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푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기 및 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석을 위한 이온 집중 방법

  • 기술번호 : KST2014054624
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기(Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometer; FT-ICR MS)는, 이온들을 생성하는 이온화원; 상기 이온화원에 의해 생성된 이온들이 공간상에서 분산되어 입사되며, 입사된 이온들을 선택적으로 감속시킴으로써 상기 이온들 사이의 거리를 감소시키는 감속 렌즈; 및 상기 감속 렌즈를 통과한 이온들이 입사되는 이온 싸이클로트론 공명 셀을 포함할 수 있다. 감속 렌즈를 이용하여 이온들의 질량에 따른 퍼짐을 억제하고 이온을 집중시켜 한 번에 측정 가능한 질량 측정 영역을 확대시킬 수 있으며, 또한 이온들이 ICR 셀에 효과적으로 입사되므로 측정 감도를 개선할 수 있다.
Int. CL G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100122559 (2010.12.03)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-1239747-0000 (2013.02.27)
공개번호/일자 10-2012-0061297 (2012.06.13) 문서열기
공고번호/일자 (20130306) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.03)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최명철 대한민국 충청북도 청원군
2 박아름 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구
3 김현식 대한민국 대전광역시 유성구
4 김승용 대한민국 대전광역시 유성구
5 유종신 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2010-0797768-43
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.17 수리 (Accepted) 9-1-2012-0012691-15
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0441163-53
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.09.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0758921-54
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.09.19 수리 (Accepted) 1-1-2012-0758922-00
10 등록결정서
Decision to grant
2012.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0723540-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
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번호 청구항
1 1
이온들을 생성하는 이온화원; 상기 이온화원에 의해 생성된 이온들이 공간상에서 분산되어 입사되며, 입사된 이온들을 선택적으로 감속시킴으로써 상기 이온들 사이의 거리를 감소시키는 감속 렌즈; 및상기 감속 렌즈를 통과한 이온들이 입사되는 이온 싸이클로트론 공명 셀을 포함하되,상기 감속 렌즈는 이온들의 진행 방향을 따라 배열되며 전위가 인가될 수 있는 복수 개의 전극을 포함하고,상기 복수 개의 전극 각각은 이온이 통과하기 위한 홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기
2 2
삭제
3 3
제 1항에 있어서,이온들이 상기 복수 개의 전극의 상기 홀을 통과하는 도중 미리 결정된 시간 동안 상기 복수 개의 전극에 전위가 인가되는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기
4 4
제 3항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 이온들의 진행 방향을 따른 전위 기울기를 형성하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기
5 5
제 4항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 상기 이온 싸이클로트론 공명 셀에 인접한 전극일수록 증가하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기
6 6
제 4항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 상기 이온 싸이클로트론 공명 셀에 인접한 전극일수록 감소하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기
7 7
이온들이 공간상에서 분산되며 전파되는 단계; 전파된 이온들을 감속 렌즈에 입사시키는 단계; 상기 감속 렌즈에 의해 이온들을 선택적으로 감속시킴으로써 이온들 사이의 거리를 감소시키는 단계; 및상기 감속 렌즈를 통과한 이온들을 이온 싸이클로트론 공명 셀에 입사시키는 단계를 포함하되,상기 감속 렌즈는, 이온들의 진행 방향을 따라 배열되며 각각 이온이 통과하기 위한 홀을 포함하는 복수 개의 전극을 포함하고, 상기 이온들 사이의 거리를 감소시키는 단계는, 이온들이 상기 복수 개의 전극의 상기 홀을 통과하는 도중 미리 결정된 시간 동안 상기 복수 개의 전극에 전위를 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석을 위한 이온 집중 방법
8 8
삭제
9 9
제 7항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 이온들의 진행 방향을 따른 전위 기울기를 형성하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석을 위한 이온 집중 방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 상기 이온 싸이클로트론 공명 셀에 인접한 전극일수록 증가하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석을 위한 이온 집중 방법
11 11
제 9항에 있어서,상기 복수 개의 전극의 전위는 상기 이온 싸이클로트론 공명 셀에 인접한 전극일수록 감소하는 것을 특징으로 하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석을 위한 이온 집중 방법
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1 US09129784 US 미국 FAMILY
2 US20130228681 US 미국 FAMILY
3 WO2012074234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
4 WO2012074234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2013228681 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9129784 US 미국 DOCDBFAMILY
3 WO2012074234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
4 WO2012074234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.