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파장 가변 광가감기를 이용한 광가입자망의 장애 위치 검출시스템

  • 기술번호 : KST2014051236
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광대역 광원, 광선로 및 광선로 장애 위치 검출장치를 포함하는 광선로 장애 위치 검출 시스템이 개시된다. 본 발명에 따른 광선로 장애 위치 검출장치는 광대역 광원의 광신호 중 장애가 발생한 채널의 신호만을 분기한 후 광펄스 신호로 변환하고, 광펄스 신호를 광대역 광원의 신호와 결합하여 광선로에 인가하며, 인가된 신호가 장애가 있는 광선로를 통과함에 따라 발생되는 후방산란광 중 장애가 있는 광선로의 후방산란광만을 분기하여, 시간에 따른 후방산란광의 크기변화를 분석함으로써 장애 위치를 검출하는 장치이다. 상기 광선로 장애 위치 검출 시스템은 각 채널에 독립적으로 설치되는 것이 아니므로 종래 기술에 비해 구조가 간단하며, 파장 분할 다중방식 수동형 광 네트워크(WDM-PON: wavelength division multiplexing-passive optical network)에 포함되는 하향 광대역 광원의 신호를 사용하므로 추가적인 광원을 필요로 하지 않는 장점이 있다.파장가변 광가감기, 장애위치검출, 수동형 광 네트워크
Int. CL H04B 10/07 (2013.01) H04L 12/24 (2013.01) H04B 10/2581 (2013.01) H04B 10/00 (2013.01)
CPC H04B 10/0791(2013.01) H04B 10/0791(2013.01) H04B 10/0791(2013.01) H04B 10/0791(2013.01)
출원번호/일자 1020070027518 (2007.03.21)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0866068-0000 (2008.10.24)
공개번호/일자 10-2008-0085996 (2008.09.25) 문서열기
공고번호/일자 (20081030) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.03.21)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이관일 대한민국 서울 송파구
2 이상배 대한민국 서울 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0223437-02
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.02.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0015925-91
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.05.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0266360-18
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0431496-98
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.06.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0431508-58
7 등록결정서
Decision to grant
2008.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0527143-17
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
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삭제
2 2
삭제
3 3
입력된 신호에서 미리 설정된 파장의 신호를 분기하여, 분기된 신호 및 나머지 신호를 각각 상이한 포트로 출력하는 제1 파장가변 광가감기;상기 제1 파장가변 광가감기에서 분기되어 출력된 신호를 광펄스 신호로 전환하는 전기광학 변조기;상기 광펄스 신호를 제2 파장가변 광가감기에 전달하며, 제2 파장가변 광가감기에서 전달되는 후방산란광을 분석 수단에 전달하는 광순환기;상기 광순환기에서 전달된 신호 및 상기 제1 파장가변 광가감기에서 출력된 나머지 신호를 결합하여 광선로에 인가하며, 상기 결합된 신호가 광선로를 거치면서 발생하는 후방산란광 중 장애가 있는 광선로의 후방산란광만을 분기하여 상기 광순환기에 출력하는 제2 파장가변 광가감기;상기 광순환기에 의하여 전달된 후방산란광 신호를 수신하고 시간에 따른 상기 후방산란광 신호의 크기변화를 분석하여 장애 위치 검출 결과를 표시하는 분석 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출장치
4 4
제 3항에 있어서,상기 분석 수단은,상기 광순환기로부터 후방산란광 신호를 수신하여 전기신호로 변환하는 아발란치 광 다이오드;상기 아발란치 광 다이오드로부터 전기신호를 수신하여 증폭하는 신호 증폭기;증폭된 상기 신호를 변환하는 아날로그 디지털 변환기;변환된 상기 신호를 처리하여 장애 위치 검출 결과를 표시하는 신호 처리기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출장치
5 5
제 3항에 있어서,상기 파장가변 광가감기는,상기 광대역 광원의 신호가 입력되면, 미리 설정된 파장의 신호만을 상이한 모드의 신호로 전환하는 음향광학 가변필터; 및상기 음향광학 가변필터로부터 전달된 신호의 모드를 파악하여, 각 모드의 신호를 별개의 광섬유로 출력하는 모드 선택 방향성 결합기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출장치
6 6
제 5항에 있어서,상기 음향광학 가변필터는 이중모드 광섬유를 사용하여 상이한 모드를 가진 2개의 신호를 동시에 전달하며,상기 모드선택 결합기는 상기 음향광학 가변필터의 이중모드 광섬유로부터 전달된 신호를 분기하며, 단일모드 광섬유 및 이중모드 광섬유를 사용하여 각 광섬유에 단일한 모드의 신호를 전달하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출장치
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광대역 광원으로부터 출력된 신호를 광선로에 인가하는 단계;상기 광선로 중 장애가 발생한 광선로를 통과하는 신호만을 분기하는 단계;분기된 상기 신호를 광펄스 신호로 전환하는 단계;상기 광펄스 신호를 분기되지 않은 상기 광대역 광원 신호와 결합하여 상기 광선로에 인가하는 단계;결합된 상기 신호가 광선로를 통과함에 따라 발생되는 후방산란광 중, 장애가 있는 광선로에서 발생한 후방산란광만을 분기하는 단계; 및상기 장애가 있는 광선로에서 발생한 후방산란광의 시간에 따른 크기 변화를 분석하여 장애 위치를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출 방법
8 8
제 7항에 있어서,상기 장애 위치를 검출하는 단계는,장애가 있는 광선로에서 발생한 후방산란광을 수신하여 전기신호로 변환하는 단계;상기 전기신호를 수신 및 증폭하는 단계;증폭된 상기 신호를 아날로그-디지털 변환하는 단계; 및아날로그-디지털 변환된 상기 신호를 처리하여 장애 위치 검출 결과를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출 방법
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광선로를 따라 입력된 신호에서, 장애가 있는 광선로에 해당하는 파장의 신호만을 상이한 모드의 신호로 전환하여 전달하는 단계;전달된 상기 신호의 모드를 판단하여, 장애가 있는 광선로에 해당하는 것으로 판단된 신호를 광펄스 신호로 변환하는 단계;상기 광펄스 신호를 모드가 전환되지 않은 상기 신호들과 결합하여, 결합된 상기 신호가 광선로를 거치면서 발생하는 후방산란광을 수신하는 단계;수신된 상기 후방산란광에서 장애가 있는 광선로에 해당하는 후방산란광만을 상이한 모드의 후방산란광으로 전환하여 전달하는 단계; 및상기 장애가 있는 광선로에 해당하는 후방산란광의 시간에 따른 크기변화를 분석하여 장애 위치를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출 방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 장애 위치를 검출하는 단계는,장애가 있는 광선로에서 발생한 후방산란광을 수신하여 전기신호로 변환하는 단계;상기 전기신호를 수신 및 증폭하는 단계;증폭된 상기 신호를 아날로그-디지털 변환하는 단계; 및아날로그-디지털 변환된 상기 신호를 처리하여 장애 위치 검출 결과를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광선로 장애 위치 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.