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듀얼모드 래치 플립플롭 회로, 그를 포함한 반도체 회로 및 반도체 회로의 타이밍 수율 향상 방법

  • 기술번호 : KST2014037797
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 듀얼모드 래치 플립플롭 회로가 제공된다. 듀얼모드 래치 플립플롭 회로는 클럭 신호를 제공받아 이를 지연시켜 지연 클럭 신호를 출력하는 클럭 지연 회로, 클럭 신호, 지연 클럭 신호 및 데이터 신호를 제공받아 NAND 연산을 수행하여 NAND 출력 신호를 출력하는 NAND 게이트 회로, NAND 출력 신호, 클럭 신호 및 지연 클럭 신호를 제공받아 데이터 신호를 저장하는 래치 회로, 및 일단이 NAND 게이트 회로 및 래치 회로와 연결된 모드 스위치를 포함하되, NAND 게이트 회로 및 래치 회로 중 적어도 어느 하나는 모드 스위치의 출력신호에 따라 동작속도가 가변된다. 듀얼모드 래치 플립플롭, NMOS 트랜지스터, 문턱 전압
Int. CL H03K 3/037 (2006.01.01) H03K 3/3562 (2006.01.01) H03K 3/012 (2006.01.01) H03K 5/135 (2006.01.01)
CPC H03K 3/037(2013.01) H03K 3/037(2013.01) H03K 3/037(2013.01) H03K 3/037(2013.01)
출원번호/일자 1020090118588 (2009.12.02)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1086904-0000 (2011.11.18)
공개번호/일자 10-2011-0062021 (2011.06.10) 문서열기
공고번호/일자 (20111124) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.02)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신현철 대한민국 경기도 안산시 상록구
2 김영환 대한민국 경상북도 포항시 남구
3 김욱 대한민국 경상북도 포항시 남구
4 유동곤 대한민국 경상북도 포항시 남구
5 황은주 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 경기도 안산시 상록구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.02 수리 (Accepted) 1-1-2009-0745135-97
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.01.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.01.19 수리 (Accepted) 9-1-2011-0005556-50
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.05.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0259301-53
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0467581-41
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2011-0467549-90
7 등록결정서
Decision to grant
2011.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0634137-13
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
클럭 신호를 제공받아 이를 지연시켜 지연 클럭 신호를 출력하는 클럭 지연 회로; 상기 클럭 신호, 상기 지연 클럭 신호 및 데이터 신호를 제공받아 NAND 연산을 수행하여 NAND 출력 신호를 출력하는 NAND 게이트 회로; 상기 NAND 출력 신호, 상기 클럭 신호 및 상기 지연 클럭 신호를 제공받아 상기 데이터 신호를 저장하는 래치 회로; 및 일단이 상기 NAND 게이트 회로 및 상기 래치 회로와 연결된 모드 스위치를 포함하되, 상기 NAND 게이트 회로 및 상기 래치 회로 중 적어도 어느 하나는 상기 모드 스위치의 출력신호에 따라 동작속도가 가변되는 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
2 2
제 1항에 있어서, 상기 NAND 게이트 회로는 전원 전압이 제공되는 전압단과 접지단 사이에 직렬로 연결된 제1 PMOS 트랜지스터 및 제1 내지 제3 NMOS 트랜지스터와 상기 전압단과 상기 모드 스위치 사이에 직렬로 연결된 제2 PMOS 트랜지스터 및 제4 내지 제6 NMOS 트랜지스터를 포함하고, 상기 제4 내지 제6 NMOS 트랜지스터의 문턱 전압은 상기 제1 내지 제3 NMOS 트랜지스터의 문턱 전압보다 낮은 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
3 3
제 2항에 있어서, 상기 래치 회로는 상기 전압단과 상기 접지단 사이에 직렬로 연결된 제3 PMOS 트랜지스터 및 제7 내지 제9 NMOS 트랜지스터와 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 일단과 상기 모드 스위치 사이에 직렬로 연결된 제10 내지 제12 NMOS 트랜지스터를 포함하되, 상기 제10 내지 제12 NMOS 트랜지스터의 문턱 전압은 상기 제7 내지 제9 NMOS 트랜지스터의 문턱 전압보다 낮은 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
4 4
제 3항에 있어서, 상기 모드 스위치는 모드 스위치 트랜지스터를 포함하고, 상기 모드 스위치 트랜지스터의 일단은 상기 제6 및 제12 NMOS 트랜지스터의 일단에 연결되고, 타단은 상기 접지단에 연결되며, 게이트단에는 모드 신호가 제공되는 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
5 5
제 3항에 있어서, 상기 모드 스위치는 모드 신호를 제공받고, 상기 모드 신호는 노멀 모드 신호 및 패스트 모드 신호를 포함하고, 상기 모드 신호가 상기 노멀 모드 신호일 경우 상기 제4 내지 제6 NMOS 트랜지스터 및 제10 내지 제12 NMOS 트랜지스터는 디스에이블되고, 상기 모드 신호가 상기 패스트 모드 신호일 경우 상기 제4 내지 제6 NMOS 트랜지스터 및 제10 내지 제12 NMOS 트랜지스터는 인에이블되는 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
6 6
제 3항에 있어서, 상기 제4 내지 제6 NMOS 트랜지스터의 폭은 상기 제1 내지 제3 NMOS 트랜지스터의 폭보다 작고, 상기 제10 내지 제12 NMOS 트랜지스터의 폭은 상기 제7 내지 제9 NMOS 트랜지스터의 폭보다 작은 듀얼모드 래치 플립플롭 회로
7 7
전압 라인; 다수의 상기 제1 항 내지 제6 항 중 어느 한 항의 듀얼모드 래치 플립플롭 회로; 및 상기 각 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 상기 각 모드 스위치와 상기 전압 라인 사이에 배치된 다수의 퓨즈를 포함하는 반도체 회로
8 8
제 7항에 있어서, 상기 다수의 퓨즈 중 적어도 어느 하나가 절단된 반도체 회로
9 9
반도체 회로를 구성하는 다수의 래치 플립플롭 회로 중 상기 반도체 회로의 타이밍 수율에 영향을 주는 일정 수의 래치 플립플롭 회로를 추출하고, 상기 추출된 래치 플립플롭 회로를 상기 제1 항 내지 제6 항 중 어느 한 항의 듀얼모드 래치 플립플롭 회로로 대체하고, 상기 대체된 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 모드를 패스트 모드로 변환하는 것을 포함하는 반도체 회로의 타이밍 수율 향상 방법
10 10
제 9항에 있어서, 상기 반도체 회로의 타이밍 수율에 영향을 주는 일정 수의 래치 플립플롭 회로를 추출하는 것은 상기 반도체 회로를 구성하는 래치 플립플롭 회로 중 SSTC(Statistical Static Timing Criticality)가 높은 순으로 상기 일정 수의 래치 플립플롭 회로를 추출하는 것을 포함하는 반도체 회로의 타이밍 수율 향상 방법
11 11
제 9항에 있어서, 상기 대체된 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 모드를 상기 패스트 모드로 변환하는 것은 이퓨즈(e-fuse)를 사용하여 상기 대체된 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 모드를 상기 패스트 모드로 변환하는 것을 포함하는 반도체 회로의 타이밍 수율 향상 방법
12 12
제 9항에 있어서, 상기 대체된 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 모드를 패스트 모드로 변환하는 것은 상기 대체된 듀얼모드 래치 플립플롭 회로 중에서 타이밍 패일(timing fail)이 발생한 듀얼모드 래치 플립플롭 회로의 모드를 패스트 모드로 변환하는 것을 포함하는 반도체 회로의 타이밍 수율 향상 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부(정통부) 지식경제부(정통부)(정보통신연구진흥원) 정보통신연구개발사업(IT인력양성지원사업) 고성능 고신뢰도 Multi-core 설계 기술 연구(2차년도)