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이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계

  • 기술번호 : KST2014046534
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계에 관한 것이다. 본 발명에 따른 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계는 광원; 측정 시료가 놓여지는 시료대; 상기 시료대와 평행하게 배치되고, 주사되는 기준빛을 반사시키는 제1 반사부; 상기 광원에서 발생된 광을 주파수가 다르고 편광 방향이 서로 수직한 제1 빛 및 제2 빛으로 분리하는 제1 편광빛살가르개(PBS); 상기 제1 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제1 로컬신호(LO) 및 기준빛으로 분리하여 제공하는 기준빛 생성부; 상기 제2 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제2 로컬신호(LO) 및 신호빛으로 분리하여 제공하는 신호빛 생성부; 상기 제1 로컬신호와 제2 로컬신호의 간섭신호를 검출하여 외부로 제공하는 제1 광 검출수단(PD1); 및 상기 제2 반사부로 주사된 후 반사되는 기준빛과 시료로 주사된 후 반사되는 신호빛의 간섭신호를 검출하여 외부로 제공하는 제2 광 검출수단(PD2);을 구비하고, 상기 기준빛 및 신호빛은 동일한 광학 경로 길이를 갖는 것을 특징으로 한다.본 발명에 따른 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계는 기준빛과 신호빛이 동일한 광학 경로 길이를 갖으면서, 굉장히 컴팩트(Compact)한 구조를 갖게 되므로, 외부 노이즈를 줄일 수 있어 안정적인 측정이 가능하다는 장점을 갖는다.
Int. CL G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/45 (2006.01)
CPC G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01) G01B 9/02007(2013.01)
출원번호/일자 1020110049722 (2011.05.25)
출원인 서강대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1214854-0000 (2012.12.17)
공개번호/일자 10-2012-0131514 (2012.12.05) 문서열기
공고번호/일자 (20121224) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.05.25)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조규만 대한민국 서울특별시 강북구
2 박영규 대한민국 인천광역시 남구
3 윤승현 대한민국 서울특별시 성북구
4 최희덕 대한민국 인천광역시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이지연 대한민국 서울특별시 관악구 남부순환로 ****, ***호 제니스국제특허법률사무소 (봉천동, 청동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 서울특별시 마포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2011-0392638-18
2 등록결정서
Decision to grant
2012.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0651838-88
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.11 수리 (Accepted) 4-1-2017-5005781-67
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5014626-89
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광원;측정 시료가 놓여지는 시료대;상기 시료대와 평행하게 배치되고, 주사되는 기준빛을 반사시키는 제1 반사부;상기 광원에서 발생된 광을 주파수가 다르고 편광 방향이 서로 수직한 제1 빛 및 제2 빛으로 분리하는 제1 편광빛살가르개(PBS);상기 제1 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제1 로컬신호(LO) 및 기준빛으로 분리하여 제공하는 기준빛 생성부;상기 제2 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제2 로컬신호(LO) 및 신호빛으로 분리하여 제공하는 신호빛 생성부;상기 제1 로컬신호와 제2 로컬신호의 간섭신호를 검출하여 외부로 제공하는 제1 광 검출수단(PD1); 및상기 제1 반사부로 주사된 후 반사되는 기준빛과 시료로 주사된 후 반사되는 신호빛의 간섭신호를 검출하여 외부로 제공하는 제2 광 검출수단(PD2); 을 구비하고,상기 기준빛 및 신호빛은 동일한 광학 경로 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
2 2
제 1항에 있어서, 상기 기준빛 생성부는상기 제1 빛의 편광 방향을 사전에 설정된 각도로 회전시키는 제1 편광회전기(PR); 상기 제1 편광회전기에서 편광 회전된 제1 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제1 로컬신호(LO) 및 기준빛으로 분리하는 제2 편광빛살가르개(PBS); 상기 제2 편광빛살가르개와 제1 반사부의 사이에 배치되는 제1 사분파장 위상지연판(QWP);을 구비하고, 상기 신호빛 생성부는상기 분리된 제2 빛의 진행방향을 상기 제1 빛의 진행방향과 평행하도록 반사하는 제2 반사부; 상기 제2 빛의 편광 방향을 사전에 설정된 각도로 회전시키는 제2 편광회전기(PR); 상기 제2 편광회전기에서 편광 회전된 제2 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제2 로컬신호(LO) 및 신호빛으로 분리하는 제3 편광빛살가르개(PBS); 상기 제3 편광빛살가르개와 시료대의 사이에 배치되는 제2 사분파장 위상지연판;을 구비하고, 상기 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계는 상기 제2 편광빛살가르개와 제3 편광빛살가르개 사이에 반파장 위상 지연판(HWP)을 더 배치하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
3 3
제 1항에 있어서, 상기 기준빛 생성부는상기 제1 빛의 편광 방향을 사전에 설정된 각도로 회전시키는 제1 패러데이셀(Faraday cell); 상기 제1 편광회전기에서 편광 회전된 제1 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제1 로컬신호(LO) 및 기준빛으로 분리하는 제2 편광빛살가르개(PBS); 상기 제2 편광빛살가르개와 제1 반사부의 사이에 배치되는 제1 사분파장 위상지연판(QWP);을 구비하고, 상기 신호빛 생성부는상기 분리된 제2 빛의 진행방향을 상기 제1 빛의 진행방향과 평행하도록 반사하는 제2 반사부; 상기 제2 빛의 편광 방향을 사전에 설정된 각도로 회전시키는 제2 패러데이셀(Faraday cell); 상기 제2 편광회전기에서 편광 회전된 제2 빛을 편광 방향이 서로 수직한 제2 로컬신호(LO) 및 신호빛으로 분리하는 제3 편광빛살가르개(PBS); 상기 제3 편광빛살가르개와 시료대의 사이에 배치되는 제2 사분파장 위상지연판;을 구비하고, 상기 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계는 상기 제2 편광빛살가르개와 제3 편광빛살가르개 사이에 제1 반파장 위상 지연판(HWP)을 더 배치하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
4 4
제 1항에 있어서, 상기 광원은서로 수직으로 편광되고 각 편광 성분이 서로 다른 주파수를 갖는 이중 편광 및 이중 주파수를 갖는 광을 출력하는 헤테로다인 광원인 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
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제 1항에 있어서, 상기 제2 반사부는프리즘 및 반사경 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
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제 2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 편광회전기는하나로 형성되어 배치되는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
7 7
제 3항에 있어서, 상기 제1 및 제2 패러데이셀은하나로 형성되어 배치되는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
8 8
제 2항 및 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 사분파장 위상지연판은하나로 형성되어 배치되는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
9 9
제 2항에 있어서, 상기 기준빛 생성부는 상기 제1 편광회전기와 제2 편광빛살가르개 사이에 제1 편광판을 배치하고,상기 신호빛 생성부는 상기 제2 편광회전기와 제3 편광빛살가르개 사이에 제2 편광판을 배치하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
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제 9항에 있어서, 상기 제1 및 제2 편광판은하나로 형성되어 배치되는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
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제 2항 및 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계는제1 및 제2 로컬신호가 제2 편광빛살가르개로부터 제1 광 검출수단으로 진행되는 경로 사이에 제3 편광판을 더 구비하여 제1 로컬신호와 제2 로컬신호의 간섭신호를 생성하고, 기준빛 및 신호빛이 제3 편광빛살가르개로부터 제2 광 검출수단으로 진행되는 경로 사이에 제4 편광판을 더 구비하여 기준빛과 신호빛의 간섭신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
12 12
제 2항 및 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호빛 생성부는상기 제1 편광빛살가르개로부터 분리된 제2 빛이 제2 반사부로 진행되는 경로 사이에 제2 반파장 위상지연판을 더 배치하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
13 13
제 2항 및 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 신호빛 생성부는상기 제1 편광빛살가르개로부터 분리된 제2 빛이 제2 반사부로 진행되는 경로 사이에 스페이서(spacer)를 더 배치하는 것을 특징으로 하는 이종 모드 광원을 이용한 헤테로다인 간섭계
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국가 R&D 정보가 없습니다.