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반도체 미세회로 형성을 위한 반사 방지막용 열가교결합성 유기 고분자, 이를 이용한 반사 방지막 조성물 및그 제조방법

  • 기술번호 : KST2014051373
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 250 nm 이하의 단파장의 원자외선을 이용한 고집적 반도체의 광미세 회로 가공기술(photolithography)에서의 노광 시에 포토레지스트 층 밑의 기질 층에서 일어나는 반사를 방지함으로써 포토레지스트 미세 화상에 발생하는 정재파(standing wave) 효과를 제거할 수 있으며, 가교 결합 기능을 갖는, 아래의 화학식 1로 표시되는 바닥 반사 방지막(bottom antireflective coating layer) 재료용 유기 고분자, 이를 이용한 바닥 반사 방지막 제조용 조성물 및 이들의 제조방법에 관한 것이다. [화학식 1]
Int. CL G03F 7/004 (2006.01)
CPC G03F 7/091(2013.01) G03F 7/091(2013.01) G03F 7/091(2013.01) G03F 7/091(2013.01) G03F 7/091(2013.01)
출원번호/일자 1020030065675 (2003.09.22)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0528454-0000 (2005.11.07)
공개번호/일자 10-2005-0029420 (2005.03.28) 문서열기
공고번호/일자 (20051115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.09.22)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안광덕 대한민국 서울특별시서초구
2 한동근 대한민국 서울특별시노원구
3 강종희 대한민국 서울특별시노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2003-0350243-48
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.09.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.10.19 수리 (Accepted) 9-1-2005-0065837-73
4 등록결정서
Decision to grant
2005.10.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0534010-04
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
1 1
아래의 화학식 1로 표시되는 고분자: [화학식 1] 식 중, R은 방향족 카보닐의 벤조인 에테르, 아세토페논 및 안트라센 유도체로 구성된 군에서 선택되고, R1은 수소, C1 - C6 알킬, C1 - C6 알콕시 알킬 및 C1 - C6 히드록시 알킬로 구성된 군에서 선택되고, R2는 보호된 말레이미드 또는 퓨릴기이고, X는 수소, 카르복실기, 히드록시기
2 2
제 1 항에 있어서, 중량 평균 분자량이 10,000 내지 100,000 범위인 고분자
3 3
아래의 화학식 5 내지 8로 표시되는 화합물 중에서 선택되는 2 종 이상의 서로 다른 단량체를 라디칼 중합시키는 것을 포함하는 화학식 1로 표시되는 고분자의 제조방법: [화학식 1] [화학식 5] [화학식 6] [화학식 7] [화학식 8] 식 중, R은 방향족 카보닐의 벤조인 에테르, 아세토페논 및 안트라센 유도체로 구성된 군에서 선택되고, R1은 수소, C1 - C6 알킬, C1 - C6 알콕시 알킬 및 C1 - C6 히드록시 알킬로 구성된 군에서 선택되고, R2는 보호된 말레이미드 또는 퓨릴기이고, X는 수소, 카르복실기, 히드록시기
4 4
제 3 항에 있어서, 다이옥산, 테트라하이드로퓨란, 메틸에틸케톤 및 방향족 용매로 이루어진 군에서 선택되는 용매를 중합 용매로 사용하고, 벤조일 퍼옥사이드, 아조비스이소부티로니트릴 및 디-t-부틸 퍼옥사이드로 구성된 군에서 선택되는 라디칼 개시제를 사용하는 제조방법
5 5
제 1 항 또는 제 2 항에 따른 고분자를 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 에틸 3-에톡시프로피오네이트, 에틸 락테이트, 메틸 3-메톡시프로피오네이트 및 시클로헥산온으로 구성된 군에서 선택되는 용매에 0
6 6
제 5 항에 따른 유기 반사 방지막 제조용 조성물로부터 제조되는, 반도체 광미세 회로 가공 공정에서의 초미세 회로 형성을 위한 반사 방지막
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.