요약 |
본 발명은 IP 코아들로 구성된 시스템 온 칩(SoC) 테스트를 용이하게 하기 위한 개선된 탭 연결 모듈(TLM) 장치에 관한 것이다. 보드 테스트를 위한 표준인 IEEE 1149.1 표준 바운다리 스캔이 구현되어 있는 IP 코아들로 구성된 보드상의 칩칩(SoC) 테스트용 탭(TAP1)과, 코아 테스트용 탭들(TAP2, TAP3, TAP4)을 구비한 시스템에 있어서: SEL_TLM, TDI(Test Data In), TCK(Test Clock), TMS(Test Mode Sequence), TRST*(Test Reset),TDO(Test Data Out)를 입력받아 각 탭들을 동적으로 모든 연결을 제어하도록 SCE_EN, ENA 신호, Reset* 신호를 제공하는 탭 연결 모듈(TLM); 및 탭 연결 모듈(TLM)로부터 SCE_EN, ENA 신호를 입력받아 각 탭(TAP1, TAP2, TAP3, TAP4)들을 활성화 또는 비활성화 시키기 위해 TMS 신호를 각 탭으로 제공하는 상태 조건 확장자들(SCE1, SCE2, SCE3, SCE4)를 포함한다.따라서, 보드 테스트 표준인 IEEE1149.1을 변경하지 않고 사용함으로서 설계시간을 단축하고, 테스트 시에 IP 코아들을 동적으로 모든 연결을 할 수 있고 개별적인 IP 코아테스트 및 IP 코아간의 연결선 점검 또는 보드 상에서의 칩(SoC) 테스트를 효율적으로 할 수 있다.IP코아, 시스템 온 칩(SoC), TLM(TAP Linking Module)
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