맞춤기술찾기

이전대상기술

에피택셜 성장 방법

  • 기술번호 : KST2014038090
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 격자상수가 서로 다른 단결정 기판 상에 에피택셜층을 성장시킴에 있어 에피택셜층 내에 생성된 결함을 최소화하여 안정적인 광학적 특성 및 전기적 특성을 담보할 수 있는 에피택셜 성장 방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 에피택셜 성장 방법은 단결정 기판을 준비하는 (a) 단계와, 상기 단결정 기판과 상이한 격자상수를 갖는 제 1 에피택셜층을 상기 단결정 기판 상에 성장시키는 (b) 단계와, 상기 제 1 에피택셜층 상에 양자점을 형성하는 (c) 단계와, 상기 양자점이 표면 에너지의 차이에 의해 상기 제 1 에피택셜층의 스텝으로 이동하는 (d) 단계 및 상기 제 1 에피택셜층 상에 제 2 에피택셜층을 성장시키는 (e) 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
Int. CL C30B 25/16 (2006.01.01) C30B 29/42 (2006.01.01) H01L 21/02 (2006.01.01)
CPC C30B 25/16(2013.01)C30B 25/16(2013.01)C30B 25/16(2013.01)
출원번호/일자 1020070049040 (2007.05.21)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0833897-0000 (2008.05.26)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080602) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.21)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오재응 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 김문덕 대한민국 경기 성남시 분당구
3 노영균 대한민국 대전 서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 주식회사 아이브이웍스 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0369649-53
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.10.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.11.09 수리 (Accepted) 9-1-2007-0068493-54
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0022601-61
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0063489-91
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.01.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0063488-45
7 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2008-0144117-55
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
9 등록결정서
Decision to grant
2008.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0271669-27
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
단결정 기판을 준비하는 (a) 단계;상기 단결정 기판과 상이한 격자상수를 갖는 제 1 에피택셜층을 상기 단결정 기판 상에 성장시키는 (b) 단계;상기 제 1 에피택셜층 상에 양자점을 형성하는 (c) 단계;상기 양자점이 표면 에너지의 차이에 의해 상기 제 1 에피택셜층의 스텝으로 이동하는 (d) 단계; 및상기 제 1 에피택셜층 상에 제 2 에피택셜층을 성장시키는 (e) 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 에피택셜층의 격자상수는 상기 제 1 에피택셜층의 격자상수에 상응한 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 양자점의 격자상수는 상기 제 1 에피택셜층의 격자상수보다 큰 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 (c) 단계는, 원자층 적층법(Atomic Layer Epitaxy), S-K(Stranski-Krastanov) 성장법 중 어느 하나를 이용하여 상기 양자점을 형성하는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 양자점은 5nm∼10㎛의 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 에피택셜층 및 제 2 에피택셜층은 분자선 결정성장법(MBE, Molecular Beam Epitaxy), 금속-유기 화학기상증착법(Metal Organic Chemical Vapor Deposition) 중 어느 하나를 이용하여 성장시키는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 (b) 단계 내지 (e) 단계를 복수 번 반복하는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 단결정 기판은 InAs 단결정 기판, GaAs 단결정 기판, GaN 단결정 기판 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 에피택셜층은 실리콘(Si) 또는 사파이어(Al2O3)로 구성되는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 에피택셜층은 실리콘(Si) 또는 사파이어(Al2O3)로 구성되는 것을 특징으로 하는 에피택셜 성장 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.