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중첩 관성측정 장치를 위한 고장 검출기 및 검출 방법

  • 기술번호 : KST2014037353
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고장 검출기 및 검출 방법에 관한 것으로서, 특히 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출기 및 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, N개의 관성센서를 구비하는 중첩 관성측정장치의 상기 N개의 관성센서로부터의 출력에서 저주파 성분을 추출하는 신호 처리부; 및 상기 신호 처리부를 거쳐 제공된 상기 관성센서의 저주파 성분 신호로부터 패리티 공간기법을 이용하여 상기 관성센서에 대한 고장 검출을 수행하는 고장 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출기 및 이에 대응하는 고장 검출 방법에 제공된다.
Int. CL G01C 21/16 (2006.01.01) G01C 25/00 (2006.01.01) G01C 21/24 (2006.01.01) G01P 21/00 (2006.01.01)
CPC G01C 21/16(2013.01) G01C 21/16(2013.01) G01C 21/16(2013.01) G01C 21/16(2013.01)
출원번호/일자 1020100091336 (2010.09.17)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0029516 (2012.03.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.09.17)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박찬국 대한민국 서울특별시 송파구
2 이원희 대한민국 서울특별시 관악구
3 이준한 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김홍균 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 *** (문정동) B동 ***호(케이아이피국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0605305-26
2 보정요구서
Request for Amendment
2010.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0086318-27
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.10.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0671513-08
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.12.16 수리 (Accepted) 9-1-2011-0098412-42
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.05.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0256933-18
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.07.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0390072-11
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
N개의 관성센서를 구비하는 중첩 관성측정장치의 상기 N개의 관성센서로부터의 출력에서 저주파 성분을 추출하는 신호 처리부; 및상기 신호 처리부를 거쳐 제공된 상기 관성센서의 저주파 성분 신호로부터 패리티 공간기법을 이용하여 상기 관성센서에 대한 고장 검출을 수행하는 고장 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출기
2 2
청구항 1에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 N개의 관성센서와 각각 대응하는 다수의 웨이블렛 변환부를 구비하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출기
3 3
청구항 1에 있어서,상기 고장 검출부는 하나의 관성센서를 제외하여 형성된 N개의 센서 그룹에 대한 패리티 공간 기법을 수행하고, 그 결과의 적어도 일부를 상기 관성센서 출력의 변화량 정보를 통해 검증하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출기
4 4
N개의 관성센서를 구비하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법에 있어서,상기 N개의 관성센서의 출력에서 저주파 성분을 추출하는 신호처리 단계; 및상기 신호처리 단계를 거쳐서 제공된 상기 관성센서의 저주파 성분 신호로부터 패리티 공간기법을 이용하여 상기 관성센서에 대한 고장 검출을 수행하는 고장검출 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법
5 5
청구항 4에 있어서,상기 신호처리 단계는 상기 N개의 관성센서 각각에 대한 웨이블렛 변환을 실시하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법
6 6
청구항 4에 있어서,상기 고장 검출 단계는하나의 관성센서를 제외하여 형성된 N개의 센서 그룹에 대한 패리티 공간 기법을 수행하여 FDN을 확인하는 과정;상기 N개의 관성센서 출력의 변화량에 따른 FDN2를 확인하는 과정; 및상기 FDN2에 의한 고장 유형에 대한 검증 과정을 구비하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법
7 7
청구항 6에 있어서,상기 FDN이 N-1개인 경우에 상기 FDN2가 2이면 고장센서 2개를 분리하고 FDN2가 2가 아니면 고장센서 1개를 분리하는 것을 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법
8 8
청구항 6에 있어서,상기 FDN이 2인 경우에 상기 FDN2가 2이면 고장센서 2개를 분리하고 FDN2가 2가 아니면 상기 FDN2를 확인하는 단계를 다시 수행하는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 중첩 관성측정장치를 위한 고장 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교 산학협력단 우주기초원천기술개발사업 자동 및 지능형 고장복구 시스템 기술