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파장파워동시 분석기술

  • 기술번호 : KST2014058979
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파장 분석기 및 파장 분석 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는 입력광을 분기하고 분기된 광 중 하나는 출력 손실이 파장에 의존하는 소자를 통과시킨 후 전기적인 신호로 변환하고, 다른 하나는 직접 전기적인 신호로 변환시킨 후 양 신호크기의 차이를 분석함으로써 입력광의 파장을 알아낼 수 있는 파장 분석기 및 파장 분석 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 입력된 광신호를 제1 채널과 제2 채널로 분기하는 제1 광 분기부; 상기 제1 채널 상에 구비되어 상기 제1 채널을 통해 입사된 광신호의 파장에 따라 다른 출력 손실을 나타내는 파장 의존 소자(Wavelength Dependent Component); 및 상기 제1 채널과 상기 제2 채널의 광신호를 각각 전기적인 신호로 변환하는 제1 광전 변환부와 제2 광전 변환부를 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기를 제공한다. 파장 분석, 파장 의존 소자, 광전 변환, 차동 증폭, 평판 광회로
Int. CL G01J 1/02 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01) G01J 3/51 (2006.01.01)
CPC G01J 1/0228(2013.01) G01J 1/0228(2013.01) G01J 1/0228(2013.01) G01J 1/0228(2013.01) G01J 1/0228(2013.01)
출원번호/일자 1020080000331 (2008.01.02)
출원인 한국광기술원
등록번호/일자 10-0956630-0000 (2010.04.29)
공개번호/일자 10-2009-0074520 (2009.07.07) 문서열기
공고번호/일자 (20100511) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.02)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한수욱 대한민국 광주광역시 광산구
2 김선주 대한민국 광주광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국광기술원 대한민국 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2008-0002447-10
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.04.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0309174-17
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.05.15 수리 (Accepted) 9-1-2009-0030257-31
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0407235-62
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2009.11.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0737148-47
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2009.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0815668-85
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2010-0069397-87
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.02.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0069567-42
10 등록결정서
Decision to grant
2010.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0151287-67
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2020-5148105-81
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.09 수리 (Accepted) 4-1-2020-5153634-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광신호의 파장 특성을 검출하고 분석하기 위한 파장 분석기에 있어서, 광신호를 발생시키는 광원; 입력된 광신호를 제1 채널과 제2 채널로 분기하는 제1 광 분기부; 상기 제1 채널 상에 구비되어 상기 제1 채널을 통해 입사된 광신호의 파장에 따라 다른 출력 손실을 나타내는 파장 의존 소자(Wavelength Dependent Component); 상기 제1 채널과 상기 제2 채널의 광신호를 각각 전기적인 신호로 변환하는 제1 광전 변환부와 제2 광전 변환부; 및 상기 광원과 상기 제1 광 분기부 사이에는 상기 광원의 광신호를 상기 제1 광 분기부와 제3 채널로 분기하는 제2 광 분기부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 광원은 레이저 다이오드 또는 다파장 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 광전 변환부와 상기 제2 광전 변환부의 출력 전압차를 증폭하는 차동 증폭기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
5 5
제4항에 있어서, 상기 제1 광 분기부의 입력단에 구비되는 써큘레이터(circulator)와, 상기 차동 증폭기의 출력단과 상기 써큘레이터의 입력단 사이에 구비되는 레이저 다이오드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
6 6
제1항에 있어서, 상기 파장 의존 소자는 대역통과필터(Band Pass Filter)로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
7 7
제1항에 있어서, 상기 제1 광전 변환부와 상기 제2 광전 변환부는 포토 다이오드, 포토 트랜지스터, 광전도 소자, CCD(Charge Coupled Device) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 파장 분석기
8 8
삭제
9 9
제1항에 있어서, 상기 제3 채널로 분기된 광신호는 광출력 측정부로 입력되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
10 10
제9항에 있어서, 상기 광원과 상기 제2 광 분기부 사이에는 상기 광원의 광신호 중 측정하고자 하는 파장 대역의 광신호를 선택하기 위한 파장 선택부가 구비되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
11 11
제1항에 있어서, 상기 파장 의존 소자는 광통신에 적용될 수 있는 광대역 파장 의존 소자(Wide-Band Wavelength Dependent Component)인 것을 특징으로 하는 파장 분석기
12 12
제1항에 있어서, 상기 파장 분석기는 평판 광회로(Planar Lightwave Circuits) 패키지로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
13 13
제12항에 있어서, 상기 파장 분석기는 전원 전압 단자(Vcc), 포토 다이오드 단자, 광출력 측정 단자, 차동 증폭 단자를 포함하는 DIP(Dual Inline Packaging), QFP(Quad Flat Packaging), SOIC(Small Outline Integrated Circuit) 중 어느 한 형태의 칩으로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
14 14
광신호의 파장 특성을 검출하고 분석하기 위한 파장 분석 방법에 있어서, (a) 입력되는 광을 분기하는 단계; (b) 분기된 광 중 일측의 광은 출력 손실이 파장에 의존하는 소자를 통과시킨 후 전기적인 신호로 변환하고, 타측의 광은 직접 전기적인 신호로 변환하는 단계; 및 (c) 상기 (b)단계를 통해 전기적으로 변환된 양 신호의 출력차를 차동 증폭하는 단계;를 포함하고, 상기 입력되는 광을 상기 (a)단계 이전에 별도로 분기하고, 분기된 광으로부터 광출력을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
15 15
제14항에 있어서, (d) 상기 (c)단계의 출력 신호를 1차 또는 2차 방정식으로 피팅(fitting)하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
16 16
삭제
17 17
제14항에 있어서, 측정하고자 하는 특정 파장 대역의 광신호를 필터링하는 단계를 상기 (a)단계 이전에 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.