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분말 표면 조도의 정량화 방법으로서,(a) 비접촉식 3차원 측정기를 이용하여 분말의 표면 프로파일 정보를 얻는 단계;(b) 형상이 둥근 분말의 특성을 고려하여 분말의 너비와 높이로부터 길이가 긴 것을 장축, 짧은 것을 단축으로 하는 타원을 그려 분말에 기준선을 정하는 단계;(c) 상기 기준선에 대한 편차로 표면 조도를 정의하는 단계;를 포함하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 (a) 단계에서, 비접촉식 3차원 측정기는 광 위상 간섭의 원리로 측정이 이루어지는 모든 비접촉식 3차원 측정기 제품을 포함하는 것을 특징으로 하는 비접촉 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 분말의 너비와 높이 중, 길이가 긴 것을 타원의 장축, 짧은 것을 타원의 단축으로 하는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 (b) 단계에서, 상기 기준선은 분말 너비의 5%∼15%에 해당하는 길이 만큼 타원의 양끝을 제거한 부분으로 정의되는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 1 항에 있어서,상기 (c) 단계에서 표면 조도는, 상기 (a) 단계에서 측정한 분말 표면 프로파일과 상기 (b) 단계에서 정의한 기준선과의 차이로부터 분말 표면 프로파일을 다시 정의하여 구하는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 6 항에 있어서,상기 (c) 단계에서, 재정의된 분말의 프로파일에서 수학식 1을 이용하여 Ra 값을 구하는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 6 항에 있어서,상기 (c) 단계에서 재정의된 분말의 프로파일에서 수학식 2를 이용하여 Rda 값을 구하는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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제 6 항에 있어서,상기 (c) 단계에서, 재정의된 분말의 프로파일에서 수학식 3 을 이용하여 R2da 값을 구하는 것을 특징으로 하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법
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