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반도체 웨이퍼의 베이크 유닛 챔버

  • 기술번호 : KST2014060979
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 반도체 웨이퍼의 베이크 유닛 챔버는, 핫 플레이트; 상기 핫 플레이트를 가열하는 히터; 상기 핫 플레이트 표면에 웨이퍼가 투입되어 밀폐되는 챔버; 및 상기 챔버 내의 온도 균일화에 요구되는 시간을 최대한 단축시키고 이를 통해 상기 챔버 내에서 발생하는 대류 현상을 최대한 억제시켜 배기시의 열손실시에도 균일한 온도장이 형성되도록 제어하는 제어부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 시스템 반도체 등으로 확대되는 미세화 공정의 추이에 맞춰 반도체 웨이퍼의 포토리소그래피(Photolithography) 고온공정(약 400℃)에 이용되는 베이크 유닛 챔버(Bake Unit Chamber) 시스템의 적용 분야가 확대될 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01L 21/02 (2006.01) H01L 21/027 (2006.01) H01L 21/324 (2006.01)
CPC H01L 21/0273(2013.01) H01L 21/0273(2013.01) H01L 21/0273(2013.01) H01L 21/0273(2013.01)
출원번호/일자 1020130018890 (2013.02.21)
출원인 호서대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1464703-0000 (2014.11.18)
공개번호/일자 10-2014-0104863 (2014.08.29) 문서열기
공고번호/일자 (20141127) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.02.21)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 호서대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 구경완 대한민국 충남 아산시
2 김장우 대한민국 충남 천안시 서북구
3 김태수 대한민국 충남 천안시 서북구
4 오병무 대한민국 충남 천안시 동남구
5 이용만 대한민국 대전 동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 장수현 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층(역삼동, 메디빌딩)(두리암특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 호서대학교 산학협력단 충청남도 아산시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2013-0159629-22
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2013-0097298-23
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0121720-37
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.04.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0377334-51
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.04.21 수리 (Accepted) 1-1-2014-0377335-07
7 등록결정서
Decision to grant
2014.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0587251-21
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2019-0045360-16
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번호 청구항
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반도체 웨이퍼의 베이크 유닛 챔버로서,핫 플레이트;상기 핫 플레이트를 가열하는 히터;상기 핫 플레이트 표면에 웨이퍼가 투입되어 밀폐되는 챔버; 및상기 챔버 내의 온도 균일화에 요구되는 시간을 최대한 단축시키고 이를 통해 상기 챔버 내에서 발생하는 대류 현상을 최대한 억제시켜 배기시의 열손실시에도 균일한 온도장이 형성되도록 제어하는 제어부를 포함하며,상기 히터는 상기 챔버 내에 위치하고 제1존, 제2존, 제3존의 3개의 존(zone)으로 구성되어, 상기 히터에 의해 상기 핫 플레이트에 가해지는 열량은 상기 제1존은 400W, 430W, 450W, 461W로 하고, 상기 제2존은 380W로 고정하여 계산되며, 그 결과 상기 핫 플레이트의 표면 평균온도가 목표 온도 400℃에 도달하는 데 200초의 시간이 소요되고, 온도 균일도는 상기 목표 온도 400℃ 다이내믹 구간에서 ±3℃ 이하의 표면 온도편차를 갖으며, 상기 제어부는 상기 챔버의 온도 균일도 확보를 위해 열유동 해석 프로그램을 이용하여 상기 히터의 배치 및 열용량을 결정하고, 상기 히터의 배치 및 열용량이 결정된 후 상기 열유동 해석 프로그램을 이용하여 배기 압력 변화가 상기 챔버의 온도 균일도에 미치는 정량적인 영향을 파악하는 반도체 웨이퍼의 베이크 유닛 챔버
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 호서대학교 산학협력 선도대학(LINC)육성사업 Photolithography 고온공정용 Bake Unit Chamber의 개발