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집적광학소자를이용한변위측정장치

  • 기술번호 : KST2014048222
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 집적 광학 소자로 마이켈슨 광 간섭을 이용한 변위 측정 장치를 구현한 것으로, 이 변위 측정 장치는 제1 광도파로, 광학 박막층, 제2 광도파로를 집적화하여 형성한다. 제1 광도파로는 기판의 일부에 형성되며, 한쪽 끝단에는 광원으로부터 광이 입사되며 다른 쪽 끝단에는 입사된 광을 반사시키기 위한 브래그 회절 격자가 형성되어 있다. 광학 박막층은 광 투과가 가능한 박막층으로서 제1 광도파로 및 기판 위에 형성된다. 제2 광도파로는 광학 박막층 위에 형성되는데, 광 결합 부분으로부터 제1 광도파로에서 제2 광도파로로 일부 전파된 광은 제2 광도파로의 제1 끝단에서 변위 측정 반사체에 조사 후 다시 반사되어 제2 광도파로 제1 끝단을 통해서 재입사된다. 제2 광도파로의 제2 끝단에서는 제1 광도파로의 브래그 회절 격자에 의해 반사된 광과 상기 변위 측정 반사체에 의해 반사되어 재입사된 광의 위상 차에 의해 간섭광이 형성된다. 이 간섭광은 변위 측정 반사체의 변위가 변화하면, 변위 변화에 따른 간섭광의 세기 변화가 나타나는데, 이 간섭광의 세기 변화를 광센서로 측정함으로써 대상물의 변위를 측정할 수 있다.
Int. CL G01B 11/16 (2006.01)
CPC G01B 11/161(2013.01)
출원번호/일자 1019980047080 (1998.11.04)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0288072-0000 (2001.02.02)
공개번호/일자 10-2000-0031172 (2000.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20020228) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.11.04)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박광범 대한민국 경기도 평택시
2 황학인 대한민국 경기도 평택시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송만호 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)
2 장성구 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))
3 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 평택시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.11.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0365766-79
2 출원심사청구서
Request for Examination
1998.11.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0365767-14
3 특허출원서
Patent Application
1998.11.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0389925-94
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005793-30
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1999.02.23 수리 (Accepted) 1-1-1999-5084258-02
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2000.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0190483-12
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2000.09.26 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2000-5291649-88
8 의견서
Written Opinion
2000.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2000-5291670-37
9 등록사정서
Decision to grant
2000.12.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0343283-32
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기판과;

상기 기판의 내부에 형성되며, 한쪽 끝단에는 광원으로부터 광이 입사되며 다른 쪽 끝단에는 상기 입사된 광을 반사시키기 위한 브래그 격자가 형성되어 있는 제1 광도파로와;

상기 제1 광도파로 및 상기 기판 위에 형성되며, 상기 제1 광도파로보다 굴절율이 작으며 광 투과가 가능한 광학 박막층과;

상기 광학 박막층 위에 형성되며, 상기 제1 광도파로와 중첩되는 광 결합 부분으로부터 광이 전파되어 제1 끝단에서는 전파된 광을 변위 측정을 위한 변위 측정 반사체에 조사시키고, 제2 끝단에서는 상기 제1 광도파로의 상기 브래그 격자에 의해 반사된 광과 상기 변위 측정 반사체에 의해 반사된 광의 위상 차에 의해 간섭광이 형성되는 제2 광도파로를 포함하는 변위 측정 장치

2 2

제1항에서,

상기 제1 및 제2 광도파로는 직각 형태로 굽은 단일 모드의 광도파로인 것을 특징으로 하는 변위 측정 장치

3 3

제1항에서,

상기 제1 및 제2 광도파로는 광결합 부분에서 상기 광학 박막층을 통해 수직으로 광 결합이 이루어지는 것을 특징으로 하는 변위 측정 장치

4 4

제3항에서,

상기 광결합 부분에 의해 상기 제1 광도파로로 입사된 광은 상기 제1 및 제2 광도파로로 각각 광세기가 50:50으로 분리가 되는 것을 특징으로 하는 변위 측정 장치

5 5

제1항에서,

상기 제2 광도파로의 상기 제1 끝단으로부터 조사되는 광을 평행 광으로 변환되어 상기 변위 측정 반사체로 조사시키며, 상기 변위 측정 반사체로부터 반사된 광을 집속하여 상기 제2 광도파로로 재입사시키는 렌즈를 더 포함하는 변위 측정 장치

6 6

제5항에서,

상기 제2 광도파로의 상기 제1 끝단에 형성된 무반사 코팅막을 더 포함하는 변위 측정 장치

7 7

제6 항에서,

상기 제2 광도파로의 제2 끝단에 형성된 간섭광을 측정하기 위해 연결된 광 섬유와,

상기 연결된 광 섬유를 통해 진행된 간섭광의 변화를 측정하기 위한 광 센서를 더 포함하는 변위 측정 장치

8 8

제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에서,

상기 브래그 격자는 상기 제1 광도파로의 표면을 광의 진행방향과 수직하게 일정 깊이, 일정 간격의 주기로 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 변위 측정 장치

9 9

제8항에서,

상기 일정 간격의 주기는 입사광의 파장을 λ, 상기 제1 광도파로의 유효 굴절율을 neff이라 할 때, λ/(2neff)의 값을 만족하는 것을 특징으로 하는 변위 측정 장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.