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열전소자 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014045181
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 열전소자 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 기판; 상기 기판의 일측에 형성되고, 제1 도전형인 제1 나노와이어; 상기 제1 나노와이어에 대향되어 형성되고, 제2 도전형인 제2 나노와이어; 상기 제1 나노와이어 및 상기 제2 나노와이어의 일단에 공통 연결되는 고온부; 상기 제1 나노와이어 및 상기 제2 나노와이어의 타단에 연결되는 저온부; 상기 제1 나노와이어와 상기 제2 나노와이어 상부에 형성되는 절연층; 상기 제1 나노와이어측 절연층 상부에 형성되어, 상기 제1 나노와이어의 전위를 조절하는 제1 금속층; 및 상기 제2 나노와이어측 절연층 상부에 형성되어, 상기 제2 나노와이어의 전위를 조절하는 제2 금속층을 포함한다.
Int. CL H01L 35/32 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100132921 (2010.12.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0071254 (2012.07.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장문규 대한민국 대전광역시 유성구
2 박영삼 대한민국 대전광역시 서구
3 현영훈 대한민국 서울특별시 송파구
4 전명심 대한민국 대전광역시 유성구
5 정태형 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인한벗 대한민국 서울특별시 서대문구 충정로 *, 구세군빌딩 **층 (충정로*가)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0850121-13
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2013.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2013-0063343-07
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;상기 기판의 일측에 형성되고, 제1 도전형인 제1 나노와이어;상기 제1 나노와이어에 대향되어 형성되고, 제2 도전형인 제2 나노와이어;상기 제1 나노와이어 및 상기 제2 나노와이어의 일단에 공통 연결되는 고온부;상기 제1 나노와이어 및 상기 제2 나노와이어의 타단에 연결되는 저온부;상기 제1 나노와이어와 상기 제2 나노와이어 상부에 형성되는 절연층;상기 제1 나노와이어측 절연층 상부에 형성되어, 상기 제1 나노와이어의 전위를 조절하는 제1 금속층; 및상기 제2 나노와이어측 절연층 상부에 형성되어, 상기 제2 나노와이어의 전위를 조절하는 제2 금속층;을 포함하는 열전소자
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층은 서로 일함수가 상이한 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 열전소자
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 금속층은 Er, Mg, Yb, Sm 및 Eu 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자
4 4
제1항에 있어서,상기 제2 금속층은 Pt, Mn 및 Pd 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자
5 5
제1항에 있어서,상기 절연층은 Al2O3, HfxOy, TEOS 계열의 산화막 및 Si3N4, SiN을 포함하는 질화막 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자
6 6
제1항에 있어서,상기 열전소자는,상기 기판과 상기 기판의 상부 구조물 사이에 삽입되어, 상기 상부 구조물에서 발생된 열이 상기 기판으로 전달되는 것을 감소시키는 단열층;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자
7 7
제1항에 있어서,상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층이 동일한 물질로 구성되는 경우, 상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층 각각에 서로 다른 전압이 인가되는 것을 특징으로 하는 열전소자
8 8
기판 상부에 반도체층을 증착하고 패터닝하여 제1 나노와이어 패턴, 상기 제1 나노와이어 패턴, 고온부 및 저온부를 형성하는 구조물 형성 단계;상기 제1 나노와이어 패턴 및 상기 제2 나노와이어 패턴에 제1 도전형 물질 및 제2 도전형 물질을 각각 이온 주입하여 형성하는 나노와이어 형성 단계;상기 기판 전면에 절연 물질을 증착하고 패터닝하여 상기 제1 나노와이어와 상기 제2 나노와이어 상부에 절연층을 형성하는 절연층 형성 단계;상기 기판 전면에 금속 물질을 증착하고 패터닝하여 상기 제1 나노와이어측 절연층 상부에 제1 금속층을 형성하는 제1 금속층 형성 단계; 및상기 기판 전면에 금속 물질을 증착하고 패터닝하여 상기 제2 나노와이어측 절연층 상부에 제2 금속층을 형성하는 제2 금속층 형성 단계;를 포함하는 열전소자의 제조 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 기판과 상기 반도체층 사이에 열 전달을 감소시키기 위한 단열층을 형성하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
10 10
제8항에 있어서,상기 제1 금속층과 상기 제2 금속층은 서로 일함수가 상이한 물질로 구성되는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
11 11
제8항에 있어서,상기 제1 금속층은 Er, Mg, Yb, Sm 및 Eu 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
12 12
제8항에 있어서,상기 제2 금속층은 Pt, Mn 및 Pd 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
13 13
제8항에 있어서,상기 절연층은 Al2O3, HfxOy, TEOS 계열의 산화막 및 Si3N4, SiN을 포함하는 질화막 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
14 14
제8항에 있어서, 상기 제1 금속층 형성 단계 및 상기 제2 금속층 형성 단계에서,상기 제1 금속층 및 상기 제2 금속층은 각각 알로이(Alloy) 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 열전소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20120160292 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2012160292 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.