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OCT프로브 광궤적 스캔방법

  • 기술번호 : KST2014061749
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법은, 프로브에서 출사되는 광궤적의 설정된 원의 데이터를 입력받는 단계와; 상기 설정된 광궤적의 원의 데이터 값에 대응하여 광궤적에서 한 축을 기준으로 직교하는 타축의 양방향으로 진폭을 증가시키면서 스캔을 수행하는 단계와; 상기 설정된 원의 데이터와 상기 스캔 수행된 광궤적의 원의 데이터를 비교하고, 상기 설정된 원의 데이터와 일치하는 여부를 판단하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다. 본 발명에 따르면, OCT의 프로브에서 원형 궤적의 스캔을 수행할 때, 한 축을 중심으로 직교하는 타축의 양방향으로 진폭을 점진적으로 증가시키면서 선회하는 궤적을 형성함으로써 고속 스캔을 수행하면서 스캔 면적을 확보할 수 있다.
Int. CL A61B 1/00 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/17 (2006.01)
CPC G01B 9/02091(2013.01) G01B 9/02091(2013.01) G01B 9/02091(2013.01) G01B 9/02091(2013.01) G01B 9/02091(2013.01)
출원번호/일자 1020120052381 (2012.05.17)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1345660-0000 (2013.12.20)
공개번호/일자 10-2013-0128573 (2013.11.27) 문서열기
공고번호/일자 (20131227) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.17)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임대영 대한민국 전남 목포시 텃골로**번길 **,
2 차현록 대한민국 광주 북구
3 안재영 대한민국 광주 북구
4 남형욱 대한민국 광주 동구
5 정태원 대한민국 광주 광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층(반포동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 충청남도 천안시 서북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-0394540-24
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.12.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.01.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0002404-84
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0474411-89
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.08.27 수리 (Accepted) 1-1-2013-0780462-05
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.08.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0780448-65
8 등록결정서
Decision to grant
2013.12.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0877399-14
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
프로브에서 출사되는 광궤적의 설정된 공급된 전압과 전류의 주파수가 동일하고 X축과 Y축의 공진 위상이 90°의 차를 갖는 원 데이터를 입력받는 단계와;상기 설정된 광궤적의 원의 데이터 값에 대응하여 광궤적에서 한 축을 기준으로 직교하는 타축의 양방향으로 진폭을 증가시키면서 스캔을 수행하는 단계와; 상기 설정된 원의 데이터와 상기 스캔 수행된 광궤적의 원의 데이터를 비교하고, 상기 설정된 원의 데이터와 일치하는 여부를 판단하는 단계를 포함하는 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 스캔을 수행하는 단계에서 타축의 양방향으로 X 축에 대한 주파수, 전압 및 위상과 Y 축에 대한 주파수, 전압 및 위상을 제어하여 스캔을 수행하는 것을 특징으로 하는 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법
3 3
제 2항에 있어서, 상기 X 축과 상기 Y 축의 공진 주파수의 위상이 90 °의 차이가 되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 설정된 원의 데이터와 일치하는 여부를 판단하는 단계에서 상기 스캔 수행된 원의 데이터가 상기 설정된 원의 데이터와 일치하지 않으면, 다시 상기 스캔 수행 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법
5 5
제 1항에 있어서,상기 프로브는 각 축 별로 분리된 전극을 갖는 압전 소자(PZT)를 이용하는 것을 특징으로 하는 OCT 프로브 광궤적 스캔방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.