맞춤기술찾기

이전대상기술

반도체 장치의 고장 진단시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2014040647
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 반도체 장치의 고장 진단시스템은 반도체 장치의 각 부품에 대한 센서정보를 실시간으로 수집하는 센서정보 수집부와, 상기 수집된 센서 정보로부터 각 부품에 대한 감시 모델을 형성하여 예측 센서정보를 수집하고, 수집된 예측 센서정보의 고장믿음치를 출력하는 부품신호 감시부와, 상기 부품신호 감시부로부터 얻어진 고장 믿음치를 바탕으로 고장여부를 판단하는 고장판단부를 포함한다.상기와 같은 발명은 전산지능 시스템을 사용하여 실시간으로 반도체 장치의 구성을 이루는 각 부품의 고장을 진단 및 고장의 원인을 찾아냄으로써, 장비생산성, 공정 수율, 그리고 공정의 질을 높일 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01L 21/66 (2014.01) G01R 31/26 (2014.01) G01R 31/3193 (2014.01)
CPC G01R 31/317(2013.01) G01R 31/317(2013.01) G01R 31/317(2013.01)
출원번호/일자 1020100010777 (2010.02.05)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1137318-0000 (2012.04.10)
공개번호/일자 10-2011-0091111 (2011.08.11) 문서열기
공고번호/일자 (20120419) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.02.05)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김병환 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 신세기 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로 ***길 **

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 서울특별시 광진구 능동로 *** (군
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0079353-68
2 보정요구서
Request for Amendment
2010.02.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0015412-79
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0171328-63
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2011-5073277-77
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.05.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0042379-87
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.06.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0342616-55
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.08.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0648157-41
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0740493-14
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0740492-68
11 등록결정서
Decision to grant
2012.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0183603-66
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 장치의 각 부품에 대한 센서정보를 실시간으로 수집하는 센서정보 수집부;상기 수집된 센서 정보로부터 각 부품에 대한 감시 모델을 형성하여 예측 센서정보를 수집하고, 수집된 예측 센서정보의 고장믿음치를 출력하는 부품신호 감시부; 및 상기 부품신호 감시부로부터 얻어진 고장 믿음치를 바탕으로 고장여부를 판단하는 고장판단부를 포함하고,상기 부품신호 감시부는 예측 센서정보와 평균치 간의 차이의 절대값에 의해 부품센서 정보를 누적하고, 누적된 부품 센서정보를 고장믿음 함수에 적용하는 제2 고장믿음 발생기를 포함하는 반도체 장치의 고장 진단시스템
2 2
청구항 1에 있어서,상기 감시 모델은 자기 부품의 센서정보를 입력 데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하는 자기상관 모델이고, 상기 자기상관 모델은 부품의 개수와 동일하게 형성되는 반도체 장치의 고장 진단시스템
3 3
청구항 1에 있어서,상기 감시 모델은 자기 부품의 센서정보 이외의 신호를 입력 데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하는 교차상관 모델인 반도체 장치의 고장 진단시스템
4 4
청구항 1에 있어서,상기 감시 모델은 자기 부품의 센서정보와 자기 부품 이외의 센서정보를 입력 데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하는 자기-교차상관 모델인 반도체 장치의 고장 진단시스템
5 5
청구항 1에 있어서,상기 감시 모델은 각 부품에 대한 통계적 모델 또는 통계적 시계열 모델인 반도체 장치의 고장 진단시스템
6 6
청구항 1에 있어서,상기 부품신호 감시부는 CUSUM 제어차트에 의해 부품 센서정보를 누적하고, 누적된 부품 센서정보를 고장믿음 함수에 적용하는 제1 고장믿음 발생기를 더 포함하는 반도체 장치의 고장 진단시스템
7 7
반도체 장치의 각 부품에 대한 센서정보를 실시간으로 수집하는 단계;감시 모델을 형성하여 예측 센서정보를 수집하는 단계; 상기 예측 센서정보로부터 고장 믿음치를 출력하는 단계; 및 상기 출력된 고장 믿음치를 임계값과 비교하여 부품의 고장여부를 판단하는 단계를 포함하고,상기 고장 믿음치는 예측 센서정보와 평균치 간의 차이의 절대값에 의해 부품센서 정보를 누적하고, 누적된 부품 센서정보를 고장믿음 함수에 적용하여 출력하는 반도체 장치의 고장 진단방법
8 8
청구항 7에 있어서,상기 감시 모델은 자기 부품의 센서정보를 입력데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하거나 자기 부품의 센서정보 이외의 신호를 입력 데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하거나 자기 부품의 센서정보와 자기 부품 이외의 신호를 입력 데이터로 하여 자기 부품의 예측 센서정보를 출력하는 반도체 장치의 고장 진단방법
9 9
청구항 7에 있어서,상기 고장 믿음치는 예측 센서정보를 CUSUM 제어차트에 적용하여 누적한 후 고장믿음 함수에 적용하여 구해지는 단계를 더 포함하는 반도체 장치의 고장 진단방법
10 10
청구항 7에 있어서,상기 반도체 장치의 각 부품에 대한 센서정보의 수집이 완료되면 임의의 시점에서의 전체 부품에 대한 센서 정보를 감시 모델을 사용하여 RMSE를 구하고, 구해진 RMSE로부터 고장을 판단하는 반도체 장치의 고장 진단방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.