| 1 |
1
다수개의 IP 코어를 포함한 시스템 온 칩 테스트 장치에 있어서,스캔 테스트 모드 시에 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 스캔 입력 데이터를 입력받아 버스를 통해 IP 코어에 인가하고, 출력 데이터 리드 신호를 발생하는 TIC 모듈; 상기 스캔 테스트 모드 수행을 위해 입력된 스캔 테스트 모드 신호와 출력 데이터 리드 신호를 이용하여 스캔 출력 리드 신호를 발생하는 신호 발생모듈; 상기 스캔 출력 리드 신호에 따라 IP 코어로부터 스캔 출력 데이터를 리드 하여 출력하는 EBI 모듈; 및 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 스캔 출력 데이터와 출력 어드레스를 외부로 전송하는 멀티플렉서를 포함하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 2 |
2
삭제
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 스캔 테스트 모드 신호의 입력에 따라 스캔 테스트 수행을 위해 상기 IP 코어와 주변의 다수개의 IP 코어간 입출력을 차단하는 테스트 래퍼를 더 포함하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 4 |
4
삭제
|
| 5 |
5
제1항에 있어서,상기 IP 코어가 APB(Advanced Peripherial Bus)에 연결된 APB 코어인 경우, 상기 TIC 모듈로부터 AHB(Advanced High-performance Bus)를 통해 인가된 스캔 데이터를 일정 시간 지연시켜 APB 스캔 데이터로 출력하고, 상기 APB 코어로부터 인가된 APB 출력데이터를 일정 시간마다 출력데이터로 변환하여 출력하는 브리지;상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 스캔 데이터와 APB 스캔 데이터 중 스캔 데이터를 선택하여 상기 APB 코어에 인가하는 APB 인가 멀티플렉서; 및상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 APB 출력 데이터와 출력데이터 중 APB 출력데이터를 상기 AHB로 전송하는 APB 출력 멀티플렉서를 더 포함하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 6 |
6
다수개의 IP 코어를 포함한 시스템 온 칩 테스트 장치에 있어서,스캔 테스트 모드 시에 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 스캔 입력 데이터를 입력받아 버스를 통해 IP 코어에 인가하고, 출력 데이터 리드 신호를 발생하는 TIC 모듈; 상기 스캔 테스트 모드 수행을 위해 입력된 스캔 테스트 모드 신호와 출력 데이터 리드 신호를 이용하여 스캔 출력 리드 신호를 발생하는 신호 발생모듈; 상기 스캔 출력 리드 신호에 따라 IP 코어로부터 스캔 출력 데이터를 리드 하여 출력하는 EBI 모듈; 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 스캔 출력 데이터와 출력 어드레스를 외부로 전송하는 멀티플렉서; 및상기 스캔 테스트 모드 신호의 입력에 따라 스캔 테스트 수행을 위해 상기 IP 코어와 주변의 다수개의 IP 코어간 입출력을 차단하는 테스트 래퍼를 포함하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 7 |
7
삭제
|
| 8 |
8
삭제
|
| 9 |
9
제6항에 있어서,상기 IP 코어가 APB(Advanced Peripherial Bus)에 연결된 APB 코어인 경우, 상기 TIC 모듈로부터 AHB(Advanced High-performance Bus)를 통해 인가된 스캔 데이터를 일정 시간 지연시켜 APB 스캔 데이터로 출력하고, 상기 APB 코어로부터 인가된 APB 출력데이터를 일정 시간마다 출력데이터로 변환하여 출력하는 브리지;상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 스캔 데이터와 APB 스캔 데이터 중 스캔 데이터를 선택하여 상기 APB 코어에 인가하는 APB 인가 멀티플렉서; 및상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 APB 출력 데이터와 출력데이터 중 APB 출력데이터를 상기 AHB로 전송하는 APB 출력 멀티플렉서를 더 포함하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 10 |
10
다수개의 IP 코어를 포함한 시스템 온 칩 테스트 장치에 있어서,스캔 테스트 모드 시에 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 스캔 입력 데이터를 입력받아 버스를 통해 IP 코어에 인가하고, 출력 데이터 리드 신호를 발생하는 TIC 모듈; 상기 스캔 테스트 모드 수행을 위해 입력된 스캔 테스트 모드 신호와 출력 데이터 리드 신호를 이용하여 스캔 출력 리드 신호를 발생하는 신호 발생모듈; 상기 스캔 출력 리드 신호에 따라 IP 코어로부터 스캔 출력 데이터를 리드 하여 출력하는 EBI 모듈; 및 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 스캔 출력 데이터와 출력 어드레스를 외부로 전송하는 멀티플렉서를 포함하되, 상기 IP 코어가 APB(Advanced Peripherial Bus)에 연결된 APB 코어인 경우, 상기 TIC 모듈로부터 AHB(Advanced High-performance Bus)를 통해 인가된 스캔 데이터를 일정 시간 지연시켜 APB 스캔 데이터로 출력하고, 상기 APB 코어로부터 인가된 APB 출력데이터를 일정 시간마다 출력데이터로 변환하여 출력하는 브리지; 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 스캔 데이터와 APB 스캔 데이터 중 스캔 데이터를 선택하여 상기 APB 코어에 인가하는 APB 인가 멀티플렉서; 및 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 APB 출력 데이터와 출력데이터 중 APB 출력데이터를 상기 AHB로 전송하는 APB 출력 멀티플렉서를 포함하여 이루어지는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
| 11 |
11
삭제
|
| 12 |
12
삭제
|
| 13 |
13
다수개의 IP 코어를 포함한 시스템 온 칩 테스트 장치에 있어서,스캔 테스트 모드 시에 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 스캔 입력 데이터를 입력받아 버스를 통해 IP 코어에 인가하고, 출력 데이터 리드 신호를 발생하는 TIC 모듈; 상기 스캔 테스트 모드 수행을 위해 입력된 스캔 테스트 모드 신호와 출력 데이터 리드 신호를 이용하여 스캔 출력 리드 신호를 발생하는 신호 발생모듈; 상기 스캔 출력 리드 신호에 따라 IP 코어로부터 스캔 출력 데이터를 리드 하여 출력하는 EBI 모듈; 및 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 스캔 출력 데이터와 출력 어드레스를 외부로 전송하는 멀티플렉서를 포함하되, 상기 IP 코어가 APB(Advanced Peripherial Bus)에 연결된 APB 코어인 경우, 상기 TIC 모듈로부터 AHB(Advanced High-performance Bus)를 통해 인가된 스캔 데이터를 일정 시간 지연시켜 APB 스캔 데이터로 출력하고, 상기 APB 코어로부터 인가된 APB 출력데이터를 일정 시간마다 출력데이터로 변환하여 출력하는 브리지; 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 스캔 데이터와 APB 스캔 데이터 중 스캔 데이터를 선택하여 상기 APB 코어에 인가하는 APB 인가 멀티플렉서; 및 상기 스캔 테스트 모드 신호에 따라 상기 APB 출력 데이터와 출력데이터 중 APB 출력데이터를 상기 AHB로 전송하는 APB 출력 멀티플렉서를 포함하며, 기능 테스트 모드 수행시, 상기 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 입력된 데이터는 상기 TIC 모듈로 제공되고, 상기 EBI 모듈로부터 출력되는 데이터는 상기 외부와 연결된 양방향 데이터버스를 통해 외부로 출력되며, 상기 테스트 래퍼에서 스캔 체인의 수는 상기 버스 크기 이하인 것을 특징으로 하는 시스템 온 칩 테스트 장치
|
