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엑스선을 이용한 수분함량 분석방법

  • 기술번호 : KST2014051736
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 엑스선을 이용한 수분함량 분석방법에 관한 것으로, 구체적으로는 엑스선 발생장치의 표적물질로부터 발생되는 특성 엑스선을 대상시료에 조사하여 얻어지는 콤프턴선의 산란 신호세기를 이용하여 대상 시료를 파괴하지 않고도, 넓은 범위의 수분함량을 단시간에 측정하여 공업분야뿐만 아니라 농산물, 토양의 수분함량 측정에도 유용하게 사용할 수 있다. 수분함량분석, 엑스선, 콤프턴 산란
Int. CL G01N 23/18 (2006.01) G01N 23/00 (2006.01) G01N 23/087 (2006.01)
CPC G01N 23/20066(2013.01) G01N 23/20066(2013.01) G01N 23/20066(2013.01) G01N 23/20066(2013.01) G01N 23/20066(2013.01) G01N 23/20066(2013.01)
출원번호/일자 1020080037163 (2008.04.22)
출원인 한국원자력연구원
등록번호/일자 10-0997091-0000 (2010.11.23)
공개번호/일자 10-2009-0111513 (2009.10.27) 문서열기
공고번호/일자 (20101130) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 보정승인간주
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.04.22)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종윤 대한민국 대전 서구
2 최용석 대한민국 대전 유성구
3 박용준 대한민국 대전 유성구
4 송규석 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0286277-37
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.08.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2009-0052086-35
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0030321-73
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2010-0190177-55
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0266296-95
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.14 수리 (Accepted) 1-1-2010-0310146-22
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0310147-78
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0400681-17
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0731369-15
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.11.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0731371-07
12 등록결정서
Decision to grant
2010.11.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0527807-73
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
고에너지의 전자를 표적물질에 직접 충돌시키거나 고에너지의 전자를 표적물질에 직접 충돌시켜 발생 되는 엑스선을 제2의 표적물질에 충돌시켜 엑스선 발생장치의 표적물질로부터 특성 엑스선을 발생시키는 단계; 상기 특성 엑스선을 대상시료에 조사하는 단계; 및 상기 대상시료에 조사된 특성 엑스선이 산란되어 발생하는 콤프턴선의 산란 신호세기를 측정하는 단계를 포함하는 대상시료 내의 수분함량 분석방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 표적물질은 로듐, 구리, 몰리브덴, 은, 크롬, 텅스텐, 가돌리늄, 지르코늄, 게르마늄, 철 및 티타늄으로 이루어진 군으로부터 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 수분함량 분석방법
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서, 상기 콤프턴 산란은 기체비례계수기, 가이거 계수기(geiger counter), 신틸레이션 계수기(scintillation counter) 또는 반도체 검출기를 사용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 수분함량 분석방법
8 8
제1항에 있어서, 상기 대상시료는 다공성 시료인 것을 특징으로 하는 수분함량 분석방법
9 9
제8항에 있어서, 상기 다공성 시료는 다공성 실리카인 것을 특징으로 하는 수분함량 분석방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.