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광신호의 파장 특성을 검출하고 분석하기 위한 파장 분석기에 있어서,
광신호를 발생시키는 광원;
입력된 광신호를 제1 채널과 제2 채널로 분기하는 제1 광 분기부;
상기 제1 채널 상에 구비되어 상기 제1 채널을 통해 입사된 광신호의 파장에 따라 다른 출력 손실을 나타내는 파장 의존 소자(Wavelength Dependent Component);
상기 제1 채널과 상기 제2 채널의 광신호를 각각 전기적인 신호로 변환하는 제1 광전 변환부와 제2 광전 변환부; 및
상기 광원과 상기 제1 광 분기부 사이에는 상기 광원의 광신호를 상기 제1 광 분기부와 제3 채널로 분기하는 제2 광 분기부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 광원은 레이저 다이오드 또는 다파장 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 제1 광전 변환부와 상기 제2 광전 변환부의 출력 전압차를 증폭하는 차동 증폭기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제4항에 있어서,
상기 제1 광 분기부의 입력단에 구비되는 써큘레이터(circulator)와, 상기 차동 증폭기의 출력단과 상기 써큘레이터의 입력단 사이에 구비되는 레이저 다이오드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 파장 의존 소자는 대역통과필터(Band Pass Filter)로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 제1 광전 변환부와 상기 제2 광전 변환부는 포토 다이오드, 포토 트랜지스터, 광전도 소자, CCD(Charge Coupled Device) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 제3 채널로 분기된 광신호는 광출력 측정부로 입력되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제9항에 있어서,
상기 광원과 상기 제2 광 분기부 사이에는 상기 광원의 광신호 중 측정하고자 하는 파장 대역의 광신호를 선택하기 위한 파장 선택부가 구비되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 파장 의존 소자는 광통신에 적용될 수 있는 광대역 파장 의존 소자(Wide-Band Wavelength Dependent Component)인 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제1항에 있어서,
상기 파장 분석기는 평판 광회로(Planar Lightwave Circuits) 패키지로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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제12항에 있어서,
상기 파장 분석기는 전원 전압 단자(Vcc), 포토 다이오드 단자, 광출력 측정 단자, 차동 증폭 단자를 포함하는 DIP(Dual Inline Packaging), QFP(Quad Flat Packaging), SOIC(Small Outline Integrated Circuit) 중 어느 한 형태의 칩으로 구현되는 것을 특징으로 하는 파장 분석기
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광신호의 파장 특성을 검출하고 분석하기 위한 파장 분석 방법에 있어서,
(a) 입력되는 광을 분기하는 단계;
(b) 분기된 광 중 일측의 광은 출력 손실이 파장에 의존하는 소자를 통과시킨 후 전기적인 신호로 변환하고, 타측의 광은 직접 전기적인 신호로 변환하는 단계; 및
(c) 상기 (b)단계를 통해 전기적으로 변환된 양 신호의 출력차를 차동 증폭하는 단계;를 포함하고,
상기 입력되는 광을 상기 (a)단계 이전에 별도로 분기하고, 분기된 광으로부터 광출력을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
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제14항에 있어서,
(d) 상기 (c)단계의 출력 신호를 1차 또는 2차 방정식으로 피팅(fitting)하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
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제14항에 있어서,
측정하고자 하는 특정 파장 대역의 광신호를 필터링하는 단계를 상기 (a)단계 이전에 더 포함하는 것을 특징으로 하는 파장 분석 방법
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