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시료의 질량화학 분석을 수행하는 질량 현미경 시스템(100)에 있어서,저분자량 시료 내지 고분자량 시료 모두에 대하여 분석이 가능하도록,상기 시료 상에 레이저빔, 이온빔, 레이저빔 또는 이온빔 중 선택되는 어느 한 가지를 디포커스(defocus)된 상태로 주사하고, 상기 시료의 이미지를 촬영함과 동시에 레이저빔 또는 이온빔이 주사되었을 때 상기 시료에서 발생되는 이차이온을 비행시간 기반(TOF, time-of-flight)으로 위치를 측정하여 검출함으로써, 현미경 모드(microscope mode)로 상기 시료의 질량 이미징 분석을 수행하되,상기 질량 현미경 시스템(100)은, 상기 시료에 주사된 레이저빔 또는 이온빔에 의해 발생되는 이차이온이 원활하게 검출되도록 수집하는 이온 광학부 조립체(ion optics assembly, 50)를 포함하여 이루어지며,상기 이온 광학부 조립체(50)는적어도 하나 이상의 추출기(extractor) 및 적어도 하나의 정전 렌즈(einzel lens)를 포함하여 이루어지는 이온 광학부(51),관형으로 형성되어 상기 이온 광학부(51)와 동축 상에 배치되도록 상기 이온 광학부(51)의 후단에 구비되는 소스 조립체 지지대(source assembly support, 52),판형으로 형성되어 상기 소스 조립체 지지대(52)와 동축 상에 배치되는 마운팅 플레이트(mounting plate, 53),관형으로 형성되어 상기 마운팅 플레이트(53)의 중심부를 관통하여 상기 이온 광학부(51)와 동축 상에 배치되도록 구비되는 접지 전기장 차폐관(54),상기 접지 전기장 차폐관(54)의 후단에 구비되어 상기 이온 광학부(51)에 의하여 수집되고 상기 접지 전기장 차폐관(54)을 통과해 비행해 온 이차이온을 안내하여 통과시키는 이온 게이트(ion gate, 55)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 고분자량 시료는유전자, 단백질, 폴리머 중 선택되는 적어도 어느 한 가지 이상인 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 저분자량 시료는약물, 대사체, 지질, 펩타이드 중 선택되는 적어도 어느 한 가지 이상인 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은레이저빔을 주사할 경우 MALDI-TOF 방식을 사용하여 이차이온의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은이온빔을 주사할 경우 TOF-SIMS 방식을 사용하여 이차이온의 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은상기 시료에서 발생되는 이차이온의 위치 측정을 위하여 지연선 검출기(delay-line detector)를 포함하는 시간 위치 동시 검출기를 사용하는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은상기 시료에서 발생되는 이차이온의 위치 측정 시 선형(linear) 방식 및 리플렉트론(reflectron) 방식을 모두 사용하는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은상기 시료로 레이저빔을 주사하는 레이저 입력부(LASER input, 110);상기 시료로 이온빔을 주사하는 이온건 조립체(ion gun assembly, 120);시료 도입부(131)를 통해 상기 시료가 도입되는 시료 도입 챔버(sample inlet chamber, 130);상기 시료가 배치되는 샘플 플레이트(sample plate, 140);상기 샘플 플레이트(140)의 위치를 조절하는 샘플 플레이트 조작부(sample plate manipulator, 150);상기 시료의 이미지를 촬영하는 CCD 카메라(160);상기 시료로 주사되는 레이저빔 또는 이온빔의 초점을 조절하는 소스 렌즈 조립체(source lens assembly, 170);상기 시료로부터 발생되는 이차 이온의 위치를 측정하는 위치 측정 TOF 검출기;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 8항에 있어서, 상기 위치 측정 TOF 검출기는상기 시료로부터 발생되는 이차 이온의 위치를 선형 방식으로 측정하는 선형 모드 위치 측정 TOF 검출기(linear mode position sensitive TOF detector, 180);상기 시료로부터 발생되는 이차 이온의 위치를 리플렉트론 방식으로 측정하는 리플렉트론 모드 위치 측정 TOF 검출기(reflectron mode position sensitive TOF detector, 190);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 8항에 있어서, 상기 질량 현미경 시스템(100)은상기 위치 측정 TOF 검출기가 상기 이온 광학부 조립체(50)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 이온 광학부 조립체(50)는상기 마운팅 플레이트(53)에 구비된 리플렉트론 지지대(56)에 의하여 지지되며, 상기 이온 게이트(55) 후측에 적어도 하나 이상의 이온 미러(ion mirror)가 적층 배치된 형태로 형성되는 리플렉트론(reflectron, 57)을 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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제 1항에 있어서, 상기 이온 광학부(51)는내부가 빈 관형 몸체로 형성되되, 일측이 원뿔 형태로 형성되어 이차이온이 통과하도록 원뿔의 꼭지점 위치에 축 방향으로 관통되는 통공이 형성되며, 상기 원뿔의 꼭지점 부분이 상기 시료에 근접 배치되는 외측 추출기(outer extractor, 511),내부가 빈 관형 몸체로 형성되되, 일측이 반구 형태로 형성되어 이차이온이 통과하도록 반구의 중심 부분에 축 방향으로 관통되는 통공이 형성되며, 상기 외측 추출기(511)의 내측으로 일부가 삽입되어 상기 외측 추출기(511)와 동축 상에 배치되도록 구비되는 제1내측 추출기(1st inner extractor, 512),이차이온이 통과하도록 중심부에 축 방향으로 관통되는 통공이 형성되는 기둥 형태로 형성되며, 상기 제1내측 추출기(512)와 동축 상에 배치되도록 구비되되, 상기 제1내측 추출기(512)와는 연결되고 상기 외측 추출기(511)와는 절연 스페이서(513)에 의하여 이격되게 형성되는 제2내측 추출기(2nd inner extractor, 514),이차이온이 통과하도록 중심에 통공이 형성되는 판형으로 형성되며, 상기 제2내측 추출기(514) 후측 동축 상에 절연 스페이서(515)에 의하여 이격되게 구비되는 제1접지 전극(516),이차이온이 통과하도록 중심에 통공이 형성되어 상기 제1접지 전극(516)의 후측 동축 상에 이격 구비되는 정전 렌즈(einzel lens, 517),이차이온이 통과하도록 중심에 통공이 형성되는 판형으로 형성되며, 상기 정전 렌즈(517) 후측 동축 상에 이격 구비되는 제2접지 전극(518)을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템
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