.15)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1341804-0000 (2013.12.10)
공개번호/일자 10-2013-0127709 (2013.11.25) 문서열기
공고번호/일자 (20131216) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.15)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종안 대한민국 대전 유성구
2 김재완 대한민국 대전 유성구
3 엄태봉 대한민국 대전 유성구
4 진종한 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이평우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)(특허법인 누리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2012-0387341-81
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.05.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0397710-15
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.03.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.05.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0032922-60
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.06.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0406040-15
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.06.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0571428-16
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.06.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0571460-67
8 등록결정서
Decision to grant
2013.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0675394-04
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 폭을 가지고 제1 상태를 나타내는 제1 심볼(symbol) 및 상기 제1 폭을 가지고 제2 상태를 나타내는 제2 심볼을 이용하여 N 스테이지(stage)의 선형 피드백 천이 레지스터의 시퀀스를 가지고 반복적으로 배치된 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)를 대체하여 스케일 패턴을 형성하는 단계; 및상기 제1 심볼은 서로 다른 구조의 2 개 이상의 제1 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제2 심볼은 서로 다른 구조의 2 개 이상으로 제2 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제1 심볼과 상기 제2 심볼이 중첩되어 동일한 구조를 가지는 중첩 영역이 적어도 하나는 존재하고, 상기 중첩 영역, 상기 제1 심볼 영역들, 및 제2 심볼 영역들 중에서 가장 작은 최소 영역에 대하여 적어도 하나의 데이터를 추출하고 상기 N 스테이지로 구성된 코드워드의 길이(cwd) 이상의 측정 폭(dw)에 대하여 감지 신호를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
2 2
제1 항에 있어서,상기 제1 폭은 상기 최소 영역의 폭의 3 배 이상이고, 상기 제1 심볼은 상기 최소 영역으로 등간격으로 분할되고, 상기 제2 심볼은 상기 최소 영역으로 등간격으로 분할되고, 상기 측정 폭의 범위 내에서 상기 제1 폭의 간격으로 측정된 상기 감지 신호를 합산하여 합산 신호들을 추출하는 단계;상기 합산 신호들을 이용하여 상기 제1 심볼 및 상기 제2 심볼의 중첩 영역을 특정하는 단계;상기 중첩 영역을 기준을 하여 코드워드를 분석하여 제1 절대 위치 정보를 추출하는 단계; 및상기 중첩 영역에 대응하는 상기 감지 신호를 이용하여 위상을 추출하여 제2 절대 위치 정보를 추출하는 단계; 중에서 적어도 하나의 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
3 3
제2 항에 있어서,상기 제1 심볼(symbol)은 상기 최소 영역으로 등간격으로 3 분할되고,상기 제2 심볼은 상기 최소 영역으로 등간격으로 3 분할되는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
4 4
제2 항에 있어서,상기 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)는 최대길이 시퀀스(Maximum legnth sequence)인 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
5 5
제2 항에 있어서,하나의 상기 중첩 영역에 대하여 2 개 또는 3 개의 감지 신호를 가지는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
6 6
제2 항에 있어서,상기 중첩 영역은 2 개이고, 상기 중첩 영역으로 서로 이격되어 있는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
7 7
제2 항에 있어서,상기 중첩 영역은 2 개이고, 상기 중첩 영역으로 연속적으로 배치된 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
8 8
제2 항에 있어서,상기 감지 신호는 상기 스케일에서 반사된 광 신호인 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
9 9
제2 항에 있어서,상기 감지 신호는 상기 스케일을 투과한 광 신호인 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
10 10
제2 항에 있어서,상기 제1 폭은 수 마크로미터 내지 수 밀리미터인 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 방법
11 11
제1 폭을 가지고 제1 상태를 나타내는 제1 심볼(symbol), 상기 제1 폭을 가지고 제2 상태를 나타내는 제2 심볼을 이용하여 N 스테이지(stage)의 선형 피드백 천이 레지스터의 시퀀스를 가지고 반복적으로 배치된 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)를 대체하여 형성된 스케일 패턴을 포함하고,상기 제1 심볼은 2 개 이상의 제1 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제2 심볼은 2 개 이상으로 제2 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제1 심볼과 상기 제2 심볼이 중첩되어 동일한 구조를 가지는 중첩 영역이 적어도 하나는 존재하는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정용 스케일
12 12
제 11 항에 있어서,상기 제1 심볼 및 상기 제2 심볼은 적어도 하나의 바 패턴을 포함하는 것을 특징으로 절대 위치 측정용 스케일
13 13
제 11 항에 있어서,상기 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)는 최대길이 시퀀스(Maximum legnth sequence)인 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정용 스케일
14 14
제11 항에 있어서,상기 중첩 영역은 2 개이고, 상기 중첩 영역으로 서로 이격되어 있는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정용 스케일
15 15
제11 항에 있어서,상기 중첩 영역은 2 개이고, 상기 중첩 영역으로 연속적으로 배치된 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정용 스케일
16 16
제1 폭을 가지고 제1 상태를 나타내는 제1 심볼(symbol) 및 상기 제1 폭을 가지고 제2 상태를 나타내는 제2 심볼을 이용하여 N 스테이지(stage)의 선형 피드백 천이 레지스터의 시퀀스를 가지고 반복적으로 배치된 의사 잡음 코드(Pseudo-random-code)를 대체하여 형성된 스케일 패턴을 포함하는 스케일;상기 제1 심볼은 2 개 이상의 제1 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제2 심볼은 2 개 이상으로 제2 심볼 영역들로 분할되고, 상기 제1 심볼과 상기 제2 심볼이 중첩되어 동일한 구조를 가지는 중첩 영역이 적어도 하나는 존재하고, 상기 중첩 영역, 상기 제1 심볼 영역들, 및 제2 심볼 영역들 중에서 가장 작은 최소 영역에 대하여 적어도 하나의 데이터를 추출하고 상기 N 스테이지로 구성된 코드워드의 길이(cwd) 이상의 측정 폭(dw)에 대하여 감지 신호를 측정하는 센서 어레이;상기 제1 폭은 상기 최소 영역의 폭의 3 배 이상이고, 상기 제1 심볼은 상기 최소 영역으로 등간격으로 분할되고, 상기 제2 심볼은 상기 최소 영역으로 등간격으로 분할되고, 상기 측정 폭의 범위 내에서 상기 제1 폭의 간격으로 측정된 상기 감지 신호를 합산하여 합산 신호들을 제공하는 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 장치
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제 16 항에 있어서,상기 처리부는 상기 합산 신호들을 이용하여 상기 제1 심볼 및 상기 제2 심볼의 중첩 영역을 특정하고, 상기 중첩 영역을 기준을 하여 코드워드를 분석하여 제1 절대 위치 정보를 추출하고, 상기 중첩 영역에 대응하는 상기 감지 신호를 이용하여 위상을 추출하여 제2 절대 위치 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 절대 위치 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
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1 KR101328996 KR 대한민국 FAMILY
2 US09651403 US 미국 FAMILY
3 US20150069225 US 미국 FAMILY
4 WO2013172561 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
5 WO2013172561 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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