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금속 박편을 이용한 수동 소자 및 반도체 패키지의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014044711
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 금속 박편을 이용한 수동 소자 및 반도체 패키지의 제조방법에 관한 것으로서, 기판에 집적하여 형성되는 인덕터나 비아 등의 수동 소자의 제조방법에 있어서, 더미기판에 접착층을 형성하는 접착층 형성과정과; 상기 접착층에 금속 박편을 접합시키는 접합과정과; 상기 금속 박편에 마스킹 물질을 부착하고, 비아가 형성될 영역을 패터닝한 후 상기 금속 박편을 원하는 깊이로 식각하는 식각과정과; 상기 마스킹 물질을 제거하고, 상기에서 식각된 부분에 폴리머를 채워 평탄한 폴리머면을 형성하고, 상기 폴리머면에 상기 마스킹 물질을 부착하고, IPD나 IC 칩에 부착될 영역을 패터닝한 후 금속 패드를 형성하고 이 금속 패드를 사용하여 상기 IPD나 IC칩 같은 아래 기판에 부착시키는 기판 부착 과정과; 상기 접착층과 더미기판을 제거하고 상기 금속 박편의 더미기판이 제거된 후 노출된 면에 마스킹 물질을 부착하고, 인덕터나 비아 등의 수동소자가 형성될 영역을 패터닝한 후 상기 금속 박편을 원하는 깊이로 식각하는 식각과정; 및 상기 마스킹 물질을 제거한 후 표면실장을 위한 솔더범프를 형성하는 범프형성과정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.상기와 같이 이루어진 본 발명에 따르면 금속 박편을 반도체 공정을 이용하여 선택 식각 및 연마하여 고 품질의 인덕터와 비아를 동시에 형성하여 높은 전기 전도도를 가진 고품질 수동 소자를 제공하며, 제작 시간과 비용을 줄일 수 있다.금속 박판, 폴리머면, 패키지, 수동 소자, 반도체소자, 열방출, 비아
Int. CL H01L 21/56 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020050033011 (2005.04.21)
출원인 (주)웨이브닉스이에스피
등록번호/일자 10-0660604-0000 (2006.12.15)
공개번호/일자 10-2006-0110604 (2006.10.25) 문서열기
공고번호/일자 (20061222) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.04.21)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (주)웨이브닉스이에스피 대한민국 경기도 오산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권영세 대한민국 대전 유성구
2 김경민 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 임재룡 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, ***호 (역삼동, 성지하이츠*)(나래특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.04.21 수리 (Accepted) 1-1-2005-0206774-50
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.07.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0397319-15
3 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.09.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0650955-00
4 의견서
Written Opinion
2006.09.08 수리 (Accepted) 1-1-2006-0650966-02
5 등록결정서
Decision to grant
2006.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0715371-40
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.05.03 수리 (Accepted) 4-1-2011-5088364-92
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.05.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0016549-51
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5080466-51
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2020-5060376-06
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판에 집적하여 형성되는 인덕터 또는 비아를 포함한 수동 소자의 제조방법에 있어서,더미기판에 접착층을 형성하는 접착층 형성과정과;상기 접착층에 금속 박편을 접합시키는 접합과정과;상기 금속 박편에 마스킹 물질을 부착하고, 비아가 형성될 영역을 제외한 나머지 영역의 마스킹 물질을 제거한 후 상기 금속 박편을 원하는 깊이로 식각하는 식각과정과;상기 마스킹 물질을 제거하고, 상기에서 식각된 부분에 폴리머를 채워 평탄한 폴리머면을 형성하고, 상기 폴리머면에 상기 마스킹 물질을 부착하고, IPD나 IC 칩에 부착될 영역을 제외한 나머지 영역의 마스킹 물질을 제거한 후 금속 패드를 형성하고 이 금속 패드를 사용하여 상기 IPD 또는 IC칩 같은 아래 기판에 부착시키는 기판 부착 과정과;상기 접착층과 더미기판을 제거하고 상기 금속 박편의 더미기판이 제거된 후 노출된 면에 마스킹 물질을 부착하고, 인덕터 또는 비아를 포함한 수동소자가 형성될 영역을 제외한 나머지 영역의 마스킹 물질을 제거한 후 상기 금속 박편을 원하는 깊이로 식각하는 식각과정; 및상기 마스킹 물질을 제거한 후 표면실장을 위한 솔더범프를 형성하는 범프형성과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
2 2
금속기판에 집적하여 형성되는 수동소자의 제조방법에 있어서,더미기판에 접착층을 형성하는 접착층 형성과정과;상기 접착층에 금속 박편을 접합시키는 접합과정과;상기 금속 박편의 저면에 마스킹 물질을 부착하고, 수동 소자가 형성될 영역을 패터닝한 후 상기 금속 박편에 원하는 깊이로 원하는 장소에 절연체를 형성하는 절연체 형성과정과;상기 마스킹 물질을 제거하고, 상기 금속박편 저면에 사진기법(photolithography)으로 금속패드를 형성하는 금속패드 형성공정과;이 금속패드를 이용하여 IPD 또는 IC칩 같은 아래 기판에 부착시키는 기판부착과정과;상기 접착층과 더미 기판을 제거하는 더미기판 제거과정과;상기 금속 박편의 이면을 상기 절연체가 드러날 때까지 금속을 제거하는 금속제거과정; 및PCB기판에 표면실장을 가능하도록 솔더범프를 형성하는 범프형성과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 식각과정에서 상기 수동 소자중 인덕터는 폴리머층 상에 형성되는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 폴리머막은 BCB(Benzocyclobutene), PI(Polyimide), BT(Bismaleimide triazine)중 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
5 5
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 마스킹물질은 'SiO2', 'SiNx' 또는 'SiO2 및 SiNx 복합' 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
6 6
제 2 항에 있어서,상기 금속제거과정에서 상기 금속기판의 이면은 기계적인 연마(lapping 및 polishing), 화학적 식각, 또는 기계적 및 화학적 복합식각을 통하여 금속을 제거하는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
7 7
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 솔더범프는 도금 또는 실크스크린방법을 통한 BGA 또는 LGA(Ball Grid Array or Land Grid Array) 타입으로 형성하는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
8 8
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 더미 기판은 유리판, 규소 반도체 기판과 같은 평탄도가 우수한 기판 인 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동 소자의 제조방법
9 9
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 금속 박편이 두꺼운 금속 박편일 경우, 상기 접착층 형성과정과 더미 기판에 접합하는 접합과정을 생략하고 진행하는 금속 박편을 이용한 수동소자의 제조방법
10 10
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 금속 박편이 두꺼운 금속 박편일 경우, 상기 아래 기판이 없는 구조의 수동소자를 제조하는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 수동소자의 제조방법
11 11
제 1 항 또는 제 2 항의 금속 박편에 집적하여 형성되는 수동 소자의 제조방법을 이용하여 상기 금속 박편에 수동 소자를 집적하고 그 위에 메탈커버로 보호하는 반도체 패키지 제조 방법에 있어서,상기 수동 소자가 구현된 금속 박편의 유전체상이나 금속면에 시스템을 구현하는데 필요한 수동 소자를 집적하고, 플립칩 본딩을 이용하여 베어칩 상태의 반도체 소자와 집적된 수동 소자를 연결하는 부착과정과;상기 아래 기판에 표면실장을 위한 솔더범프를 형성하는 범프형성과정; 및상기 금속 박편에 집적된 수동 소자 및 반도체소자를 보호하는 메탈커버를 상기 금속 박편에 접착하여 형성하는 커버접착과정;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 반도체 패키지의 제조방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 금속 박편의 금속면 상에 부착되는 반도체소자는,열전도성 접착물질로 고정시키고, 와이어본딩을 통해 상기 유전체 상이나 금속면에 집적된 수동 소자와 연결하는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 반도체 패키지의 제조방법
13 13
제 11 항에 있어서,상기 메탈커버와 상기 금속 박편은 전도성 에폭시 또는 금속본딩(metal to metal) 방식의 접착층에 의하여 연결하는 것을 특징으로 하는 금속 박편을 이용한 반도체 패키지의 제조방법
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2 US07696055 US 미국 FAMILY
3 US07838380 US 미국 FAMILY
4 US20080194058 US 미국 FAMILY
5 US20100144099 US 미국 FAMILY
6 WO2006112576 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 JP2008537355 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP2008537355 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JP2008537355 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US2008194058 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US2010144099 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US7696055 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US7838380 US 미국 DOCDBFAMILY
8 WO2006112576 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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