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수소화 처리를 이용한 양자점 구조를 가지는 광 소자의제조 방법

  • 기술번호 : KST2014051314
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 양자점 성장시 생성되는 결함을 수소화 처리를 통하여 줄여서, 반도체 소자의 광특성 뿐만 아니라 전기적 특성을 향상시킬 수 있는, 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 광 소자 제조 방법은, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판 상에 제 1 도전층을 형성하는 단계; c) 상기 제 1 도전층 상에 버퍼층을 형성하는 단계; e) 상기 버퍼층 상에 양자점을 형성하는 단계; f) 상기 양자점을 덮는 덮개층을 형성하는 단계; g) 상기 덮개층 상에 제 2 도전층을 형성하는 단계; 및 h) 수소화 처리를 실시하는 단계를 포함한다. 양자점, InAs, InGaAs, GaAs, 수소화 처리, 결함
Int. CL H01L 31/00 (2006.01)
CPC H01L 31/035218(2013.01) H01L 31/035218(2013.01) H01L 31/035218(2013.01) H01L 31/035218(2013.01) H01L 31/035218(2013.01) H01L 31/035218(2013.01)
출원번호/일자 1020050003016 (2005.01.12)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0644970-0000 (2006.11.03)
공개번호/일자 10-2006-0082342 (2006.07.18) 문서열기
공고번호/일자 (20061114) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.01.12)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최원준 대한민국 서울 강북구
2 황성호 대한민국 서울 성북구
3 송진동 대한민국 서울 성북구
4 이정일 대한민국 서울 강동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 주성민 대한민국 서울특별시 종로구 사직로*길 **, 세양빌딩 (내자동) *층(김.장법률사무소)
2 장수길 대한민국 서울특별시 종로구 사직로*길 **, 세양빌딩 (내자동) *층(김.장법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.01.12 수리 (Accepted) 1-1-2005-0018056-87
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.03.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.04.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0025325-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0244233-33
5 의견서
Written Opinion
2006.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2006-0455497-15
6 등록결정서
Decision to grant
2006.10.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0626252-50
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법에 있어서, a) 기판을 준비하는 단계; b) 상기 기판 상에 제 1 도전층을 형성하는 단계; c) 상기 제 1 도전층 상에 버퍼층을 형성하는 단계; e) 상기 버퍼층 상에 양자점을 형성하는 단계; f) 상기 양자점을 덮는 덮개층을 형성하는 단계; g) 상기 덮개층 상에 제 2 도전층을 형성하는 단계; 및 h) 수소화 처리를 실시하는 단계 를 포함하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 기판은 GaAs 기판이고, 상기 버퍼층은 GaAs로 형성되는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 양자점은 InAs 또는 InGaAs으로 형성하는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 양자점은 원자층 성장 기법(Atomic Layer Epitaxy, ALE) 또는 S-K(Stranski-Krastanov) 성장법으로 약 480℃에서 형성하는 것을 특징으로 하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 수소화 처리는 수소 분위기의 챔버에 60 mW/cm2의 파워밀도인 고주파(Radio Frequency, RF)를 인가하여 발생한 수소 플라즈마를 이용하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 수소화 처리시, 챔버내 압력은 40 mTorr이며, 온도는 약 150℃인 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 수소화 처리는 약 20분 동안 실시되는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
8 8
제 4 항에 있어서, 상기 e) 및 f) 단계를 반복 실시하여 다수의 층으로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 제 1 도전층 및 제 2 도전층은 n형 불순물을 고농도로 도핑한 GaAs으로 형성되는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 도전층 상에 제 1 배리어층을 형성하는 단계; 및 상기 제 1 배리어층 상에 제 2 배리어층을 형성하는 단계 를 더 포함하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 광 소자의 제조 방법
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제 10 항에 있어서, 상기 제 1 배리어층은 GaAs로 형성하고, 상기 제 2 배리어층은 p형 불순물이 도핑된 GaAs로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조방법
12 11
제 10 항에 있어서, 상기 제 1 배리어층은 GaAs로 형성하고, 상기 제 2 배리어층은 p형 불순물이 도핑된 GaAs로 형성하는 것을 특징으로하는 양자점 구조를 가지는 반도체 소자의 제조방법
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.