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사파이어 기판의 전처리방법 및 이를 이용한 산화아연박막증착 방법

  • 기술번호 : KST2014062512
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 사파이어 기판의 전처리방법 및 이를 이용한 산화아연 박막증착 방법에 대해 개시한다. 본 발명은 사파이어 기판을 150∼200eV 정도의 저에너지 질소이온을 조사하여 이온조사량에 따라 사파이어 표면에 AlON과 AlN 결합을 열처리 없이 상온에서 형성하여 산화아연막 성장시 사파이어 기판과 격자 불일치로 발생하는 계면의 스트레인(strain)을 완화시키는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 이러한 격자 불일치 결함에 의해 발생하는 녹색 발광을 완전히 제거하여 자외선 영역의 에너지 갭에 의한 발광 특성을 향상시킬 수 있으므로 향후 광전자(optoelectric) 부품 제작시 품질 향상 및 수명 연장에 기여할 수 있다. 산화아연 박막, 사파이어(sapphire), 저에너지 이온빔, AlON, AlN, 발광(photoluminescene)
Int. CL H01J 37/00 (2006.01)
CPC H01J 37/00(2013.01) H01J 37/00(2013.01) H01J 37/00(2013.01)
출원번호/일자 1020030089429 (2003.12.10)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0566917-0000 (2006.03.27)
공개번호/일자 10-2005-0056417 (2005.06.16) 문서열기
공고번호/일자 (20060403) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.10)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최원국 대한민국 서울특별시양천구
2 정연식 대한민국 서울특별시동작구
3 박종용 대한민국 서울특별시성북구
4 노영수 대한민국 대전광역시동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이종일 대한민국 서울특별시 영등포구 당산로**길 **(당산동*가) 진양빌딩 *층(대일국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주)쓰리엘시스템 경기도 용인시 기흥구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2003-0471110-34
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.05.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.06.16 수리 (Accepted) 9-1-2005-0036060-35
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.07.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0367067-11
5 의견서
Written Opinion
2005.09.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0544746-10
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.09.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0544749-57
7 등록결정서
Decision to grant
2006.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0043507-34
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
산화아연 박막 형성에 사용되는 사파이어 기판의 전처리방법에 있어서, 활성화 이온빔을 이용하여 상기 사파이어 기판을 세척하는 단계와, 상기 활성화 이온빔을 이용하여 사파이어 기판 표면의 기계적 표면 결함을 제거하는 단계를 포함하고, 상기 세척단계와 기계적 표면 결함의 제거단계는 동시에 이루어지며, 또한 상온에서 이루어지는 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 활성화 이온빔은 질소 이온빔이며, 상기 질소 이온빔의 에너지는 플라즈마의 에너지 (0
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 질화물 개질 조건으로서, 진공도가 1×10-4∼1×10-7Torr 범위내에서 설정되고, 상기 질소 이온 플로우율이 2∼10㎖/min 범위내에서 설정되며, 그리고 공정 시간이 1∼300sec 범위내에서 설정되는 조건을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법
4 4
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 질소 이온은 N2+ 인 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법
5 5
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 표면 개질에 따라 기판 상에 형성되는 질화물은 AlN 또는 AlON 인 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법
6 6
산화아연 박막 형성에 사용되는 사파이어 기판의 전처리방법을 이용한 산화아연 박막증착 방법에 있어서, 활성화 이온빔을 이용하여 상기 사파이어 기판을 세척하는 단계와, 상기 활성화 이온빔을 이용하여 사파이어 기판 표면의 기계적 표면 결함을 제거하는 단계를 포함하고, 상기 세척단계와 기계적 표면 결함의 제거단계는 동시에 이루어지며, 또한 상온에서 이루어지는 활성화 이온빔에 의한 기판표면 전처리하는 제 1 단계; 및 상기결과물 상에 유도된 AlN과 AlON과 같은 유방정계 격자 배열과 격자 상수(a=3
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 활성화 이온빔은 질소 이온빔이며, 상기 질소 이온빔의 에너지는 플라즈마의 에너지 (0
8 8
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 제 1 단계의 질화물 개질 조건으로서, 진공도가 1×10-4∼1×10-7Torr 범위내에서 설정되고, 상기 질소 이온 플로우율이 2∼10㎖/min 범위내에서 설정되며, 그리고 공정 시간이 1∼300sec 범위내에서 설정되는 조건을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법을 이용한 산화아연 박막증착 방법
9 9
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 질소 이온은 N2+ 인 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법을 이용한 산화아연 박막증착 방법
10 10
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 제 1 단계의 표면 개질에 따라 기판 상에 형성되는 질화물은 AlN 또는 AlON 인 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법을 이용한 산화아연 박막증착 방법
11 11
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 제 2 단계는 펄스 레이저 증착법에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 전처리방법을 이용한 산화아연 박막증착 방법
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 펄스 레이저 증착법은, 5∼15㎐ 펄스 주기로 KrF 레이저를 0
13 12
제 11 항에 있어서, 상기 펄스 레이저 증착법은, 5∼15㎐ 펄스 주기로 KrF 레이저를 0
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.