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전계 발광 시료 분석 장치

  • 기술번호 : KST2014042962
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전계 발광 시료의 분석 장치로서, 상기 전계 발광 시료에 펄스 구동 신호를 인가하는 펄스 발생기; 상기 펄스 구동 신호가 인가됨에 따라 상기 전계 발광 시료로부터 방출되는 EL(Electroluminescence)을 수광하여 수광 신호를 획득하는 EL 검출기; 상기 전계 발광 시료의 온도를 가변시키기 위한 온도 가변기; 및 상기 전계 발광 시료의 온도 변화에 따른 상기 수광 신호의 지연된 시분할 구간 변화를 분석하여, 상기 전계 발광 시료에 존재하는 결함형 전하 트랩에 관한 정보를 획득하는 ELTS(Electroluminescence Transient Spectroscopy) 분석부를 포함하는 전계 발광 시료 분석 장치가 제공된다.
Int. CL G01N 21/31 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100042633 (2010.05.06)
출원인 동국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1096629-0000 (2011.12.14)
공개번호/일자 10-2011-0123151 (2011.11.14) 문서열기
공고번호/일자 (20111221) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.05.06)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 중구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조훈영 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 이동화 대한민국 서울특별시 중구
3 곽동욱 대한민국 경기도 성남시 분당구
4 최현열 대한민국 경기도 광주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이지 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***(가산동, KCC웰츠밸리) ***-***

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 동국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.05.06 수리 (Accepted) 1-1-2010-0292627-69
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.11.05 수리 (Accepted) 4-1-2010-5206478-99
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2011.07.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0563186-49
4 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2011.07.22 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2011.07.29 수리 (Accepted) 9-1-2011-0063200-61
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.09.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0499311-72
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0831919-74
8 [지정기간단축]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Reduction of Designated Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)		 2011.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0831981-95
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2011.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0635681-07
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2011-0946330-56
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2011.11.29 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0946319-53
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.06 수리 (Accepted) 4-1-2011-5243351-46
13 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2011.12.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0736260-80
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2014-0002002-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.16 수리 (Accepted) 4-1-2019-5163486-33
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전계 발광 시료의 분석 장치로서,상기 전계 발광 시료에 펄스 구동 신호를 인가하는 펄스 발생기;상기 펄스 구동 신호가 인가됨에 따라 상기 전계 발광 시료로부터 방출되는 EL(Electroluminescence)을 수광하여 수광 신호를 획득하는 EL 검출기;상기 전계 발광 시료의 온도를 가변시키기 위한 온도 가변기; 및상기 수광 신호의 지연된 시분할 구간 내의 2개의 시점을 샘플링 시간으로 하여 상기 2개의 샘플링 시점에서의 수광 신호의 차를 산출하고, 상기 온도 변화에 따른 상기 수광 신호의 차의 변화 관계를 이용하여, 상기 전계 발광 시료에 존재하는 결함형 전하 트랩에 관한 정보를 획득하는 ELTS(Electroluminescence Transient Spectroscopy) 분석부를 포함하는 전계 발광 시료 분석 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 펄스 발생기는, 상기 온도 가변기에 의한 상기 전계 발광 시료의 온도 변화 시점에 상응하여 구형파 펄스를 발생시키고,상기 EL 검출기는 상기 구형파 펄스가 인가될 때 상기 전계 발광 시료로부터 상기 인가된 구형파 펄스에 반응하여 방출된 EL을 검출하는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 ELTS 분석부가 획득하는 상기 결함형 전하 트랩에 관한 정보는, 상기 결함형 전하 트랩의 활성화 에너지 준위, 상기 결함형 전하 트랩의 농도, 상기 결함형 전하 트랩의 포획 단면적 중 적어도 하나의 정보인 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 ELTS 분석부는, 임의의 고정 온도에서 획득된 수광 신호의 지연된 시분할 구간을 분석하여 수명(lifetime) 정보를 더 획득하되,상기 수명 정보는, 소수 운반자(minority carrier) 및 상기 결함형 전하 트랩에 대한 정보 중 적어도 하나이며, 지수적으로 변화하는 상기 지연된 시분할 구간의 시상수를 산출함을 통해 획득되는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 전계 발광 시료로부터 방출된 EL에 대한 EL 이미지를 획득하기 위한 촬상 장치; 및상기 EL 이미지에 근거하여 상기 전계 발광 시료의 표면 결함을 분석하는 표면 결함 분석부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 EL의 광경로를 기준으로 상기 촬상 장치의 전면에 마이크로스코프(microscope)가 위치하되,상기 표면 결함 분석부는 상기 촬상 장치로부터 획득된 마이크로 단위의 EL 이미지에 근거하여 상기 전계 발광 시료의 표면 결함을 분석하는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 전계 발광 시료로부터 방출된 EL의 일부가 상기 EL 검출기로 입력되고, 나머지가 상기 마이크로스코프로 입력되도록 광 분기시키는 광 분기기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
8 8
제1항에 있어서,상기 전계 발광 시료로부터 방출된 EL 광 중 원하는 파장만을 검출하거나 원하지 않은 파장을 제거하기 위한 광분광부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전계 발광 시료 분석 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN102884416 CN 중국 FAMILY
2 EP02568275 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP02568275 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
4 JP05432416 JP 일본 FAMILY
5 JP25525783 JP 일본 FAMILY
6 US08934089 US 미국 FAMILY
7 US20130057862 US 미국 FAMILY
8 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
9 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
10 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN102884416 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN102884416 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 EP2568275 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 EP2568275 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
5 EP2568275 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
6 JP2013525783 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 JP5432416 JP 일본 DOCDBFAMILY
8 US2013057862 US 미국 DOCDBFAMILY
9 US8934089 US 미국 DOCDBFAMILY
10 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
11 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
12 WO2011139021 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.