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양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법에 있어서, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판 상에 제 1 도전층을 형성하는 단계; c) 상기 제 1 도전층 상에 버퍼층을 형성하는 단계; e) 상기 버퍼층 상에 양자점을 형성하는 단계; f) 상기 양자점을 덮는 덮개층을 형성하는 단계; g) 상기 덮개층 상에 제 2 도전층을 형성하는 단계; 및 h) 수소화 처리를 실시하는 단계 를 포함하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 기판은 GaAs 기판이고, 상기 버퍼층은 GaAs로 형성되는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조방법
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제 2 항에 있어서, 상기 양자점은 InAs 또는 InGaAs으로 형성하는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 양자점은 원자층 성장 기법(Atomic Layer Epitaxy, ALE) 또는 S-K(Stranski-Krastanov) 성장법으로 약 480℃에서 형성하는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 수소화 처리는 수소 분위기의 챔버에 60 mW/cm2의 파워밀도인 고주파(Radio Frequency, RF)를 인가하여 발생한 수소 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 수소화 처리시, 챔버내 압력은 40 mTorr이며, 온도는 약 150℃인 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 수소화 처리는 약 20분 동안 실시되는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 e) 및 f) 단계를 반복 실시하여 다수의 층으로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 8 항에 있어서, 상기 제 1 도전층 및 제 2 도전층은 n형 불순물을 고농도로 도핑한 GaAs으로 형성되는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 도전층 상에 제 1 배리어층을 형성하는 단계; 및 상기 제 1 배리어층 상에 제 2 배리어층을 형성하는 단계 를 더 포함하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 제 1 배리어층은 GaAs로 형성하고, 상기 제 2 배리어층은 p형 불순물이 도핑된 GaAs로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조방법
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제 10 항에 있어서, 상기 제 1 배리어층은 GaAs로 형성하고, 상기 제 2 배리어층은 p형 불순물이 도핑된 GaAs로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조방법
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