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진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014045727
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 현재까지 측정치와 잘 일치하는 진폭 확률 분포(Amplitude Probability Distribution, APD) 모형은 알려져 있으나, 모형을 결정하는 2개의 분산 값은 측정 데이터로부터 추정해야 한다. 이에 본 발명의 실시예에서는, 전자기기 노이즈의 진폭 확률 분포 모형에서, 진폭 확률 분포 모형을 결정하는 2개 분산의 동일성과 상이성을 판별한 후, 2개의 분산을 추정함으로써, 전자기기의 노이즈에 대한 진폭 확률 분포를 특징화시키고, 비트오율(bit error rate)까지 구할 수 있는 분산 추정 기술을 제안하고자 한다.
Int. CL G06F 17/10 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100130190 (2010.12.17)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0068528 (2012.06.27) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박승근 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)
2 김원준 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0835780-73
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
전자기기 노이즈의 진폭 확률 분포(Amplitude Probability Distribution, APD) 모형에 대한 진폭 확률 분포 곡선을 계산하는 진폭 확률 분포 곡선 계산부와,상기 진폭 확률 분포 곡선 계산부에서 계산되는 진폭 확률 분포 곡선에 대한 기울기의 선형성을 판단하는 선형성 판단부와,상기 선형성 판단부의 선형성 판단 결과에 따라 동일 분산 처리 또는 상이 분산 처리를 선택적으로 수행하는 분산 처리부를 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 분산 처리부는, 상기 진폭 확률 분포 곡선의 기울기가 선형적이면 상기 동일 분산 처리를 수행하고, 상기 진폭 확률 분포 곡선의 기울기가 비선형적이면 상기 상이 분산 처리를 수행하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 장치
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 상이 분산 처리는, 계산된 상기 진폭 확률 분포 곡선에 대해 히스토그램의 확률 밀도 함수를 구하고, 구해진 상기 확률 밀도 함수의 상한 꼭지점 및 하한 꼭지점을 검색하며, 검색되는 상기 확률 밀도 함수의 상기 상한 꼭지점 및 하한 꼭지점의 측정치를 계산하고, 계산되는 상기 상한 꼭지점의 측정치 및 하한 꼭지점의 측정치에 대한 각각의 분산을 추정하는 것을 특징으로진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 분산 처리부는,수학식 에 의해 상기 상이 분산 처리를 수행하되,상기 n1은 상기 상한 꼭지점의 측정치보다 작은 측정치 Xi의 수이고, 상기 n2는 상기 하한 꼭지점의 측정치보다 큰 측정치 Xi의 수인 것을 특징으로 하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 분산 추정 장치는,상기 분산 처리부의 분산 처리 결과에 대한 진폭 확률 분포 곡선을 특성화하는 특성화부를 더 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 장치
6 6
전자기기 노이즈의 진폭 확률 분포 모형에 대한 진폭 확률 분포 곡선을 계산하는 과정과,계산되는 상기 진폭 확률 분포 곡선의 기울기가 선형적인지 또는 비선형적인지를 판단하는 과정과,상기 진폭 확률 분포 곡선의 기울기가 비선형적이면 상이 분산 처리 과정을 수행하여 분산을 추정하는 과정을 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 상이 분산 처리 과정은, 계산된 상기 진폭 확률 분포 곡선에 대해 히스토그램의 확률 밀도 함수를 구하는 과정과,구해진 상기 확률 밀도 함수의 상한 꼭지점 및 하한 꼭지점을 검색하는 과정과,검색되는 상기 확률 밀도 함수의 상한 꼭지점의 측정치 및 하한 꼭지점의 측정치를 계산하는 과정과,계산되는 상기 상한 꼭지점의 측정치 및 상기 하한 꼭지점의 측정치에 대한 각각의 분산을 추정하는 과정을 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 분산 추정 과정은,상기 상한 꼭지점의 측정치보다 작은 측정 데이터와, 상기 하한 꼭지점의 측정치보다 큰 측정 데이터로 분류하는 과정을 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
9 9
제 7 항에 있어서,상기 분산 추정 과정은,수학식 에 의해 상기 상이 분산 처리를 수행하되,상기 n1은 상기 상한 꼭지점의 측정치보다 작은 측정치 Xi의 수이고, 상기 n2는 상기 하한 꼭지점의 측정치보다 큰 측정치 Xi의 수인 것을 특징으로 하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
10 10
제 7 항에 있어서,상기 분산 추정 방법은,추정된 분산을 통해 진폭 확률 분포 곡선을 특성화시키는 과정을 더 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
11 11
제 7 항에 있어서,상기 분산 추정 방법은,상기 진폭 확률 분포 곡선의 기울기가 선형적이면, 측정 데이터에 의한 분산 처리를 수행하고, 이를 2개의 분산 추정치로 이용하는 과정을 더 포함하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
12 12
제 7 항에 있어서,상기 분산 추정 방법은,가우시안 채널 환경에서 BPSK 시스템의 최대 발생 가능한 비트오율을 구하는 과정을 더 포함하되,상기 비트오율은 수학식에 의해 구해지며, 상기 Eb는 비트 에너지, 상기 N0는 잡음전력, 상기 는 간섭신호의 각도 확률변수로 균등분포(0,2π)를 따르며, 상기 는 간섭신호의 진폭인 것을 특징으로 하는진폭 확률 분포 모형의 분산 추정 방법
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1 방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 U-사회 전파환경 보호를 위한 전자파양립성 연구