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비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014059954
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치 및 방법은 슬릿 마스크의 슬릿 열림 폭(w)과 슬릿 간격(d)의 비에 의해 최소화 되는 레이저 표면파에 본질적으로 포함된 2배 주파수 성분의 크기를 결정한다. 본 발명에 의하면, 비접촉식 비선형 레이저 표면파를 이용하여 접촉식 탐촉자에 의하던 오차를 극복함으로써 검사자의 사용 환경에 영향을 적게 받는 미소손상 진단을 가능하게 한다.
Int. CL G01N 29/04 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01) G01N 29/04(2013.01)
출원번호/일자 1020110123639 (2011.11.24)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1257203-0000 (2013.04.16)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130422) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.24)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장경영 대한민국 서울특별시 성동구
2 남태형 대한민국 서울특별시 성동구
3 최성호 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.11.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0932888-37
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.03.11 수리 (Accepted) 9-1-2013-0015454-50
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0180686-54
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0259405-25
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.03.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0259406-71
7 등록결정서
Decision to grant
2013.04.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0242003-34
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
슬릿 마스크를 통해 피검사체로 표면파를 입사시키는 표면파 가진부; 및상기 피검사체로부터의 신호를 수신하여 주파수를 분석하는 신호 분석부;를 포함하고, 상기 슬릿 마스크는 표면파에 포함된 2배 주파수 성분이 최소화되도록 형성되는, 비선형 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 슬릿 마스크의 슬릿 열림 폭과 슬릿 간격의 비는 상기 표면파에 포함된 2배 주파수 성분의 크기가 최소화되도록 결정되는, 비선형 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 표면파에 포함된 2배 주파수 성분의 크기는 0인, 비선형 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 표면파 가진부는 피검사체와 비접촉하는 선배열 레이저 빔(L)을 발생시키는 레이저 소스를 포함하고, 상기 슬릿 마스크는 상기 레이저 소스와 피검사체 사이에 배치되는, 비선형 표면파를 이용한 미소손상 진단 장치
5 5
슬릿 마스크를 통한 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 방법에 있어서,상기 비선형 레이저 표면파의 주파수는 비선형 레이저 표면파의 기본 주파수 성분, 피검사체의 비선형성에 의한 주파수 성분 및 비선형 레이저 표면파에 포함된 2배 주파수 성분을 포함하고, 상기 비선형 레이저 표면파에 포함된 2배 주파수 성분을 최소화하는, 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 비선형 레이저 표면파의 2배 주파수 성분은 기본주파수 성분에 비례하는 인자를 가지며, 상기 인자를 최소화하는, 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 방법
7 7
제6항에 있어서,비선형 레이저 표면파의 종파는 아래 수학식으로 표현되고, 비례인자는 슬릿 마스크의 슬릿 열림 폭과 슬릿 간격의 비에 의해 최소화 되도록 결정되는, 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 방법
8 8
제6항에 있어서,비선형 레이저 표면파의 종파는 아래 수학식으로 표현되고, 비례인자는 슬릿 마스크의 슬릿 열림 폭과 슬릿 간격의 비에 의해 0이 되도록 결정되는, 비선형 레이저 표면파를 이용한 미소손상 진단 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산학협력단 원전기술혁신/단기핵심/원전기술혁신사업 기술혁신사업(에너지기술개발사업)