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투시광선을 이용하여 컨베이어 벨트에 의해 운반되는 객체의 복수의 영상을 획득하는 단계;상기 획득된 영상을 처리하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 단계; 및상기 획득된 윤곽선 형상을 미리 저장된 객체의 원본 형상과 비교하여 상기 객체의 불량 여부를 확인하는 단계를 포함하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 1항에 있어서,상기 영상을 획득하는 단계는,상기 객체에 적어도 두 방향에서 투시광선을 조사하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 2항에 있어서,상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 단계는,상기 영상에서 객체의 각 에지 라인을 검출하는 단계;적어도 두 투시광선의 발생점과 상기 각 에지 라인을 연결하여 각 에지 라인에 대한 적어도 두 개의 연결면을 생성하는 단계;상기 대응되는 적어도 두 개의 연결면으로부터 각 에지 라인에 대한 교선의 집합을 검출하는 단계; 및상기 각 에지 라인의 양 끝점 및 상기 교선의 집합을 이용하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 단계를 포함하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 2항에 있어서,상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 단계는,적어도 하나의 영상을 처리하여 제1 에지 라인을 검출하는 단계;상기 제1 에지 라인과 상기 처리된 영상의 투시광선의 발생점을 연결하여 상기 제1 에지 라인에 대한 제1 연결면을 생성하는 단계;적어도 다른 하나의 영상을 처리하여 제2 에지 라인을 검출하는 단계;상기 제2 에지 라인의 임의의 한 점을 선택하여 상기 처리된 다른 영상의 투시광선의 발생점과 상기 선택된 임의의 한 점을 연결하여 상기 제1 연결면과의 교차점을 생성하는 단계; 및상기 교차점을 생성하는 단계를 반복적으로 실행하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 단계를 포함한 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 1항에 있어서,상기 투시광선은, 엑스선(X-ray), 알파선(-ray), 베타선(-ray) 및 감마선(-ray) 중 적어도 어느 하나인 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 1항에 있어서,상기 객체의 3차원 윤곽선 형상과 원본 형상 간의 형상의 불일치 정도가 미리 설정한 기준 이상일 때 불량으로 판정하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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제 1항에 있어서,상기 객체의 불량 여부를 확인하는 단계는,상기 객체의 기공 또는 크랙의 크기가 미리 설정된 크기 이상일 때 불량으로 검출하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 방법
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컨베이어 벨트에 의해 운반되는 객체에 투시광선을 방사하는 투시광선 광원부;상기 객체를 투과한 투시광선을 검출하고, 상기 객체에 대한 영상을 획득하는 투시광선 검출부;상기 투시광선 검출부에 의해 획득된 영상을 처리하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 영상 처리부;상기 객체의 원본 형상을 저장하는 저장부; 및상기 영상 처리부에 의해 획득된 상기 윤곽선 형상을 상기 저장부에 저장된 상기 원본 형상과 비교하여 상기 객체의 불량 여부를 판단하는 판단부를 포함하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 8항에 있어서,상기 투시광선 광원부는,상기 객체에 적어도 두 방향에서 투시광선을 조사하도록 2개의 투시광선 광원을 구비하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 9항에 있어서,상기 영상 처리부는,상기 영상에서 객체의 에지 라인을 검출하는 에지 검출부와,상기 적어도 두 투시광선 광원의 발생점과 상기 각 에지 라인을 연결하여 각 에지 라인에 대한 적어도 두 개의 연결면을 생성하는 연결면 생성부와,상기 대응되는 적어도 두 개의 연결면으로부터 각 에지 라인에 대한 교선의 집합을 검출하는 교선 검출부와,상기 각 에지 라인의 양 끝점 및 상기 교선의 집합을 이용하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 형상 획득부를 포함하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 9항에 있어서,상기 영상 처리부는,상기 영상에서 객체의 에지 라인을 검출하는 에지 검출부와,상기 적어도 하나의 투시광선 광원의 발생점과 상기 에지 라인을 연결하여 적어도 하나의 연결면을 생성하는 연결면 생성부와,상기 에지 라인과 투시광원의 발생점이 다른 에지 라인을 투시광원 광원의 발생점과 연결하여 상기 적어도 하나의 연결면에 대한 교차점의 집합을 검출하는 교차점 검출부와,상기 교차점의 집합을 이용하여 상기 객체의 3차원의 윤곽선 형상을 획득하는 형상 획득부를 포함하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 8항에 있어서,상기 투시광선은, 엑스선(X-ray), 알파선(-ray), 베타선(-ray) 및 감마선(-ray) 중 적어도 어느 하나인 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 8항에 있어서,상기 판단부는,상기 객체의 3차원 윤곽선 형상과 원본 형상 간의 형상의 불일치 정도가 미리 설정한 기준 이상일 때 불량으로 판정하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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제 8항에 있어서,상기 판단부는,상기 객체의 기공 또는 크랙의 크기가 미리 설정된 크기 이상일 때, 상기 객체를 불량으로 판단하는 투시광선을 이용한 객체의 3차원 형상 검수 장치
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