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길이가 제어된 반도체 나노선의 연속적 제조법

  • 기술번호 : KST2014042134
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 탑-다운 방식으로 반도체 나노와이어를 제조하는 방법에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 반도체 나노와이어의 제조방법은 a) 반도체 기판 상부에 다수개의 관통 공동이 형성된 망형의 금속막을 형성하는 촉매형성단계; b) 상기 금속막을 촉매로 상기 반도체 기판을 습식 에칭하여, 일 단이 반도체 기판에 부착된 다수개의 반도체 나노와이어를 제조하는 부분에칭단계; 및 c) 상기 반도체 나노와이어가 형성된 반도체 기판에 초음파를 인가하여 상기 반도체 나노와이어를 반도체 기판으로부터 절단하고, 반도체 기판으로부터 독립된 반도체 나노와이어 및 금속막이 잔류하는 반도체 기판을 얻는 절단단계;를 포함하는 특징이 있다.
Int. CL B82Y 40/00 (2011.01) B82B 1/00 (2006.01) B82B 3/00 (2006.01)
CPC H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01)
출원번호/일자 1020110039300 (2011.04.27)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1313176-0000 (2013.09.24)
공개번호/일자 10-2012-0121466 (2012.11.06) 문서열기
공고번호/일자 (20130930) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.04.27)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이우 대한민국 대전광역시 유성구
2 김정길 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0311928-22
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.05.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.06.25 수리 (Accepted) 9-1-2012-0052023-63
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0119090-33
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.04.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0305780-45
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.04.09 수리 (Accepted) 1-1-2013-0305796-75
7 등록결정서
Decision to grant
2013.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0583543-20
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 반도체 기판 상부에 다수개의 관통 공동이 형성된 망형의 금속막을 형성하는 촉매형성단계;b) 상기 금속막을 촉매로 상기 반도체 기판을 습식 에칭하여, 일 단이 반도체 기판에 부착된 다수개의 반도체 나노와이어를 제조하는 부분에칭단계; 및c) 상기 반도체 나노와이어가 형성된 반도체 기판을 액상인 매질에 담지하고, 상기 매질을 초음파 전달 매체로 하여, 50 내지 200W의 파워 및 10kHz 내지 100kHz의 주파수로 상기 반도체 기판에 초음파를 인가하여 상기 반도체 나노와이어를 반도체 기판으로부터 절단하고, 하기 관계식 1 및 하기 관계식 2를 만족하는 반도체 기판으로부터 독립된 다수개의 반도체 나노와이어 및 금속막이 잔류하는 반도체 기판을 얻는 절단단계;를 포함하는 반도체 나노와이어의 제조방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 c) 단계 후, 상기 c) 단계에서 얻어진 금속막이 잔류하는 반도체 기판을 이용하여 상기 부분에칭 단계 및 상기 절단단계가 반복적으로 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
3 3
삭제
4 4
제 1항에 있어서,상기 c) 단계의 반도체 나노와이어의 길이는 상기 b) 단계의 상기 습식 에칭이 수행되는 시간에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
5 5
삭제
6 6
제 1항에 있어서,상기 매질은 에탄올을 포함하는 C1~C5의 저가알콜, 탈이온수 및 상기 반도체 기판의 습식 에칭액에서 하나 또는 둘 이상 선택된 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
7 7
제 6항에 있어서,상기 반도체 기판의 습식 에칭액인 상기 매질은 상기 부분에칭단계에 사용된 습식 에칭액인 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
8 8
삭제
9 9
제 1항에 있어서,상기 b) 단계 후 및 상기 c) 단계 전,상기 금속막을 양극으로, 상기 습식에칭의 에칭 용액에 담지된 백금 전극을 음극으로 하여, 상기 금속막에 전압 또는 전류를 인가하여 상기 금속막과 접촉하는 반도체 나노와이어를 양극산화시키는 단계;가 더 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
10 10
제 1항에 있어서,상기 b) 단계는상기 금속막을 촉매로 상기 반도체 기판을 습식 에칭하는 에칭단계; 및상기 금속막을 양극으로, 상기 습식에칭의 에칭 용액에 담지된 백금 전극을 음극으로 하여, 상기 금속막에 전압 또는 전류를 인가하여 상기 금속막과 접촉하는 반도체 나노와이어를 양극산화시키는 산화단계;를 포함하며,상기 에칭단계 및 산화단계를 일 단위공정으로, 상기 단위공정이 적어도 2회 이상 반복 수행되며,상기 산화단계에 의해 기판에 부착된 다수개의 반도체 나노와이어에 형성된 적어도 둘 이상의 다공성 마디가 각각 상기 c) 단계에 의해 절단되는 것을 특징으로 하는 반도체 나노와이어의 제조방법
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 한국표준과학연구원 국가연구개발사업 반도체 공정기반 수직정렬 나노선 열전소자 원천기술개발