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광학 창 및 가스 분석기 오염 방지를 위한 전기 라디칼 수집 장치

  • 기술번호 : KST2014040124
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전하를 가진 입자를 포집하여 광학 창 또는 계측기로 유입되는 기체의 오염을 방지하기 위한 장치에 관한 것으로서, 자세하게는 동심원 모양의 구멍이 가운데 형성되며 서로 겹쳐지도록 교대로 배열된 다수의 양극판과 음극판으로 구성되며, 상기 구멍을 통과하는 하전입자를 포집하여 광학 신호 또는 분석 기체의 오염을 방지하는 하전입자 수집장치에 대한 것이다.
Int. CL H01J 37/244 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC H01J 49/044(2013.01) H01J 49/044(2013.01) H01J 49/044(2013.01) H01J 49/044(2013.01) H01J 49/044(2013.01) H01J 49/044(2013.01)
출원번호/일자 1020100112508 (2010.11.12)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1176742-0000 (2012.08.17)
공개번호/일자 10-2012-0051197 (2012.05.22) 문서열기
공고번호/일자 (20120823) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.11.12)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한재원 대한민국 서울특별시 종로구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유)화우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로***길 **, *층 (대치동, 삼호빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0738971-99
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2011.09.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0753335-13
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0762835-87
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2012-0045324-83
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.01.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0045325-28
7 등록결정서
Decision to grant
2012.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0378834-13
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
동심원 모양의 구멍이 가운데 형성되며 서로 겹쳐지도록 교대로 배열된 다수의 양극판과 음극판으로 구성되며, 상기 구멍을 통과하는 하전입자를 포집하며, 상기 양극판과 음극판 사이가 부도체로 절연되는 것을 특징으로 하는 광학 신호 또는 분석 기체의 오염 방지 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 부도체 표면이 하전입자에 의해 오염되어 양극판과 음극판이 서로 통전되는 것을 막기 위하여, 상기 부도체가 i) 양극판과 음극판 사이에 삽입되는 절연부, ⅱ) 양극판 및 음극판과 일정한 간격을 두고 이격되도록 형성된 오염 방지부, 및 ⅲ) 상기 절연부와 오염 방지부를 연결하는 연결부로 이루어진 것을 특징으로 하는 광학 신호 또는 분석 기체의 오염 방지 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 양극판과 음극판이 외부 몸체와 부도체로 절연되어 있는 것을 특징으로 하는 광학 신호 또는 분석 기체의 오염 방지 장치
5 5
i) 동심원 모양의 구멍이 가운데 형성되며 서로 겹쳐지도록 교대로 배열된 다수의 양극판과 음극판으로 구성되며, 상기 구멍을 통과하는 하전입자를 포집하는 광학 신호의 오염 방지 장치,ⅱ) 상기 오염 방지 장치를 통과한 광신호가 유입되는 수광렌즈, 상기 수광렌즈를 통과한 광신호의 상이 맺히는 핀홀, 상기 핀홀과 수광렌즈 사이에 설치되어 수광 각도를 정하는 개구, 상기 핀홀을 통과한 광신호를 전달하는 전달광학계로 이루어진 광학계 몸체, ⅲ) 상기 광학계 몸체를 통과한 광신호를 분석기로 전달하는 광파이버, 및 ⅳ) 상기 광파이버를 통해 수집된 광신호를 분석하는 분광분석기를 포함하는 발광분광계
6 6
제5항에 있어서, 상기 오염 방지 장치의 양극판과 음극판 사이가 부도체로 절연되는 것을 특징으로 하는 발광분광계
7 7
제6항에 있어서, 부도체 표면이 하전입자에 의해 오염되어 양극판과 음극판이 서로 통전되는 것을 막기 위하여, 상기 부도체가 i) 양극판과 음극판 사이에 삽입되는 절연부, ⅱ) 양극판 및 음극판과 일정한 간격을 두고 이격되도록 형성된 오염 방지부, 및 ⅲ) 상기 절연부와 오염 방지부를 연결하는 연결부로 이루어진 것을 특징으로 하는 발광분광계
8 8
제5항에 있어서, 상기 양극판과 음극판이 외부 몸체와 부도체로 절연되어 있는 것을 특징으로 하는 발광분광계
9 9
제5항에 있어서, 상기 오염 방지 장치를 구성하는 양극판과 음극판에 형성되는 내부 동심원의 크기가 광의 수광 각도에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 발광분광계
10 10
제5항에 있어서, 빛의 산란을 방지하기 위하여 상기 양극판과 음극판이 전도성 물질로 흑색 도색 또는 흑염 처리되는 것을 특징으로 하는 발광분광계
11 11
제5항에 있어서, 수광렌즈의 오염을 막기 위하여, 상기 오염 방지 장치에 수광렌즈 전면부에 위치하는 보호창이 별도로 형성되는 것을 특징으로 하는 발광분광계
12 12
제5항에 있어서, 상기 광파이버에 연결되는 레이저 장치를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 발광분광계
13 13
제12항에 있어서, 상기 레이저 장치로부터 방출되는 레이저 광이 집속되는 위치와 측정 대상의 위치를 일치시킴으로써 측정 위치와 렌즈들을 정렬하는 것을 특징으로 하는 발광분광계
14 14
i) 동심원 모양의 구멍이 가운데 형성되며 서로 겹쳐지도록 교대로 배열된 다수의 양극판과 음극판으로 구성되며, 상기 구멍을 통과하는 하전입자를 포집하는 분석 시료의 오염 방지 장치,ⅱ) 상기 분석 시료를 이온화시켜 가속화시키는 이온화 장치, ⅲ) 상기 가속화된 이온을 질량에 따라 분리하는 분리 장치, 및 ⅳ) 상기 분리된 이온을 검출 측정하는 검출 장치를 포함하며, 상기 양극판과 음극판 사이가 부도체로 절연되는 것을 특징으로 하는 질량 분석기
15 15
삭제
16 16
제14항에 있어서, 부도체 표면이 하전입자에 의해 오염되어 양극판과 음극판이 서로 통전되는 것을 막기 위하여, 상기 부도체가 i) 양극판과 음극판 사이에 삽입되는 절연부, ⅱ) 양극판 및 음극판과 일정한 간격을 두고 이격되도록 형성된 오염 방지부, 및 ⅲ) 상기 절연부와 오염 방지부를 연결하는 연결부로 이루어진 것을 특징으로 하는 질량 분석기
17 17
제14항에 있어서, 상기 양극판과 음극판이 외부 몸체와 부도체로 절연되어 있는 것을 특징으로 하는 질량 분석기
지정국 정보가 없습니다
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2 US09025143 US 미국 FAMILY
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4 US20120120395 US 미국 FAMILY
5 US20150211924 US 미국 FAMILY

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