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에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경

  • 기술번호 : KST2014038822
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광학적 방법을 이용한 비접촉식 또는 접촉식 주사탐침 현미경에 대한 것으로서, 시료 고정부 하단에 설치되는 자기장 발생기; 및 시료 상부에 위치되는 코일이 형성된 캔틸레버 검출기를 포함하며, 시료의 측정시 되먹임 회로(feedback circuit)를 사용하여 시료와 상기 캔틸레버 검출기의 탐침간의 거리를 일정하게 유지하면서 캔틸레버 검출기의 움직임에 따라 발생되는 에디 전류에 의한 자기장 변화를 측정하여 시료의 이미지를 고속 스캐닝하는 것을 특징으로 하는 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경에 관한 것이다. 본 발명은 시료를 고속으로 측정할 수 있으면서 고속의 스캔에서도 분해능을 높여 측정의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 분자 수준의 분해능을 갖는 주사탐침 현미경을 제공함으로써 각종 시료의 미세 구조, 전자기적, 기계적 특성 분석 등에 활용될 수 있다.주사탐침 현미경, 캔틸레버 검출기, 자기장 발생기, 에디 전류, 코일, 되먹임 회로, 고속 스캔, 측정의 신뢰성
Int. CL G01N 27/72 (2006.01.01) G01Q 60/00 (2010.01.01) G02B 21/00 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020090069677 (2009.07.29)
출원인 명지대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1133932-0000 (2012.03.30)
공개번호/일자 10-2011-0014272 (2011.02.11) 문서열기
공고번호/일자 (20120413) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.07.29)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 명지대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 처인구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강치중 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 최영진 대한민국 서울특별시 강남구
3 유재우 대한민국 경기도 용인시 처인구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다울 대한민국 서울 강남구 봉은사로 ***, ***호(역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 명지대학교 산학협력단 경기도 용인시 처인구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0466927-18
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.11.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.12.16 수리 (Accepted) 9-1-2010-0077964-51
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.05.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0254262-09
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.07.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0532431-15
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.07.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0532432-61
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2011.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0770396-77
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.01.02 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-0001734-79
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2012-0001735-14
10 등록결정서
Decision to grant
2012.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0173862-95
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2019-5194058-21
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.20 수리 (Accepted) 4-1-2020-5014795-00
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번호 청구항
1 1
광학적 방법을 이용한 주사탐침 현미경으로서,시료 고정부 하부에 설치되는 자기장 발생기; 및시료 상부에 위치되는 코일이 형성된 캔틸레버 검출기를 포함하고,상기 캔틸레버의 말단부에는 자성물질이 코팅된 탐침이 형성되며,시료의 측정시 되먹임 회로를 사용하여 시료와 상기 캔틸레버 검출기의 탐침간의 거리를 일정하게 유지하면서 캔틸레버 검출기의 움직임에 따라 발생되는 에디 전류에 의한 자기장 변화를 측정하여 시료의 이미지를 고속 스캐닝하는 것을 특징으로 하는 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 주사탐침 현미경이 접촉식 또는 비접촉식 현미경인 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
3 3
청구항 1에 있어서,상기 코일이 형성된 캔틸레버 검출기는 절연체의 상면 및 하면에 금속층이 코팅되어 형성되며, 캔틸레버 지지대 및 코일이 형성된 캔틸레버로 구성되는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
4 4
청구항 3에 있어서,상기 금속층은 금, 은, 알루미늄 및 구리로 이루어진 군으로부터 선택된 금속을 절연체 상에 코팅하여 형성되는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
5 5
청구항 3에 있어서,상기 캔틸레버 검출기의 제조시 캔틸레버는 3 내지 5 ㎛ 두께의 절연체 및 상기 절연체의 상면 및 하면에 코팅되는 50 내지 300 nm 두께의 금속층으로 형성되는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
6 6
청구항 3에 있어서,상기 절연체는 실리콘 산화막 계열, 실리콘 질화막 및 도핑되지 않은 실리콘으로 이루어진 군으로부터 선택되는 물질로 형성된 것임을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
7 7
청구항 3에 있어서,상기 캔틸레버는 캔틸레버 상부에 2차원 코일 또는 적층형태의 코일이 형성되어 제조된 것임을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
8 8
청구항 7에 있어서,상기 코일은 금, 은, 알루미늄 및 구리로 이루어진 군으로부터 선택되는 금속을 사용하여 형성된 코일인 것임을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
9 9
삭제
10 10
청구항 1에 있어서,상기 자성물질이 코발트, 니켈 및 철로 이루어진 군으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
11 11
청구항 1에 있어서,상기 자기장 발생기가 영구 자석 또는 전자석인 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
12 12
청구항 1에 있어서,상기 자기장 발생기는 캔틸레버의 휨 정도에 따라 각도가 변화되는 것을 특징으로 하는 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
13 13
청구항 1에 있어서,상기 고속 주사탐침 현미경을 사용한 시료의 이미지의 고속 스캐닝시 검출 신호의 잡음을 줄일 수 있는 락인 증폭기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
14 14
청구항 13에 있어서,상기 락인 증폭기가 캔틸레버 검출기와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는, 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경
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1 지식경제부 명지대 전략기술인력양성사업 나노기반 공정 및 측정분석 전문인력 양성사업