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레이저부로부터 발사된 레이저에 대한 발산각을 감소시키는 빔확대부;상기 발산각이 감소된 레이저를 투과시키는 에탈론;상기 투과한 레이저를 대상물체로 조사하고, 상기 대상물체로부터 후방산란되는 후방산란신호를 수신하는 송수신부; 및상기 후방산란신호 중 상기 에탈론을 투과하는 제1 산란신호를 이용하여, 바람장 특성을 측정하는 프로세서를 포함하는 도플러 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 에탈론은,상기 레이저 또는 상기 제1 산란신호의 파장에 따라 투과도가 상이한, 도플러 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 레이저를 투과시켜 상기 에탈론으로 전달하고, 상기 제1 산란신호를 반사시켜 상기 프로세서로 전달하는 제1 빔분할부를 더 포함하는, 도플러 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 레이저 또는 상기 후방산란신호 중 적어도 하나에 대한 편광 방향을 회전시키는 파장판을 더 포함하는, 도플러 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 후방산란신호 중 제1 산란신호를 투과시켜 상기 에탈론으로 전달하고, 상기 후방산란신호 중 제2 산란신호를 반사시켜 상기 프로세서로 전달하는 제2 빔분할부를 더 포함하는, 도플러 라이다 장치
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제5항에 있어서,상기 프로세서는,상기 제1 산란신호와 함께, 상기 제2 산란신호를 더 고려하여, 상기 바람장 특성을 측정하는, 도플러 라이다 장치
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도플러 라이다 장치의 동작 방법에 있어서,상기 도플러 라이다 장치 내 레이저부에서, 레이저를 발사하는 단계;상기 도플러 라이다 장치 내 빔확대부에서, 상기 발사된 레이저에 대한 발산각을 감소시키는 단계;상기 도플러 라이다 장치 내 에탈론에서, 상기 발산각이 감소된 레이저를 투과시키는 단계;상기 도플러 라이다 장치 내 송수신부에서, 상기 에탈론을 투과한 레이저를 대상물체로 조사하고, 상기 대상물체로부터 후방산란되는 후방산란신호를 수신하는 단계; 및상기 도플러 라이다 장치 내 프로세서에서, 상기 후방산란신호 중 상기 에탈론을 투과하는 제1 산란신호를 이용하여, 바람장 특성을 측정하는 단계를 포함하는 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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제8항에 있어서,상기 에탈론은,상기 레이저 또는 상기 제1 산란신호의 파장에 따라 투과도가 상이한, 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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제8항에 있어서,상기 도플러 라이다 장치 내 제1 빔분할부에서, 상기 레이저를 투과시켜 상기 에탈론으로 전달하는 단계; 및상기 제1 빔분할부에서, 상기 제1 산란신호를 반사시켜 상기 프로세서로 전달하는 단계를 더 포함하는, 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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제8항에 있어서,상기 도플러 라이다 장치 내 파장판에서, 상기 레이저 또는 상기 후방산란신호 중 적어도 하나의 레이저에 대한 편광 방향을 회전시키는 단계을 더 포함하는, 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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제8항에 있어서,상기 도플러 라이다 장치 내 제2 빔분할부에서, 상기 후방산란신호 중 제1 산란신호를 투과시켜 상기 에탈론으로 전달하는 단계; 및상기 제2 빔분할부에서, 상기 후방산란신호 중 제2 산란신호를 반사시켜 상기 프로세서로 전달하는 단계를 더 포함하는, 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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제12항에 있어서,상기 바람장 특성을 측정하는 단계는,상기 제1 산란신호와 함께, 상기 제2 산란신호를 더 고려하여, 상기 바람장 특성을 측정하는 단계를 포함하는, 도플러 라이다 장치의 동작 방법
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