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Si 기판상에 버퍼층을 개재하여 ZnO 박막을 형성하는 방법으로, 상기 버퍼층은 MgO, CaO, BaO, SrO, TiN, TaN, ZrN, CrN, NiO, CoO, MnO, TiO, CdO, VO, CsCl, CsBr, CsI 및 Y2O3 중에서 선택된 1종 이상의 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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제 1 항에 있어서,상기 버퍼층과 ZnO 박막은 동일한 증착 방법으로 증착되는 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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제 1 항 있어서,상기 버퍼층은 2층 이상의 다층 구조로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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제 2 항에 있어서,상기 증착 방법은 전자선 증착법, 펄스 레이저 증착법, 스퍼터링 법, 유기화학 증착법 또는 화학 기상 증착법인 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 다층 구조는 MgO, CaO, BaO, SrO, TiN, TaN, ZrN, CrN, NiO, CoO, MnO, TiO, CdO, VO, CsCl, CsBr, CsI, 또는 Y2O3로 이루어진 군에서 선택된 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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제 3 항에 있어서,상기 다층 구조는 3층 구조로 되어 있고, 중앙부에 MgO층이 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 ZnO 박막의 형성 방법
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