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전원을 공급하는 시간, 전원의 크기 및 전원의 공급 유지 시간을 설정하는 컨트롤러;시험하고자 하는 반도체에 상기 컨트롤러를 통한 설정에 따라 전원을 공급하는 전원 공급부;상기 공급하는 전원에 관한 정보를 표시하는 디스플레이부;타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치와 통신하는 통신 모듈;을 포함하고,상기 컨트롤러는,상기 통신 모듈을 통해 상기 타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치와 접속되어 상기 타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치에 식별자(ID)를 부여하여 관리하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치
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청구항 1에 있어서,상기 전원 공급부는,교류 전원에 포함된 잡음 성분을 제거하는 노이즈 필터부;상기 잡음 성분이 제거된 교류 전원을 직류로 정류하는 제1 정류부;상기 직류를 고주파 교류로 변환하는 인버터;상기 변환된 고주파 교류를 직류 전원으로 정류하는 제2 정류부; 및상기 정류된 직류 전원을 평활하는 평활부;를 포함하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치
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청구항 2에 있어서,상기 반도체로 인가되는 상기 평활된 직류 전원의 출력 전압을 조절하거나, 상기 출력 전압을 온 또는 오프 하는 전원 공급 제어부; 및상기 전원 공급 제어부에서 상기 반도체로 인가하는 현재의 출력 전압을 표시하도록 상기 디스플레이부를 제어하는 디스플레이 제어부;를 더 포함하고,상기 디스플레이 제어부는 상기 출력 전압의 조절 명령 그리고 상기 출력 전압의 온 또는 오프 명령을 상기 전원 공급 제어부로 전송하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치
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컨트롤러를 통해 전원을 공급하는 시간, 전원의 크기 및 전원의 공급 유지 시간이 설정되는 제1 단계;전원 공급부가 상기 컨트롤러를 통한 설정에 따라 시험하고자 하는 반도체에 전원을 공급하는 제2 단계;디스플레이부가 상기 공급되는 전원에 관한 정보를 표시하는 제3 단계;통신 모듈이 타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치와 통신하는 제3 단계;상기 컨트롤러가 상기 통신 모듈을 통해 상기 타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치와 접속되어 상기 타 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치에 식별자(ID)를 부여하여 관리하는 제4 단계;를 더 포함하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치의 제어 방법
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청구항 6에 있어서,상기 제2 단계는,노이즈 필터부가 교류 전원에 포함된 잡음 성분을 제거하는 단계;제1 정류부가 상기 잡음 성분이 제거된 교류 전원을 직류로 정류하는 단계;인버터가 상기 직류를 고주파 교류로 변환하는 단계;제2 정류부가 상기 변환된 고주파 교류를 직류로 정류하는 단계; 및평활부가 상기 정류된 직류를 평활하는 단계;를 포함하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치의 제어 방법
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청구항 7에 있어서,전원 공급 제어부가 상기 평활부에서 평활된 직류 전원의 출력 전압을 조절하거나, 상기 출력 전압을 온 또는 오프 하는 단계; 및디스플레이 제어부가 상기 전원 공급 제어부에서 상기 반도체로 인가하는 현재의 출력 전압을 상기 디스플레이부가 표시하도록 제어하는 단계;를 더 포함하는 고내압 반도체 신뢰성 시험용 이동 전원공급 장치의 제어 방법
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