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타원 형상의 단면을 갖는 테스트 광섬유에 음파를 인가하는 음파 발생부; 및
상기 테스트 광섬유에 인가된 음파가 상기 테스트 광섬유 내를 미리 설정된 길이만큼 진행한 후, 상기 테스트 광섬유의 단면의 장축 방향 및 단축 방향 각각을 따라 진행하는 제1 음파 및 제2 음파를 측정하며, 상기 제1 음파와 상기 제2 음파의 위상 차이를 이용하여 상기 테스트 광섬유 외주부의 타원율을 측정하는 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 장치
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제 1항에 있어서,
상기 음파 발생부는 1 kHz 이상 10 MHz 이하의 주파수를 갖는 음파를 상기 테스트 광섬유에 인가하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 장치
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제 1항에 있어서,
상기 측정부는,
상기 테스트 광섬유에 인접하여 위치하는 제1 광섬유;
상기 제1 광섬유에 빛을 인가하는 광원;
상기 제1 광섬유 내를 진행하여 상기 제1 광섬유의 끝에서 반사된 빛과 상기 테스트 광섬유로부터 반사된 빛의 간섭에 의하여 생성된 변조 신호를 검출하는 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 장치
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제 4항에 있어서,
상기 측정부는,
한쪽 끝이 상기 검출기와 광학적으로 연결되는 제2 광섬유;
상기 제1 광섬유 내를 진행하는 빛의 일부를 상기 제2 광섬유에 인가하는 광 커플러; 및
상기 제2 광섬유의 다른 쪽 끝에 광학적으로 연결되는 광 스트리퍼를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 장치
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제 1항에 있어서,
상기 테스트 광섬유의 길이 방향을 회전축으로 상기 테스트 광섬유를 회전시키는 회전기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 장치
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음파를 발생시켜 타원 형상의 단면을 갖는 테스트 광섬유에 인가하는 단계;
상기 테스트 광섬유 내에서 미리 설정된 길이만큼 음파를 진행시키는 단계;
상기 테스트 광섬유의 단면의 장축 방향 및 단축 방향 각각을 따라 진행하는 제1 음파 및 제2 음파를 측정하는 단계; 및
상기 제1 음파와 상기 제2 음파의 위상 차이를 이용하여 상기 테스트 광섬유의 타원율을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 방법
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제 7항에 있어서,
상기 테스트 광섬유에 인가되는 음파의 주파수는 1 kHz 이상 10 MHz 이하인 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 방법
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제 7항에 있어서,
상기 제1 음파 및 제2 음파를 측정하는 단계는,
상기 테스트 광섬유에 인접하여 위치하는 센싱 광섬유를 통하여 빛을 조사하는 단계; 및
상기 센싱 광섬유로부터 출사되어 상기 테스트 광섬유로부터 반사된 빛과, 상기 센싱 광섬유의 끝으로부터 반사된 빛의 간섭에 의해 생성되는 변조 신호를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 방법
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제 7항에 있어서,
상기 제1 음파 및 제2 음파를 측정하는 단계는, 상기 테스트 광섬유의 길이 방향을 회전축으로 상기 테스트 광섬유를 회전시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 타원율 측정 방법
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