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중성자 광의 광로 상에 배치되어 중성자 광을 브래그 회절시키는 제1 선행단색기;상기 제1 선행단색기로부터 회절된 중성자 광을 받아 시료측으로 브래그 회절시키는 제1 단색기;상기 시료를 투과한 중성자 광을 분석하는 제1 분석기 세트를 포함하고,상기 제1 분석기 세트는 상기 제1 단색기에 대해 상기 시료를 기준으로 반대편에 위치하는 복수 개의 제1 분석기; 및 상기 복수 개의 제1 분석기 각각에서 회절된 중성자 광을 각각 검출하는 복수 개의 제1 검출기뱅크;를 포함하고, 상기 복수 개의 제1 분석기는 상기 시료를 투과한 중성자 광의 진행 방향을 따라 순차적으로 일직선으로 이웃하여 배치된 제1-1 분석기 및 제1-2 분석기를 포함하고, 상기 제1-1 분석기 및 제1-2 분석기는 제1-2 분석기의 제1 벽면에서 회절되는 중성자가 제1-1 분석기의 제1 벽면을 만나지 않도록 배치되고, 상기 복수 개의 제1 검출기뱅크는 각각 대응되는 상기 복수 개의 제1 분석기에서 회절된 중성자 광만을 검출하도록 배치된 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 복수 개의 제1 검출기뱅크 각각의 사이에는 차폐벽이 배치된 극소각 중성자 산란 장치
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제2항에 있어서, 상기 차폐벽은 카드뮴, 붕소가 첨가된 고분자 수지, 및 붕소-알루미늄 복합체로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 복수 개의 제1 검출기뱅크 각각은 복수 개의 제1 검출기를 포함하고, 상기 복수 개의 제1 검출기는 상기 제1 검출기의 반지름만큼 이격되어 배치된 극소각 중성자 산란 장치
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제4항에 있어서, 상기 복수 개의 제1 검출기는 2 이상의 층을 형성하고, 제1 층에는 상기 제1 검출기의 반지름만큼 이격되어 배치되고, 제2 층에는 상기 제1 층에 배치된 제1 검출기 사이의 빈 공간에 대응되는 위치에 배치된 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 단색기의 회절면 및 상기 복수 개의 제1 분석기의 회절면이 서로 마주보고, rocking 곡선을 이용하여 산란벡터가 0 인 위치에서 검출되는 중성자 세기가 최대가 되도록 상기 제1 단색기 및 상기 복수 개의 제1 분석기가 배치된 극소각 중성자 산란 장치
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7
제1항에 있어서,상기 제1 단색기 후방에는 상기 제1 단색기를 투과한 중성자 광을 검출하기 위한 빔모니터가 설치되고, 상기 제1 분석기 세트 내 복수 개의 제1 분석기를 모두 투과한 중성자 광을 검출하기 위한 투과율 측정 검출기가 상기 복수 개의 제1 분석기 후방에 설치되는 극소각 중성자 산란 장치
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8
제7항에 있어서, 상기 빔모니터 및 상기 투과율 측정 검출기는 중성자 광이 입사하는 부분을 제외하고는 모두 차폐하는 차폐벽을 포함하는 극소각 중성자 산란장치
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제1항에 있어서,상기 제1 단색기가 내부에 배치되는 단색기 챔버와,상기 제1 분석기세트가 내부에 배치되는 분석기 챔버와,상기 단색기 챔버 및 상기 분석기 챔버를 진공으로 유지하기 위한 진공 펌프를 더 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 선행단색기와 상기 제1 단색기 사이를 연결하는 제1 초거울유도관을 더 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 단색기 및 상기 제1 분석기 세트에 구비된 복수 개의 제1 분석기는, 제1 벽면과 제2 벽면을 구비하며, 상기 제1 벽면과 상기 제2 벽면 사이에 중성자 광의 통로가 형성되는 오목요철형 구조이고, 상기 제1 벽면에는 제1 및 제2 슬릿이 형성되고 상기 제2 벽면의 중앙에 제3 슬릿이 형성되어 입사된 중성자 광이 5회 이상 반사될 수 있고,상기 제1 슬릿, 상기 제2 슬릿 및 상기 제3 슬릿은 중성자 차폐체판으로 가로막힌 극소각 중성자 산란 장치
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12
제11항에 있어서,상기 중성자 차폐체판은 카드뮴 또는 가돌리늄으로 형성된 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서,상기 제1 선행단색기는 이등방성의 흑연 또는 실리콘 단결정으로 이루어지며,상기 제1 단색기와 상기 제1 분석기 세트 내 복수 개의 분석기는 실리콘 단결정으로 이루어지는 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 중성자 광의 광로 상에 배치되며 상기 제1 선행단색기에서 브래그 회절되는 중성자 광보다 단파장의 중성자 광을 브래그 회절시키는 제2 선행단색기;상기 제2 선행단색기로부터 회절된 중성자 광을 받아 시료측으로 브래그 회절시키는 제2 단색기;상기 시료를 투과한 중성자 광을 분석하는 제2 분석기 세트를 포함하고, 상기 제2 분석기 세트는 상기 제2 단색기에 대해 상기 시료를 기준으로 반대편에 위치하는 제2 분석기; 및 상기 제2 분석기에서 회절된 중성자 광을 검출하는 제2 검출기뱅크;를 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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제14항에 있어서, 상기 제2 선행단색기와 상기 제2 단색기 사이를 연결하는 제2 초거울유도관을 더 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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16
제14항에 있어서,상기 제2 단색기 및 상기 제2 분석기 세트의 제2 분석기는, 제1 벽면과 제2 벽면을 구비하며, 그들 사이에 중성자 광의 통로가 형성되는 오목요철형 구조이고, 상기 제1 벽면에는 제1 및 제2 슬릿이 형성되고 상기 제2 벽면의 중앙에 제3 슬릿이 형성되어 입사된 중성자 광이 5회 이상 반사될 수 있고, 상기 제1 슬릿, 상기 제2 슬릿 및 상기 제3 슬릿은 중성자 차폐체판으로 가로막힌 극소각 중성자 산란 장치
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17
제16항에 있어서,상기 중성자 차폐체판은 카드뮴 또는 가돌리늄으로 형성된 극소각 중성자 산란장치
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제14항에 있어서,상기 제2 선행단색기는 이등방성의 흑연 또는 실리콘 단결정으로 이루어지며,상기 제2 단색기와 상기 제2 분석기 세트의 제2 분석기는 실리콘 단결정으로 이루어지는 극소각 중성자 산란 장치
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제14항에 있어서, 상기 제1 선행단색기는 4Å 이상의 파장을 갖는 중성자 광을 브래그 회절시키고, 상기 제2 선행단색기는 2Å 이하의 파장을 갖는 중성자 광을 브래그 회절시키는 극소각 중성자 산란 장치
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20
제14항에 있어서, 상기 제1 단색기, 상기 제2 단색기, 상기 제1 분석기 세트 및 상기 제2 분석기 세트의 둘레에는 폐곡선의 격리홈이 형성되는 극소각 중성자 산란 장치
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제14항에 있어서,상기 제1 단색기가 내부에 배치되는 제1 단색기 챔버, 상기 제2 단색기가 내부에 배치되는 제2 단색기 챔버, 상기 제1 분석기 세트가 내부에 배치되는 제1 분석기 챔버, 상기 제2 분석기 세트가 내부에 배치되는 제2 분석기 챔버, 및 상기 제1 및 제2 단색기 챔버 및 상기 제1 및 제2 분석기 챔버를 진공으로 유지하기 위한 진공 펌프를 더 포함하고, 상기 진공 펌프는 격리홈의 외측에 설치되는 극소각 중성자 산란 장치
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제21항에 있어서, 상기 진공 펌프와 상기 제1 및 제2 단색기 챔버 및 상기 제1 및 제2 분석기 챔버를 각각 연결하는 진공 고무튜브,상기 진공 고무튜브를 지지하는 진동차단 블럭을 더 포함하는 극소각 중성자 산란 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 선행단색기는 회전되어 상기 중성자광의 광로와의 각도를 조절할 수 있어서 서로 다른 파장의 중성자 광을 브래그 회절시킬 수 있으며, 상기 제1 선행단색기로부터 회절된 중성자 광을 받아 시료측으로 브래그 회절시키는 단결정으로 이루어진 제2 단색기; 및상기 시료를 투과한 중성자 광을 분석하는 제2 분석기 세트;를 포함하고, 상기 제2 분석기 세트는 상기 제2 단색기에 대해 상기 시료를 기준으로 반대편에 위치하고 단결정으로 이루어진 제2 분석기; 및 상기 제2 분석기에서 회절된 중성자 광을 검출하는 제2 검출기뱅크;를 포함하고, 상기 제2 검출기뱅크는 상기 제2 분석기에서 회절된 중성자 광을 검출하도록 배치되고, 상기 제1 선행단색기에서 장파장의 중성자광은 상기 제1 단색기로 브래그 회절되고, 상기 제1 선행단색기 에서 단파장의 중성자광은 상기 제2 단색기로 브래그 회절되는 극소각 중성자 산란 장치
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제23항에 있어서,상기 제1 선행단색기가 4Å 이상의 파장을 갖는 중성자 광을 브래그 회절시키는 각도로 배치된 경우 상기 중성자 광은 상기 제1 단색기 측으로 회절되고, 상기 제1 선행단색기가 2Å 이하의 파장을 갖는 중성자 광을 브래그 회절시키는 각도로 배치된 경우 상기 중성자 광은 상기 제2 단색기 측으로 회절되는 극소각 중성자 산란 장치
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