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탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014041097
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 장치 및 방법이 개시된다. 광원부는 일단에 팁이 결합된 캔틸레버의 반사면에 빛을 조사한다. 구동부는 팁과 캔틸레버가 결합된 탐침의 하부에 위치하는 시료의 표면을 향해 탐침을 하강시켜 팁을 시료의 표면에 접근시킨다. 조도 측정부는 광원부로부터 조사된 빛이 시료의 표면에 의해 반사된 반사광을 수집하여 조도를 측정한다. 제어부는 탐침이 구동부에 의해 시료의 표면을 향해 하강하는 동안 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 최대값에 도달한 후 감소하는 구간에 설정된 제1지점까지 구동부가 사전에 설정된 제1속도로 탐침을 하강시키도록 제어하고, 탐침이 제1지점에 도달하면 구동부가 사전에 설정된 제2속도로 탐침을 하강시키도록 제어하고, 팁과 시료의 표면 사이에 작용하는 반 데르 발스 힘이 검출되면 구동부가 사전에 설정된 제3속도로 사전에 설정된 제2지점까지 탐침을 하강시키도록 제어한다. 본 발명에 따르면, 팁과 캔틸레버가 결합된 탐침을 하강시키는 구동부의 동작을 기존의 코어스 동작 단계 및 미세 동작 단계의 두 단계로 구분하는 대신 시료 표면으로부터 측정된 조도값 및 탐침의 변위 정보에 따라 네 단계로 구분하여 탐침의 어프로치 동작이 빠르게 수행되도록 한다. 시료 표면 검사, 탐침 어프로치, 조도값
Int. CL G01Q 20/02 (2010.01.01) G01Q 10/06 (2010.01.01) G01Q 60/42 (2010.01.01) G03F 9/00 (2006.01.01)
CPC G01Q 20/02(2013.01) G01Q 20/02(2013.01) G01Q 20/02(2013.01) G01Q 20/02(2013.01)
출원번호/일자 1020090073464 (2009.08.10)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1031835-0000 (2011.04.21)
공개번호/일자 10-2011-0020321 (2011.03.03) 문서열기
공고번호/일자 (20110502) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.08.10)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이해원 대한민국 서울특별시 광진구
2 정정주 대한민국 서울특별시 강남구
3 한철수 대한민국 경기도 수원시 팔달구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송경근 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 ** (방배동) 기산빌딩 *층(엠앤케이홀딩스주식회사)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.08.10 수리 (Accepted) 1-1-2009-0487504-56
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0009286-10
4 등록결정서
Decision to grant
2011.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0207612-95
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
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번호 청구항
1 1
일단에 팁이 결합된 캔틸레버의 반사면에 빛을 조사하는 광원부; 상기 팁과 상기 캔틸레버가 결합된 탐침의 하부에 위치하는 시료의 표면을 향해 상기 탐침을 하강시켜 상기 팁을 상기 시료의 표면에 접근시키는 구동부; 상기 광원부로부터 조사된 빛이 상기 시료의 표면에 의해 반사된 반사광을 수집하여 조도를 측정하는 조도 측정부; 및 상기 탐침이 상기 구동부에 의해 상기 시료의 표면을 향해 하강하는 동안 상기 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 최대값에 도달한 후 감소하는 구간에 설정된 제1지점까지 상기 구동부가 사전에 설정된 제1속도로 상기 탐침을 하강시키도록 제어하고, 상기 탐침이 상기 제1지점에 도달하면 상기 구동부가 사전에 설정된 제2속도로 상기 탐침을 하강시키도록 제어하고, 상기 팁과 상기 시료의 표면 사이에 작용하는 반 데르 발스 힘이 검출되면 상기 구동부가 사전에 설정된 제3속도로 사전에 설정된 제2지점까지 상기 탐침을 하강시키도록 제어하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 광원부로부터 조사되어 상기 캔틸레버의 반사면에 도달하는 빛을 광센서에 의해 감지하여 상기 캔틸레버의 변위를 검출하는 위치 검출부를 더 포함하며, 상기 제어부는 상기 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 상기 최대값에 도달한 지점으로부터 상기 제2지점까지의 상기 탐침의 이동 구간에서 상기 위치 검출부로부터 입력받은 변위 정보를 기초로 상기 구동부를 제어하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 조도 측정부는, 상기 반사광을 수집하여 검출영상을 출력하는 촬상부; 및 상기 검출영상에 대한 사전에 설정된 크기의 윈도우 영역으로부터 조도값을 산출하는 조도값 산출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 장치
4 4
제 3항에 있어서, 상기 윈도우 영역의 가로 길이는 상기 검출영상의 가로 길이의 8~20%의 범위에서 결정되는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 장치
5 5
제 3항에 있어서, 상기 조도값 산출부는 상기 윈도우 영역에서 상기 캔틸레버와 중첩되는 영역을 제외한 영역으로부터 조도값을 산출하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
6 6
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1지점은 상기 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 상기 최대값에 도달한 지점으로부터 사전에 설정된 거리만큼 상기 탐침이 하강한 지점인 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
7 7
제 6항에 있어서, 상기 제어부는 상기 구동부의 동작을 검출하여 상기 탐침의 하강 거리를 산출하는 변위 검출 수단으로부터 출력된 거리 정보를 기초로 상기 구동부를 제어하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
8 8
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1지점은 상기 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 상기 최대값의 40~50%에 해당하는 지점인 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
9 9
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 구동부는, 상기 탐침을 상기 제1속도로 하강시키는 제1구동수단; 및 상기 탐침을 상기 제3속도로 하강시키는 제2구동수단;을 포함하며, 상기 제1구동수단과 상기 제2구동수단이 함께 구동되어 상기 탐침을 상기 제2속도로 하강시키는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
10 10
제 9항에 있어서, 상기 제1구동수단은 스텝 모터이며, 상기 제2구동수단은 나노 스캐너인 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
11 11
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 구동부가 상기 제1속도로 상기 탐침을 하강시키는 동안 상기 팁과 상기 시료의 표면 사이에 작용하는 반 데르 발스 힘이 검출되면 상기 구동부가 상기 제3속도로 상기 탐침을 하강시키도록 제어하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
12 12
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원부로부터 조사된 빛이 상기 시료의 표면에 형성하는 빔 스팟(beam spot)의 내부 영역이 상기 캔틸레버의 경계를 포함하도록 하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 장치
13 13
(a) 일단에 팁이 결합된 캔틸레버를 구비하는 탐침이 상기 탐침의 하부에 위치하는 시료의 표면을 향해 하강하는 동안 상기 캔틸레버의 반사면에 빛을 조사하는 광원부로부터 조사된 빛이 상기 시료의 표면에 의해 반사된 반사광을 수집하여 측정된 조도값이 최대값에 도달한 후 감소하는 구간에 설정된 제1지점까지 사전에 설정된 제1속도로 상기 시료의 표면을 향해 상기 탐침을 하강시키는 단계; (b) 상기 탐침이 상기 제1지점에 도달하면 사전에 설정된 제2속도로 상기 탐침을 하강시키는 단계; 및 (c) 상기 팁과 상기 시료의 표면 사이에 작용하는 반 데르 발스 힘이 검출되면 사전에 설정된 제3속도로 사전에 설정된 제2지점까지 상기 탐침을 하강시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
14 14
제 13항에 있어서, 상기 (b)단계에서, 상기 조도값이 상기 최대값에 도달한 지점으로부터 상기 제2지점까지의 상기 캔틸레버의 이동 구간에서 상기 캔틸레버의 표면에 도달하는 빛을 광센서에 의해 감지하여 검출한 상기 캔틸레버의 변위를 기초로 상기 탐침을 하강시키는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
15 15
제 13항에 있어서, 상기 제1지점은 상기 조도 측정부에 의해 측정된 조도값이 상기 최대값에 도달한 지점으로부터 사전에 설정된 거리만큼 상기 탐침이 하강한 지점인 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
16 16
제 13항에 있어서, 상기 제1지점은 상기 조도값이 상기 최대값의 40~50%에 해당하는 지점인 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
17 17
제 13항 내지 제 16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1속도로 상기 탐침을 하강시키는 동안 상기 팁과 상기 시료의 표면 사이에 작용하는 반 데르 발스 힘이 검출되면 상기 제3속도로 상기 탐침을 하강시키는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
18 18
제 13항 내지 제 16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (a) 단계는, (a1) 상기 반사광을 수집하여 검출영상을 출력하는 단계; (a2) 상기 검출영상에 대한 사전에 설정된 크기의 윈도우 영역으로부터 조도값을 산출하는 단계; 및 (a3) 상기 산출된 조도값이 최대값에 도달한 후 상기 제1지점까지 상기 탐침을 하강시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 방법
19 19
제 18항에 있어서, 상기 윈도우 영역의 가로 길이는 상기 검출영상의 가로 길이의 8~20%의 범위에서 결정되는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 자동 어프로치 방법
20 20
제 18항에 있어서, 상기 (a2) 단계에서, 상기 윈도우 영역에서 상기 캔틸레버와 중첩되는 영역을 제외한 영역으로부터 조도값을 측정하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
21 21
제 13항 내지 제 16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원부로부터 조사된 빛이 상기 시료의 표면에 형성하는 빔 스팟(beam spot)의 내부 영역이 상기 캔틸레버의 경계를 포함하도록 하는 것을 특징으로 하는 탐침 표면 검사기의 고속 어프로치 방법
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1 교육과학기술부(과기부) 교육과학기술부(과기부)(테라급나노소자개발사업단(재)) 원천기술개발사업(21세기프론티어연구개발사업) 고해상성 레지스트 및 고속 AFM 리소그래피 전용 기술 개발