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미세입자 측정 데이터 보정 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2014043601
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 미세입자 측정 데이터 보정 시스템에 관한 것으로서, 베타선 측정부 및 LSM 측정부로부터 동시에 측정된 데이터의 오차를 계산하고, 오차가 최소인 분석방법을 이용하여 두 측정 데이터의 보정계수를 산출하며, 산출된 보정계수를 LSM 측정부에 대입하여 LSM 측정부의 측정 데이터를 보정함으로써 LSM 측정부의 신뢰성을 높이도록 함에 그 목적이 있다. 이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 베타선 흡수 방식을 이용하여 미세입자의 농도를 측정하는 베타선 측정부; 광산란법을 이용하여 미세입자의 농도를 측정하는 LSM 측정부; 상기 베타선 측정부 및 LSM 측정부를 통해 각각 측정된 데이터를 수신하고, 수신한 두 측정 데이터의 이상치(Outlier)를 제거하는 이상치 제거부; 상기 이상치 제거부를 통해 이상치가 제거된 두 측정 데이터를 수신하고, 오차를 최소화하는 복수의 분석방법을 적용하여 두 측정 데이터의 오차를 계산하는 오차 계산부; 및 상기 오차 계산부에서 적용하는 복수의 분석 방법 중, 두 측정 데이터의 오차 값이 최소인 분석방법을 이용하여 두 측정 데이터의 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부; 를 포함한다.
Int. CL G01N 23/06 (2006.01) G01N 21/47 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01) G01N 15/00 (2006.01)
CPC G01N 23/06(2013.01) G01N 23/06(2013.01) G01N 23/06(2013.01) G01N 23/06(2013.01) G01N 23/06(2013.01)
출원번호/일자 1020100041273 (2010.05.03)
출원인 건국대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1202783-0000 (2012.11.13)
공개번호/일자 10-2011-0121810 (2011.11.09) 문서열기
공고번호/일자 (20121119) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.05.03)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 건국대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김인원 대한민국 서울특별시 광진구
2 김조천 대한민국 서울특별시 강남구
3 이재효 대한민국 서울특별시 동대문구
4 강호성 대한민국 인천광역시 계양구
5 김서진 대한민국 경기도 성남시 분당구
6 손윤석 대한민국 서울특별시 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이은철 대한민국 서울특별시 송파구 법원로**길 **, A동 *층 ***호 (문정동, H비지니스파크)(*T국제특허법률사무소)
2 유완식 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, **층 *T 국제특허법률사무소 (역삼동, 여삼빌딩)(*T국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 건국대학교 산학협력단 서울특별시 광진구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.05.03 수리 (Accepted) 1-1-2010-0284700-62
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0108645-81
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0322544-96
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.04.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0322545-31
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2012-5116974-69
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0573484-11
7 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2012.10.23 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-0863667-92
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.10.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0863666-46
9 등록결정서
Decision to Grant Registration
2012.11.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0680632-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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미세입자 측정 데이터 보정 시스템에 있어서, 베타선 흡수 방식을 이용하여 미세입자의 농도를 측정하는 베타선 측정부(100); 광산란법을 이용하여 미세입자의 농도를 측정하는 LSM 측정부(200); 상기 베타선 측정부(100) 및 LSM 측정부(200)를 통해 각각 측정된 데이터를 수신하고, 수신한 두 측정 데이터의 이상치(Outlier)를 제거하는 이상치 제거부(300);상기 이상치 제거부(300)를 통해 이상치가 제거된 두 측정 데이터를 수신하고, 오차를 최소화하는 복수의 분석방법을 적용하여 두 측정 데이터의 오차를 계산하는 오차 계산부(400); 상기 오차 계산부(400)에서 적용하는 복수의 분석 방법 중, 두 측정 데이터의 오차 값이 최소인 분석방법을 이용하여 두 측정 데이터의 보정계수를 산출하는 보정계수 산출부(500); 및상기 보정계수 산출부(500)를 통해 산출된 보정계수를 LSM 측정부(200)에 대입하여 LSM 측정부(200)의 측정 데이터를 보정하는 보정계수 대입부(600); 를 더 포함하되,상기 오차 계산부(400)는, 상기 이상치 제거부(300)를 통해 이상치가 제거된 두 측정 데이터를 수신하고, 수신한 두 측정 데이터에 최소자승(Least Square)법, 비선형최소자승(Nonlinear Least Square)법 및 직교최소자승(Othogonal Least Square)법을 각각 적용하여 오차가 최소화되도록 변수를 각각 보정하는 오차 보정모듈(410); 및 상기 최소자승(Least Square)법, 비선형최소자승(Nonlinear Least Square)법 및 직교최소자승(Othogonal Least Square)법을 적용한 각각의 경우에 따라 변수가 보정된 두 측정 데이터의 오차 값을 계산하는 오차 계산모듈(420);를 포함하며,상기 오차 계산모듈(420)은, 상기 최소자승(Least Square)법, 비선형최소자승(Nonlinear Least Square)법 및 직교최소자승(Othogonal Least Square)법을 적용한 각각에 대한 두 측정 데이터의 RMSE(Root Mean Square Error : 평균 제곱근 오차) 값을 계산하는 것을 특징으로 하며,상기 보정계수 산출부(500)는, 두 측정 데이터간의 보정계수를 [수식 1] 을 통해 산출하는 것을 특징으로 하는 미세입자 측정 데이터 보정 시스템
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 서울특별시 건국대학교 산학협력단 지하역사 및 터널의 인공지능형 공기질 제어 및 관리시스템 개발 [3차]지하역사 및 터널의 인공지능형 공기질 제어 및 관리시스템 개발