맞춤기술찾기

이전대상기술

위치 측정 장치 및 위치 측정 방법

  • 기술번호 : KST2014042120
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위치 측정 장치 및 위치 측정 방법을 제공한다. 이 위치 측정 방법은 증분형 스케일(incremental scale)에서 반사 또는 투과된 광을 상기 증분형 스케일의 한 주기 내에 60도의 위상차를 가지고 감지하여 측정신호를 생성하는 단계, 감지된 측정 신호를 기본 공간 주파수(fundamental spatial frequency)의 1차 정현파 및 3차 정현파의 합으로 표시하는 단계, 및 측정 신호를 이용하여 1차 정현파의 위상을 추출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01D 5/36 (2006.01) G01D 5/347 (2006.01)
CPC G01D 5/2451(2013.01) G01D 5/2451(2013.01) G01D 5/2451(2013.01)
출원번호/일자 1020120062074 (2012.06.11)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1361625-0000 (2014.02.05)
공개번호/일자 10-2013-0138470 (2013.12.19) 문서열기
공고번호/일자 (20140212) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.11)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김종안 대한민국 대전 유성구
2 김재완 대한민국 대전 유성구
3 강주식 대한민국 대전광역시 유성구
4 엄태봉 대한민국 대전 유성구
5 진종한 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이평우 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, IT빌딩 *층)(특허법인 누리)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.06.11 수리 (Accepted) 1-1-2012-0461461-76
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.04.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0046229-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0417765-55
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.08.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0707830-58
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.08.05 수리 (Accepted) 1-1-2013-0707820-02
7 등록결정서
Decision to grant
2013.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0901580-81
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
증분형 스케일(incremental scale)에서 반사 또는 투과된 광을 상기 증분형 스케일의 한 주기 내에 60도의 위상 차이를 갖는 4개의 위치에서 연속적으로 감지하여 측정신호를 생성하는 단계;감지된 측정 신호를 기본 공간 주파수(fundamental spatial frequency)의 1차 정현파 및 3차 정현파의 합으로 표시하는 단계; 및상기 측정 신호를 이용하여 푸리어 변환을 사용하지 않고 1차 정현파의 위상을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
2 2
제1 항에 있어서,감지된 광신호(I1~I4)는 로 표시되고,a, b, c는 상수이고, k는 기본 공간 주파수(fundamental spatial frequency)이고, x는 위치이고, φ는 초기 위상인 위치 측정 방법
3 3
제2 항에 있어서,한 주기 신호 중 4개의 연속된 위치에서 감지된 신호를 연산하여 3차 정현파가 제거된 1차 정현파 신호를 얻고, 이때 구해진 1차 정현파의 위상은 kx+φ 인 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
4 4
증분형 스케일(incremental scale);상기 스케일에서 반사 또는 투과된 광을 상기 증분형 스케일의 한 주기 내에 60도의 위상 차이를 갖는 4개의 위치에서 연속적으로 감지하는 측정 신호를 제공하는 센서 어레이; 및상기 센서 어레이의 감지된 측정 신호를 기본 공간 주파수(fundamental spatial frequency)의 1차 정현파 및 3차 정현파의 합으로 표시하고, 상기 측정 신호를 연산하여 푸리어 변환을 사용하지 않고 1차 정현파의 위상을 추출하는 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.