[KST2015074420][한국전자통신연구원] |
반도체회로시험지그온도측정장치 |
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[KST2014040647][세종대학교] |
반도체 장치의 고장 진단시스템 및 방법 |
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[KST2015145934][한국전자기술연구원] |
다채널 서미스터 내전압 및 저항 자동 측정 시스템 |
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[KST2014061984][광주과학기술원] |
물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치 및 방법 |
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[KST2015157711][인하대학교] |
발광소자의 광학적 특성을 측정하기 위한 광전지장치 |
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[KST2015203845][공주대학교] |
세라믹칩 성능검사기 |
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[KST2014019427][한국생산기술연구원] |
광학 검사용 광/전기 프루브 및 그 장치 |
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[KST2014035295][한국표준과학연구원] |
열전소자의 열전성능지수 평가방법 |
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[KST2014040226][연세대학교] |
위상지연신호생성기, 이를 포함하는 칩테스트용 장비 및 위상지연신호생성방법 |
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[KST2015061009][한국생산기술연구원] |
프루브 어레이를 이용한 전기광학 검사장치 |
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[KST2015125219][연세대학교] |
크로스토크 테스트 방법 및 장치 |
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[KST2015200535][한국광기술원] |
발광다이오드의 수명 및 신뢰성 평가시스템 |
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[KST2015205674][호서대학교] |
큐에프엔 반도체 패키지의 외형 결함 검사를 위한 비전 시스템 및 이를 이용한 결함 분류 방법 |
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[KST2014033956][한국철도기술연구원] |
철도차량 전력소자용 예방 진단장치 및 방법 |
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[KST2014040364][한양대학교 에리카캠퍼스] |
반도체 소자의 테스트 방법 및 이를 위한 노이즈 발생 방법 |
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[KST2015198394][금오공과대학교] |
솔라셀 등급향상을 위한 효율적 제조에 관한 공정관리방법 |
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[KST2015223268][한국조명연구원] |
다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치 및 그의 제어방법 |
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[KST2015179419][한국표준과학연구원] |
열악환경에 따른 전구체 상태 진단장치 및 진단방법 |
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[KST2015223539][] |
커넥터 유닛 |
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[KST2015223035][용인송담대학교] |
실시간으로 반도체 소자의 불량 여부를 검사할 수 있는고온 역바이어스 테스트 장비 |
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[KST2015205424][한국기술교육대학교] |
두개의 반송 테이블을 이용한 워크반송시스템 |
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[KST2015132290][고려대학교] |
검사용 온도조절장치 |
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[KST2015203006][] |
고속 신호 전송용 번인 테스트 장치와 그를 위한 번인보드 및 번인보드의 고속 신호 전송 방법 |
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[KST2015222962][한국기계전기전자시험연구원] |
발광다이오드 패키지 환경시험용 인쇄 회로기판 지그 |
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[KST2014036710][한국전자기술연구원] |
반도체 장치 테스트 시스템 및 그 시스템에 포함되는 전류 합산 장치 |
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[KST2014061987][광주과학기술원] |
레이저 유도 붕괴 분광법을 이용한 CIGS 박막 내 물질 분포의 실시간 측정 장치가 구비된 CIGS 박막 태양전지 제조 공정 시스템 |
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[KST2015082436][한국전자통신연구원] |
내전력 시험 시스템 및 그 방법 |
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[KST2015160310][서울대학교] |
일렉트로마이그레이션 평가 장치 |
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[KST2015200543][한국광기술원] |
발광 다이오드 검사 장치 및 방법 |
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[KST2015127829][연세대학교] |
태양광 발전시스템의 고장 진단 장치 및 고장 진단 방법 |
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