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비선형 평가 시스템 및 장치

기술번호 : KST2014039996
담당센터 : 서울서부기술혁신센터
전화번호 : 02-6124-6930

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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약	본 발명은 초음파의 비선형 성분을 이용하는 비선형 평가 시스템 및 장치에 관한 것이다. 상기 비선형 평가 장치는 피검사체로 제 1 초음파를 입사시키는 초음파 진행부, 상기 초음파 진행부에 연결되며 상기 제 1 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력시키는 제 1 탐촉자, 및 상기 제 1 탐촉자와 분리된 상태로 상기 초음파 진행부에 연결된 제 2 탐촉자를 포함한다. 여기서, 상기 초음파 진행부는 상기 제 1 탐촉자로부터 출력된 제 1 초음파를 반사 및 투과시킨다.
Int. CL	G01N 29/12 (2006.01.01) G01N 29/34 (2006.01.01) G01N 29/24 (2006.01.01) G01N 29/28 (2006.01.01) G01B 17/04 (2006.01.01) G01N 29/48 (2006.01.01)
CPC	G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01) G01N 29/12(2013.01)
출원번호/일자	1020100093203 (2010.09.27)
출원인	한양대학교 산학협력단
등록번호/일자	10-1191364-0000 (2012.10.09)
공개번호/일자	10-2012-0031674 (2012.04.04) 문서열기
공고번호/일자	(20121015) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태	소멸
심사진행상태	수리
심판사항
구분	신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자	Y (2010.09.27)
심사청구항수	15

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호	이름	국적	주소
1	한양대학교 산학협력단	대한민국	서울특별시 성동구

발명자

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번호	이름	국적	주소
1	장경영	대한민국	서울특별시 성동구
2	김정석	대한민국	서울특별시 동작구
3	이태훈	대한민국	서울특별시 성동구

대리인

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번호	이름	국적	주소
1	최관락	대한민국	서울특별시 강남구 강남대로길 (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2	송인호	대한민국	서울특별시 강남구 강남대로길 (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3	민영준	대한민국	서울특별시 강남구 남부순환로 ***, 층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호	이름	국적	주소
1	한양대학교 산학협력단		서울특별시 성동구

번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application	2010.09.27	수리 (Accepted)	1-1-2010-0619030-48
2	선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search	2011.09.09	수리 (Accepted)	9-1-9999-9999999-89
3	선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search	2011.10.17	수리 (Accepted)	9-1-2011-0081600-32
4	의견제출통지서 Notification of reason for refusal	2012.02.03	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0068597-59
5	[명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment	2012.04.03	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2012-0266711-11
6	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)	2012.04.03	수리 (Accepted)	1-1-2012-0266674-19
7	의견제출통지서 Notification of reason for refusal	2012.04.25	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0241618-90
8	[명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment	2012.04.26	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2012-0334142-71
9	등록결정서 Decision to grant	2012.05.04	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0264215-87
10	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2014.06.05	수리 (Accepted)	4-1-2014-5068294-39
11	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2015.02.16	수리 (Accepted)	4-1-2015-5022074-70
12	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2019.08.05	수리 (Accepted)	4-1-2019-5155816-75
13	출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information	2019.08.06	수리 (Accepted)	4-1-2019-5156285-09

번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호	청구항
1	1 피검사체로 제 1 초음파를 입사시키는 초음파 진행부;상기 초음파 진행부에 연결되며, 상기 제 1 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력시키는 제 1 탐촉자; 및상기 제 1 탐촉자와 분리된 상태로 상기 초음파 진행부에 연결된 제 2 탐촉자를 포함하되,상기 초음파 진행부는 상기 제 1 탐촉자로부터 출력된 제 1 초음파를 반사 및 투과시키는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
2	2 제1항에 있어서, 상기 초음파 진행부는 빔 스플리터이고, 상기 제 2 탐촉자의 중심축은 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파의 빔 축과 일치하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
3	3 제1항에 있어서, 상기 비선형 평가 장치는,상기 제 1 초음파로부터 상기 제 1 초음파 진행부로 출력된 제 1 초음파 중 투과된 초음파를 제거하는 흡음부; 및상기 초음파 진행부와 상기 피검사체 사이의 임피던스를 정합시키는 임피던스 정합부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
4	4 제1항에 있어서, 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파는 상기 제 2 탐촉자로 입사되고, 상기 제 2 탐촉자는 상기 피검사체로부터 반사되어 입사된 제 1 초음파를 초음파 신호로 변환하여 상기 비선형 평가 장치와 전기적으로 연결된 신호 처리부로 전송하며, 상기 신호 처리부는 상기 초음파 신호에서 기본파 및 조화파를 분리시키고 상기 기본파와 상기 조화파를 분석하여 상기 피검사체의 결함을 검출하되,상기 조화파는 고조파 및 분조파를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
5	5 제1항에 있어서, 상기 제 2 탐촉자의 주파수는 상기 제 1 탐촉자의 주파수와 다르며, 상기 제 2 탐촉자는 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파 중 조화파의 주파수에 해당하는 중심 주파수를 가지는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
6	6 제1항에 있어서, 상기 제 2 탐촉자는 제 2 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력하되,상기 제 2 초음파의 주파수는 상기 제 1 초음파의 주파수와 다른 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
7	7 피검사체로 제 1 초음파를 입사시키는 초음파 진행부;상기 초음파 진행부에 연결되며, 상기 제 1 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력시키는 제 1 탐촉자; 및상기 제 1 탐촉자와 분리된 상태로 상기 초음파 진행부에 연결된 제 2 탐촉자를 포함하되,상기 제 2 탐촉자의 중심축은 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파의 빔 축과 일치하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
8	8 제7항에 있어서, 상기 초음파 진행부는 빔 스플리터로서 상기 제 1 탐촉자로부터 출력된 제 1 초음파를 반사 및 투과시키되,상기 빔 스플리터의 반사율과 투과율은 1 : 1인 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
9	9 제7항에 있어서, 상기 비선형 평가 장치는,상기 제 1 초음파로부터 상기 제 1 초음파 진행부로 출력된 제 1 초음파 중 투과된 초음파를 제거하는 흡음부; 및상기 초음파 진행부와 상기 피검사체 사이의 임피던스를 정합시키는 임피던스 정합부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
10	10 제7항에 있어서, 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파는 상기 제 2 탐촉자로 입사되고, 상기 제 2 탐촉자는 상기 피검사체로부터 반사되어 입사된 제 1 초음파를 초음파 신호로 변환하여 상기 초음파 평가 장치와 전기적으로 연결된 신호 처리부로 전송하며, 상기 신호 처리부는 상기 초음파 신호에서 기본파 및 조화파를 분리시키고 상기 기본파와 상기 조화파를 분석하여 상기 피검사체의 결함을 검출하되,상기 조화파는 고조파 및 분조파를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
11	11 제7항에 있어서, 상기 제 2 탐촉자의 주파수는 상기 제 1 탐촉자의 주파수와 다르며, 상기 제 2 탐촉자는 상기 피검사체로부터 반사된 제 1 초음파 중 조화파에 해당하는 중심 주파수를 가지는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
12	12 제7항에 있어서, 상기 제 2 탐촉자는 제 2 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력하되,상기 제 2 초음파의 주파수는 상기 제 1 초음파의 주파수와 다른 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
13	13 피검사체로 초음파를 입사시키는 초음파 진행부;상기 초음파 진행부에 연결되며, 상기 입사된 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력시키는 제 1 탐촉자; 및상기 제 1 탐촉자와 분리된 상태로 상기 초음파 진행부에 연결된 제 2 탐촉자를 포함하되,상기 피검사체로 입사된 초음파는 상기 피검사체에서 반사되어 상기 제 2 탐촉자로 입사되고, 상기 제 2 탐촉자는 상기 피검사체에서 반사되어 상기 제 2 탐촉자로 입사된 초음파 중 조화파에 해당하는 중심 주파수를 가지며, 상기 조화파는 고조파와 분조파 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
14	14 제13항에 있어서, 상기 초음파 진행부는 빔 스플리터이고, 상기 탐촉자들의 주파수들은 서로 다른 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치
15	15 제13항에 있어서, 상기 제 2 탐촉자의 중심축은 상기 피검사체에서 반사되어 상기 제 2 탐촉자로 입사되는 초음파의 빔 축과 일치하는 것을 특징으로 하는 비선형 평가 시스템에 사용되는 비선형 평가 장치

순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번	연구부처	주관기관	연구사업	연구과제
1	교육과학기술부	한양대학교 산학협력단	원자력연구개발사업(방사선기술개발사업)	극미세 재료손상진단을 위한 비선형초음파기술 개발

본 등록정보는 참고용으로 법적증빙자료로 사용할 수 없습니다.
데이터 이관에 따른 소요기간(1일)으로 인하여 등록원부와 일부 차이가 발생할 수 있으며, 일부 정보(부기, 상세 주소 등)를 제공하지 않고 있습니다.
법적증빙자료로 활용하시거나 더 자세한 정보를 보시려면 등록원부를 발급받아 사용하시기 바랍니다.

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특허 등록번호	10-1191364-0000

권리란

표시번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 권리란 표입니다.
표시번호	사항
1	출원 연월일 : 20100927 출원 번호 : 1020100093203 공고 연월일 : 20121015 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120504 청구범위의 항수 : 15 유별 : G01N 29/04 발명의 명칭 : 비선형 평가 시스템 및 장치 존속기간(예정)만료일 :

특허권자란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 특허권자란 표입니다.
순위번호	사항
1	(권리자) 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구...

등록료란

순위번호, 사항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 등록사항 > 등록료란 표입니다.
제 1 - 3 년분	금 액	409,500 원	2012년 10월 10일	납입
제 4 년분	금 액	259,000 원	2015년 10월 01일	납입
제 5 년분	금 액	259,000 원	2016년 10월 04일	납입
제 6 년분	금 액	259,000 원	2017년 09월 26일	납입
제 7 년분	금 액	335,000 원	2018년 10월 08일	납입
제 8 년분	금 액	335,000 원	2019년 09월 05일	납입

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정확한 서류를 확인하시려면 해당 웹사이트에서 조회하시기 바랍니다. (특허로 바로가기: http://www.patent.go.kr)
해당 서비스는 점검으로 인해 매주 일요일 00:00 ~ 02:00까지 이용이 중단됩니다.

번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송번호의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 통합행정정보 > 등록료란 표입니다.
번호	서류명	접수/발송일자	처리상태	접수/발송번호
1	[특허출원]특허출원서	2010.09.27	수리 (Accepted)	1-1-2010-0619030-48
2	선행기술조사의뢰서	2011.09.09	수리 (Accepted)	9-1-9999-9999999-89
3	선행기술조사보고서	2011.10.17	수리 (Accepted)	9-1-2011-0081600-32
4	의견제출통지서	2012.02.03	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0068597-59
5	[명세서등 보정]보정서	2012.04.03	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2012-0266711-11
6	[거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서	2012.04.03	수리 (Accepted)	1-1-2012-0266674-19
7	의견제출통지서	2012.04.25	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0241618-90
8	[명세서등 보정]보정서	2012.04.26	보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment)	1-1-2012-0334142-71
9	등록결정서	2012.05.04	발송처리완료 (Completion of Transmission)	9-5-2012-0264215-87
10	출원인정보변경(경정)신고서	2014.06.05	수리 (Accepted)	4-1-2014-5068294-39
11	출원인정보변경(경정)신고서	2015.02.16	수리 (Accepted)	4-1-2015-5022074-70
12	출원인정보변경(경정)신고서	2019.08.05	수리 (Accepted)	4-1-2019-5155816-75
13	출원인정보변경(경정)신고서	2019.08.06	수리 (Accepted)	4-1-2019-5156285-09


기술번호	KST2014039996
자료제공기관	NTB
기술공급기관	한양대학교
기술명	비선형 평가 시스템 및 장치
기술개요	본 발명은 초음파의 비선형 성분을 이용하는 비선형 평가 시스템 및 장치에 관한 것이다. 상기 비선형 평가 장치는 피검사체로 제 1 초음파를 입사시키는 초음파 진행부, 상기 초음파 진행부에 연결되며 상기 제 1 초음파를 상기 초음파 진행부로 출력시키는 제 1 탐촉자, 및 상기 제 1 탐촉자와 분리된 상태로 상기 초음파 진행부에 연결된 제 2 탐촉자를 포함한다. 여기서, 상기 초음파 진행부는 상기 제 1 탐촉자로부터 출력된 제 1 초음파를 반사 및 투과시킨다.
개발상태	기술개발진행중
기술의 우수성
응용분야	비파괴 검사
시장규모 및 동향
희망거래유형	기술매매,
사업화적용실적
도입시고려사항


과제고유번호	1345174710
세부과제번호	2008-2003505
연구과제명	극미세 재료손상진단을 위한 비선형초음파기술 개발
성과구분	등록
부처명	교육과학기술부
연구관리전문기관명
연구주관기관명
성과제출연도	2012
연구기간	200807~201306
기여율	1
연구개발단계명	기초연구
6T분류명	기타


과제고유번호	1345118909
세부과제번호	2008-2003505
연구과제명	극미세 재료손상진단을 위한 비선형초음파기술 개발
성과구분	출원
부처명	교육과학기술부
연구관리전문기관명	한국연구재단
연구주관기관명	한양대학교 산학협력단
성과제출연도	2010
연구기간	200807~201305
기여율	1
연구개발단계명	기초연구
6T분류명	기타

특허성과

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[1020100093203]	비선형 평가 시스템 및 장치	새창보기

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