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초고속 대량 시료 분석을 위한 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014054630
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치는, 레이저 광원; 상기 레이저 광원에 의해 조사된 레이저를 복수 개의 집속된 레이저 빔으로 집속하는 렌즈 어레이; 및 상기 렌즈 어레이와 시료 사이에 위치하며, 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔에 의하여 시료로부터 생성된 이온들을 복수 개의 이온 빔으로 집속하는 집속부를 포함할 수 있다. 초고속 대량 시료 분석을 위한 방법은, 레이저를 집속하여 복수 개의 집속된 레이저 빔을 생성하는 단계; 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔을 시료에 조사하여 시료를 이온화하는 단계; 및 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔에 의해 시료로부터 생성된 이온들을 집속하여 복수 개의 이온 빔을 생성하는 단계를 포함할 수 있다. 대량 시료, 이온화, 레이저, MALDI, 분자 이미지, 질량 분석
Int. CL G02B 27/00 (2006.01) G01N 33/483 (2006.01) G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC H01J 49/164(2013.01) H01J 49/164(2013.01) H01J 49/164(2013.01) H01J 49/164(2013.01) H01J 49/164(2013.01) H01J 49/164(2013.01)
출원번호/일자 1020090112077 (2009.11.19)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-1041369-0000 (2011.06.08)
공개번호/일자 10-2011-0055165 (2011.05.25) 문서열기
공고번호/일자 (20110615) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.11.19)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최명철 대한민국 서울특별시 강북구
2 김현식 대한민국 대전광역시 유성구
3 유종신 대한민국 대전광역시 유성구
4 김건희 대한민국 대전광역시 유성구
5 장기수 대한민국 대전광역시 대덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2009.11.19 수리 (Accepted) 1-1-2009-0711272-03
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2010.11.15 수리 (Accepted) 9-1-2010-0070449-41
4 등록결정서
Decision to grant		 2011.03.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0138495-31
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
레이저 광원; 상기 레이저 광원에 의해 조사된 레이저를 복수 개의 집속된 레이저 빔으로 집속하는 렌즈 어레이; 및 상기 렌즈 어레이와 시료 사이에 위치하며, 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔에 의하여 시료로부터 생성된 이온들을 복수 개의 이온 빔으로 집속하는 집속부를 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 렌즈 어레이는 어레이 형태로 배열되는 복수 개의 렌즈를 포함하되, 상기 각 렌즈는 상기 레이저 광원에 의해 조사된 레이저를 상기 집속된 레이저 빔으로 집속하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 집속부는, 서로 이격되며 일 방향을 따라 서로 대향하여 배열된 복수 개의 판; 및 상기 각 판에 형성되며 어레이 형태로 배열된 복수 개의 홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
4 4
제 3항에 있어서, 상기 집속부는, 시료로부터 생성되는 이온들을 상기 복수 개의 판에 인가되는 전력을 이용하여 상기 복수 개의 이온 빔으로 집속하며, 상기 각 이온 빔은 상기 각 홀을 통과하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
5 5
제 4항에 있어서, 상기 복수 개의 판은, 시료로부터 생성되는 이온들을 가속하기 위한 전력이 인가되는 복수 개의 제1 판; 및 상기 복수 개의 제1 판을 통과한 이온들을 상기 복수 개의 이온 빔으로 집속하기 위한 전력이 인가되는 복수 개의 제2 판을 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
6 6
제 1항에 있어서, 상기 집속부와 시료 사이에 위치하며 시료로부터 생성된 이온들을 트래핑하는 이온 트랩을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
7 7
제 6항에 있어서, 상기 이온 트랩은, 서로 이격되며 일 방향을 따라 서로 대향하여 배열된 복수 개의 제1 판; 상기 각 제1 판에 형성되며 어레이 형태로 배열된 복수 개의 제1 홀; 상기 복수 개의 제1 판 사이에 위치하는 제2 판; 및 상기 제2 판에 형성되며 어레이 형태로 배열된 복수 개의 제2 홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
8 8
제 7항에 있어서, 상기 이온 트랩은, 시료로부터 생성되는 이온들을 상기 복수 개의 제1 판 및 상기 제2 판에 인가되는 전자기장을 이용하여 트래핑하며, 상기 각 제2 홀의 직경은 상기 각 제1 홀의 직경보다 큰 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
9 9
제 6항에 있어서, 상기 이온 트랩은 상기 이온 트랩에 인가되는 전력에 따라 트래핑된 이온들을 선택적으로 토출하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 장치
10 10
레이저를 집속하여 복수 개의 집속된 레이저 빔을 생성하는 단계; 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔을 시료에 조사하여 시료를 이온화하는 단계; 및 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔에 의해 시료로부터 생성된 이온들을 집속하여 복수 개의 이온 빔을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 복수 개의 집속된 레이저 빔 및 상기 복수 개의 이온 빔은 각각 어레이 형태로 배열되는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 방법
12 12
제 10항에 있어서, 상기 시료를 이온화하는 단계 후에, 시료로부터 생성된 이온들을 이온 트랩에 의하여 트래핑하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 방법
13 13
제 12항에 있어서, 상기 이온 트랩에 의하여 트래핑하는 단계 후에, 트래핑된 이온들을 상기 이온 트랩으로부터 선택적으로 토출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초고속 대량 시료 분석을 위한 방법
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1 EP02325864 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 US20110114834 US 미국 FAMILY

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1 EP2325864 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 US2011114834 US 미국 DOCDBFAMILY
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