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물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014061984
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 또는 태양전지를 생산하는 공정에서 실시간으로 반도체 또는 태양전지를 형성하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치가 개시된다. 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치는 분석 대상물의 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 스크라이빙을 수행하는 레이저 조사부와, 조사된 레이저에 의해 생성된 플라즈마로부터 발생된 분광을 검출하는 분광 검출 광학부와, 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분광 상태 정보를 저장하는 분광 정보 저장부와, 분광 상태 정보와 검출된 분광을 비교하여 물질의 분포 상태 정보를 분석하는 분광 분석부를 포함하여 구성된다. 따라서, 반도체 또는 태양전지를 형성하는 물질의 분포를 실시간으로 정확히 측정할 수 있고, 스크라이빙 공정을 수행함과 동시에 물질의 분포를 측정하므로 별도의 측정공정을 수행할 필요가 없어 생산성이 증가되고, 제품화가 이루어질 영역의 손상없이 물질의 분포를 측정할 수 있고, 물질의 분포를 측정하기 위한 플라즈마를 발생시키기 위한 별도의 어블레이션(ablation)없이 물질의 분포를 측정할 수 있다.
Int. CL H01L 31/18 (2014.01) H01L 31/0445 (2014.01) H01L 21/66 (2014.01)
CPC H01L 21/67092(2013.01) H01L 21/67092(2013.01) H01L 21/67092(2013.01) H01L 21/67092(2013.01) H01L 21/67092(2013.01)
출원번호/일자 1020110070700 (2011.07.15)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-1237730-0000 (2013.02.19)
공개번호/일자 10-2012-0038359 (2012.04.23) 문서열기
공고번호/일자 (20130226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020100099965   |   2010.10.13
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.07.15)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성호 대한민국 광주광역시 북구
2 심희상 대한민국 광주광역시 북구
3 이석희 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.07.15 수리 (Accepted) 1-1-2011-0547668-79
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.04.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.05.23 수리 (Accepted) 9-1-2012-0041061-30
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0495367-69
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.10.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0869474-16
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2012-0869453-68
8 등록결정서
Decision to grant
2013.02.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0107777-65
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번호 청구항
1 1
분석 대상물의 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 스크라이빙을 수행하는 레이저 조사부;조사된 상기 레이저에 의해 생성된 플라즈마로부터 발생된 분광을 검출하는 분광 검출 광학부;상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분광 상태 정보를 저장하는 분광 정보 저장부; 및상기 검출된 분광과 상기 분광 상태 정보를 비교하여 상기 물질의 분포 상태를 분석하는 분광 분석부를 포함하고,상기 레이저 조사부는 상기 스크라이빙될 위치에 스크라이빙하기 위한 레이저를 조사하는 스크라이빙용 레이저모듈 및 상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분포 상태를 분석하기 위한 레이저를 조사하는 분석용 레이저모듈을 포함하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 레이저 조사부는,상기 스크라이빙용 레이저모듈 및 상기 분석용 레이저모듈 중 적어도 하나가 상기 스크라이빙될 위치에 상기 레이저를 조사하도록 조사 위치 및 각도 중 적어도 하나를 조절하는 위치조정모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 레이저 조사부는,상기 스크라이빙과 상기 물질의 분포 상태의 분석이 동시에 수행되는 경우에 상기 스크라이빙용 레이저모듈만 인에이블시켜 상기 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하고,상기 스크라이빙과 상기 물질의 분포 상태의 분석이 동시에 수행되지 않는 경우에 상기 분석용 레이저모듈을 먼저 인에이블시켜 상기 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분포 상태를 분석한 후 상기 스크라이빙용 레이저모듈을 인에이블시켜 상기 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 상기 분석 대상물을 스크라이빙하는 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 분광 상태 정보는,상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질에 대한 고유한 분광 특성 정보인 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 분광 검출 광학부는,상기 분석 대상물의 특성에 기초하여 발생된 상기 분광을 측정하는 시점(delay) 및 측정하는 시간(gate)을 조절하는 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 분석 대상물의 특성은,상기 분석 대상물의 상(phase) 정보, 물리적 성질 및 화학적 성질에 관한 정보인 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 장치
8 8
분석 대상물의 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 스크라이빙을 수행하는 단계;조사된 상기 레이저에 의해 생성된 플라즈마로부터 발생된 분광을 검출하는 단계; 및상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분광 상태 정보와 상기 검출된 분광을 비교하여 상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분포 상태를 분석하는 단계를 포함하고,상기 분석 대상물의 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 스크라이빙을 수행하는 단계는 상기 스크라이빙과 물질의 분포 상태의 분석이 동시에 수행되지 않는 경우에 상기 스크라이빙될 위치에 레이저를 조사하여 상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분포 상태를 분석하는 단계 및 분석된 상기 스크라이빙될 위치에 스크라이빙하기 위해 레이저를 조사하여 상기 분석 대상물을 스크라이빙하는 단계를 포함하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법은,상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질의 분포에 변화가 있는 경우에 상기 분석 대상물의 스크라이빙될 위치에 깊이방향 분석(depth profiling)을 하는 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법
10 10
삭제
11 11
제8항에 있어서,상기 스크라이빙될 위치는,상기 분석 대상물의 물질의 분포를 분석하는 위치로 데드존 또는 결함위치인 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법
12 12
제8항에 있어서,상기 조사된 상기 레이저에 의해 생성된 플라즈마로부터 발생된 분광을 검출하는 단계는,상기 분석 대상물의 특성에 기초하여 발생된 상기 분광을 측정하는 시점(delay) 및 측정하는 시간(gate)을 조절하는 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법
13 13
제8항에 있어서,상기 분광 상태 정보는,상기 분석 대상물을 형성하는 각 물질에 대한 고유한 분광 특성 정보인 것을 특징으로 하는 물질의 분포를 분석하는 기능을 구비한 스크라이빙 방법
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1 교육과학기술부 광주과학기술원 도약연구(전략연구)지원사업 나노미터 정밀도 물질분포의 실시간 측정을 위한 LIBS 기술(1/5)