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유전체 공진기를 이용한 방사능 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014055452
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 유전체 공진기를 이용한 방사능 측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 방사능 측정 장치는, 전자계 에너지를 생성하는 소스부, 방사선 흡수 물질을 이용하여 상기 피측정 객체와 상호작용함으로써 방사선을 흡수하여 유전률이 변화하는 유전체 공진기를 통해 소스부로부터 생성된 전자계 에너지를 입력받아 피측정 객체에 조사하고 피측정 객체로부터 반사되는 전파를 검출하는 센서부, 및 소스부를 제어하여 센서부의 공진 주파수를 결정하고 센서부를 통해 검출된 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화로부터 피측정 객체의 방사능을 검출하는 처리부를 포함한다.
Int. CL G01T 1/167 (2006.01) G01T 1/20 (2006.01)
CPC G01T 1/167(2013.01) G01T 1/167(2013.01)
출원번호/일자 1020110105261 (2011.10.14)
출원인 서강대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1322412-0000 (2013.10.21)
공개번호/일자 10-2013-0040473 (2013.04.24) 문서열기
공고번호/일자 (20131104) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.10.14)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이기진 대한민국 서울특별시 종로구
2 이정하 대한민국 서울특별시 마포구
3 김종철 대한민국 서울특별시 강동구
4 김승완 대한민국 서울특별시 관악구
5 장영수 대한민국 충청북도 청주시 흥덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 서울특별시 마포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-0804577-29
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.11.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.12.20 수리 (Accepted) 9-1-2012-0094502-05
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.01.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0008125-73
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2013.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0185893-13
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2013.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2013-0291447-83
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2013.05.06 수리 (Accepted) 1-1-2013-0396239-77
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2013.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2013-0490943-85
9 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period		 2013.06.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0062127-66
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.07.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0602292-10
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0602288-26
12 등록결정서
Decision to grant		 2013.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0692837-72
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.11 수리 (Accepted) 4-1-2017-5005781-67
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.01.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5014626-89
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소정 주파수의 전자계 에너지를 생성하는 소스(source)부;상기 소스부로부터 생성된 전자계 에너지를 입력받아 피측정 객체에 조사하고, 상기 피측정 객체로부터 반사되는 전파를 검출하는 센서(sensor)부; 및상기 소스부를 제어하여 상기 센서부의 공진 주파수를 결정하고, 상기 센서부를 통해 검출된 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화로부터 상기 피측정 객체의 방사능을 검출하는 처리부를 포함하고,상기 센서부는 방사선 흡수 물질을 이용하여 상기 피측정 객체와 상호작용함으로써 상기 피측정 객체로부터 방사선을 흡수하여 유전률이 변화하는 유전체 공진기를 구비하되,상기 방사선 흡수 물질은,상기 피측정 객체로부터 방사되는 방사선을 흡수하여 구조가 변화하고, 상기 변화된 구조에 의해 상기 유전률이 변화하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질은,상기 피측정 객체로부터 방사선이 입사하면 양자의 상호작용에 의해 에너지를 흡수하고,상기 흡수된 에너지를 이용하여 2차 전자가 바닥 상태에 있는 상기 방사선 흡수 물질의 전자 또는 이온을 여기하며,상기 여기된 에너지의 차이에 의해 상기 방사선 흡수 물질의 구조를 변화시킴으로써 상기 유전률이 변화하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 처리부는 상기 센서부를 통해 검출된 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화를 미리 저장된 데이터베이스와 비교함으로써 상기 피측정 객체에 의해 유도된 상기 방사선 흡수 물질의 유전률의 정량적 변화에 대한 시각적인 데이터를 생성하고,상기 생성된 시각적인 데이터를 표시하는 디스플레이부를 더 포함하는 방사능 측정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질의 반사 계수 및 주파수는 상기 피측정 객체로부터 방사되는 방사선에 의해 변화하고,상기 센서부는 상기 반사 계수 및 주파수 변화에 따른 유전상수(dielectric permittivity)를 이용하여 상기 피측정 객체로부터 반사되는 전파를 검출하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 전자계 에너지 및 전파는 상기 피측정 객체와의 상호작용을 고려하여 설정된 마이크로파(microwave)인 것을 특징으로 하는 방사능 측정 장치
7 7
센서를 구비하여 방사능을 측정하는 장치에 있어서,상기 센서는,방사선 흡수 물질을 이용하여 피측정 객체와 상호작용함으로써 상기 피측정 객체로부터 방사선을 흡수하여 구조가 변화하고, 상기 변화된 구조에 의해 유전률이 변화하는 유전체 공진기를 구비하고,전자계 에너지를 입력받아 상기 피측정 객체에 조사하고,상기 피측정 객체와의 상호작용 결과, 상기 피측정 객체로부터 반사되는 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화를 검출하는 것을 특징으로 하는 방사능을 측정하는 장치
8 8
제 7 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질은,상기 피측정 객체로부터 방사선이 입사하면 양자의 상호작용에 의해 에너지를 흡수하고,상기 흡수된 에너지를 이용하여 2차 전자가 바닥 상태에 있는 상기 방사선 흡수 물질의 전자 또는 이온을 여기하며,상기 여기된 에너지의 차이에 의해 상기 방사선 흡수 물질의 구조를 변화시킴으로써 상기 유전률이 변화하는 것을 특징으로 하는 방사능을 측정하는 장치
9 9
제 7 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질은,양자의 상호작용으로 인해 여기된 전자가 다시 안정화 상태로 변화하면서 빛을 방출하는 물질인 것을 특징으로 하는 방사능을 측정하는 장치
10 10
제 7 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질은,요오드화나트륨, 요오드화세슘, 요오드화리튬, 또는 용매에 용해된 액체신틸레이터 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 방사능을 측정하는 장치
11 11
소정 주파수의 전자계 에너지를 생성하여 입력받는 단계;센서가 상기 입력된 전자계 에너지를 피측정 객체에 조사하는 단계;상기 센서가 상기 피측정 객체로부터 반사되는 전파를 검출하는 단계; 및상기 검출된 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화로부터 상기 피측정 객체의 방사능을 검출하는 단계를 포함하고,상기 센서는 방사선 흡수 물질을 이용하여 상기 피측정 객체와 상호작용함으로써 상기 피측정 객체로부터 방사선을 흡수하여 유전률이 변화하는 유전체 공진기를 구비하되,상기 방사선 흡수 물질은,상기 피측정 객체로부터 방사되는 방사선을 흡수하여 구조가 변화하고, 상기 변화된 구조에 의해 상기 유전률이 변화하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 방법
12 12
삭제
13 13
제 11 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질은,상기 피측정 객체로부터 방사선이 입사하면 양자의 상호작용에 의해 에너지를 흡수하고,상기 흡수된 에너지를 이용하여 2차 전자가 바닥 상태에 있는 상기 방사선 흡수 물질의 전자 또는 이온을 여기하며,상기 여기된 에너지의 차이에 의해 상기 방사선 흡수 물질의 구조를 변화시킴으로써 상기 유전률이 변화하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 방법
14 14
제 11 항에 있어서,전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화에 따른 방사능 정보를 생성하여 미리 데이터베이스에 저장하는 단계; 및상기 피측정 객체의 방사능량에 대한 시각적인 데이터를 디스플레이 장치를 통해 표시하는 단계를 더 포함하고,상기 방사능을 검출하는 단계는, 상기 센서를 통해 검출된 전파의 공진 주파수 및 반사율의 변화를 상기 미리 저장된 데이터베이스와 비교함으로써 상기 피측정 객체에 의해 유도된 상기 방사선 흡수 물질의 유전률의 정량적 변화에 대한 시각적인 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 방법
15 15
제 11 항에 있어서,상기 방사선 흡수 물질의 반사 계수 및 주파수는 상기 피측정 객체로부터 방사되는 방사선에 의해 변화하고,상기 센서는 상기 반사 계수 및 주파수 변화에 따른 유전상수를 이용하여 상기 피측정 객체로부터 반사되는 전파를 검출하는 것을 특징으로 하는 방사능 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.