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탐침 현미경의 자동 랜딩 방법 및 이를 이용하는 자동 랜딩장치

  • 기술번호 : KST2014043580
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 탐침 현미경(SPM : Scanning Probe Microscope)의 자동 랜딩 방법 및 이를 이용하는 자동 랜딩 장치가 제공된다. 본 발명에 따른 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법은 광원을 이용하여 캔틸레버에 빛을 조사하는 단계; 상기 캔틸레버의 모서리에서 회절되어 샘플 표면에 입사되는 빛에 의하여 발생한 간섭 무늬를 수집하는 단계; 상기 간섭무늬의 패턴이 기설정된 패턴 영역에 도달할 때까지 상기 팁을 상기 샘플방향으로 제 1 구동시키는 단계; 및 상기 간섭무늬의 패턴이 상기 기설정된 패턴영역에 도달한 후 상기 팁을 상기 샘플방향으로 제 2 구동시키는 단계를 포함하며, 본 발명에 따른 탐침 현미경 자동 랜딩 방법은 시료의 요철 등의 조건 변화에도 불구하고 일정하게 랜딩 단계를 구분하여 팁을 자동 랜딩할 수 있으므로, 특히 대면적의 샘플의 경우 매우 효과적이다. 더 나아가 팁을 샘플 근사거리까지 신속히 신뢰성 있게 구동시킬 수 있으므로, 매우 경제적이고 효과적인 탐침 현미경 응용이 가능하다.
Int. CL G01Q 10/04 (2010.01.01) G01B 21/00 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020080032371 (2008.04.07)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0936748-0000 (2010.01.06)
공개번호/일자 10-2008-0104954 (2008.12.03) 문서열기
공고번호/일자 (20100121) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020070052042   |   2007.05.29
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.04.07)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이해원 대한민국 서울특별시 광진구
2 정정주 대한민국 서울특별시 광진구
3 한철수 대한민국 경기 수원시 팔달구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 현종철 대한민국 서울특별시 중구 다산로 **, *층 특허법인충현 (신당동, 두지빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.04.07 수리 (Accepted) 1-1-2008-0251008-64
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.04.11 수리 (Accepted) 1-1-2008-0259655-60
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.06.02 수리 (Accepted) 1-1-2008-0395657-18
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.09.11 수리 (Accepted) 9-1-2008-0059798-08
6 등록결정서
Decision to grant
2009.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0523432-48
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
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번호 청구항
1 1
캔틸레버, 상기 캔틸레버에 결합된 팁, 상기 캔틸레버의 상부에 이격되어 위치한 광원을 포함하는 탐침 현미경의 랜딩 방법에 있어서, 상기 광원을 이용하여 상기 캔틸레버에 빛을 조사하는 단계; 상기 캔틸레버의 모서리에서 회절되어 샘플 표면에 입사되는 빛에 의하여 발생한 간섭 무늬를 수집하는 단계; 상기 간섭무늬의 패턴이 기설정된 패턴 영역에 도달할 때까지 상기 팁을 상기 샘플방향으로 제 1 구동시키는 단계; 및 상기 간섭무늬의 패턴이 상기 기설정된 패턴영역에 도달한 후 상기 팁을 상기 샘플방향으로 제 2 구동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제 1 구동은 가감속 프로파일에 따라 수행되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제 1 구동 단계는 상기 캔틸레버에 연결된 코어스 스테이지를 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 제 2 구동은 상기 캔틸레버에 연결된 미세 스테이지를 이용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 제 1 구동단계에서 간섭 무늬 수집과 팁의 구동은 동시에 진행되며, 수집된 상기 간섭무늬를 이용하여 상기 팁의 구동을 피드백 제어하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 제 2 구동단계에서 PSD(Photo Sensitive Device) 신호를 이용하여 상기 팁의 구동을 피드백 제어하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 수집된 간섭무늬를 이용하여 상기 팁과 샘플 간의 거리를 하기 수학식에 따라 계산하여 사용자에게 제공하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 방법
8 8
캔틸레버 및 상기 캔틸레버의 결합된 팁을 포함하는 탐침 현미경에 있어서, 상기 탐침 현미경의 캔틸레버에 빛을 조사하는 광원부; 상기 캔틸레버의 모서리에서 회절되어 샘플표면으로 입사되는 레이저 빔에 의하여 발생하는 간섭 무늬를 수집하는 영상 정보 수집부; 기 설정된 간섭무늬 패턴과 상기 영상 정보 수집부에 의하여 수집된 간섭무늬 패턴을 비교하여, 상기 팁의 동작 프로파일을 결정하고, 이에 따라 팁의 구동신호를 하기 랜딩부에 제공하는 제어부; 및 상기 제어부로부터의 구동신호에 따라 상기 팁을 구동시키는 랜딩부를 포함하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
9 9
제 8항에 있어서, 상기 제어부는 만약 상기 수집된 간섭무늬 패턴이 상기 기설정된 간섭무늬 패턴에 도달하지 못하는 경우 제 1 구동신호를 상기 랜딩부에 제공하고, 상기 수집된 간섭무늬 패턴이 상기 기설정된 간섭무늬 패턴에 도달하는 경우 제 2 구동신호를 상기 랜딩부에 제공하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
10 10
제 9항에 있어서, 상기 제 1 구동신호는 상기 수집된 간섭무늬 패턴을 피드백 신호로 하여 제어되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
11 11
제 9항에 있어서, 상기 제 1 구동신호에 따라 상기 팁과 연결된 코어스 스테이지에 의하여 상기 팁이 구동되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
12 12
제 9항에 있어서, 상기 제 2 구동신호에 따라 상기 팁과 연결된 미세 스테이지에 의하여 상기 팁이 구동되는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
13 13
제 8항에 있어서, 상기 제어부는 상기 팁과 샘플 표면 사이의 거리를 아래의 수학식을 이용하여 계산하는 것을 특징으로 하는 탐침 현미경의 자동 랜딩 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02153198 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02153198 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP04768852 JP 일본 FAMILY
4 JP21530649 JP 일본 FAMILY
5 US07891016 US 미국 FAMILY
6 US20090293160 US 미국 FAMILY
7 WO2008147120 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
8 WO2008147120 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2153198 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2153198 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP2153198 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 JP2009530649 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 JP2009530649 JP 일본 DOCDBFAMILY
6 JP2009530649 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 JP4768852 JP 일본 DOCDBFAMILY
8 US2009293160 US 미국 DOCDBFAMILY
9 US7891016 US 미국 DOCDBFAMILY
10 WO2008147120 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
11 WO2008147120 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.