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스마트 카드(10)에 길이 방향으로 연성인쇄회로기판(12)을 내장 설치하고, 상기 연성인쇄회로기판(12)에 전기적 신호가 입출력되도록 인가하는 단선측정 준비단계와;상기 스마트 카드(10)의 표면 중 임의의 위치에 다수의 변형측정센서(16)를 설치하고, 해당 변형측정센서(16)에 전기적 신호가 입출력되도록 인가하는 변형값측정 준비단계와;상기 스마트 카드(10)에 반복적인 비틀림 응력을 가하여, 연성인쇄회로기판(12)에 인가되는 전기적 신호의 단락 감지를 통해 연성인쇄회로기판(12)의 단선을 감지하는 단선측정단계 및;상기 스마트 카드(10)에 반복적인 비틀림 응력을 가하여, 상기 변형측정센서(16)들에서 감지되는 비틀림 변형값을 변형측정센서(16)의 위치별로 측정하고, 측정된 변형값을 다중회귀분석함으로써, 전체 스마트 카드(10)에 가해지는 비틀림 변형값의 분포도가 표시되도록 하는 카드 파손감지단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드용 비틀림 시험방법
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제 1항에 있어서,상기 변형값측정 준비단계에서는, 스마트 카드(10)의 중앙을 기준으로 x축과 y축으로 구분하여, 각 변형측정센서(16)별로 좌표값을 지정하여 변형측정센서(16)의 위치를 특정하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드용 비틀림 시험방법
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제 1항에 있어서,상기 카드 파손감지단계는, 비틀림 변형값 분포도의 급격한 변화시점의 측정을 통해 스마트 카드(10)의 파손을 감지하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드용 비틀림 시험방법
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제 1항에 있어서,상기 카드 파손감지단계는, 비틀림 변형값의 분포도를 등고선으로 표시하여, 전체 스마트 카드(10)에 가해지는 비틀림 변형값의 높낮이를 쉽게 알 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 스마트 카드용 비틀림 시험방법
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스마트 카드(10)에 길이 방향으로 내장 설치되며, 양 단부를 통해서 전기적 신호가 입출력되도록 설치되고, 상기 스마트 카드(10)에 반복적인 비틀림 응력을 가할시, 인가되는 전기적 신호의 단락을 감지하여 단선을 감지하도록 구성된 연성인쇄회로기판(12)과;상기 스마트 카드(10)의 표면 중 임의의 위치에 다수 설치되어, 해당 설치 위치에서 발생되는 스마트 카드(10)의 변형을 감지하도록 구성된 다수의 변형측정센서(16);를 포함하는 것을 특징으로 하는 비틀림 시험용 스마트 카드
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제 6항에 있어서,상기 스마트 카드(10)에 IC칩(14)이 내장되며;상기 스마트 카드(10)에 내장된 연성인쇄회로기판(12) 중 어느 하나는 상기 IC칩(14)과 전기적으로 연결된 상태로 설치된 것을 특징으로 하는 비틀림 시험용 스마트 카드
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제 6항에 있어서,상기 연성인쇄회로기판(12)은 스마트 카드(10)에서 상대적으로 길이가 긴 길이방향을 따라 직선형으로 설치된 것을 특징으로 하는 비틀림 시험용 스마트 카드
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제 8항에 있어서,상기 연성인쇄회로기판(12)은 스마트 카드(10)에서 상대적으로 길이가 긴 길이방향의 일단에서 타단까지 설치된 것을 특징으로 하는 비틀림 시험용 스마트 카드
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제 6항에 있어서,상기 연성인쇄회로기판(12)의 양 단부에는 전기적 신호의 입출력이 간편하도록 단자(18)가 설치된 것을 특징으로 하는 비틀림 시험용 스마트 카드
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