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게이트 전극의 수분침투 방지방법

  • 기술번호 : KST2014065415
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 게이트 전극의 수분침투 방지방법에 관한 것이다. 이를 위해, 폴리실리콘층, 게이트 전극층 및 유전체층을 포함하는 반도체 소자의 제조방법에 있어서, 기판(60) 위에 유전체층(30)을 증착하는 단계(S10); 유전체층(30)의 상면에 질화막 게이트 전극층(20)을 증착하여 성막하는 단계(S20); 질화막 게이트 전극층(20)의 표면에 소수성 기능기를 가진 물질을 흡착시키는 단계(S30); 및 물질이 흡착된 질화막 게이트 전극층(20)의 상면에 폴리실리콘층(10)을 성막하는 단계(S40);를 포함하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법을 제공하며, 이에 따라 소수성 기능기 흡착으로 인해 질화막의 성분의 변화 및 특성 변화가 없도록 하는 효과가 제공된다. 반도체, 하프늄, 질화, 게이트, 전극층, 폴리실리콘, 유전체층, 수분, 침투
Int. CL H01L 21/336 (2006.01) H01L 21/31 (2006.01)
CPC H01L 21/28088(2013.01) H01L 21/28088(2013.01) H01L 21/28088(2013.01)
출원번호/일자 1020060045767 (2006.05.22)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0737406-0000 (2007.07.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070709) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.05.22)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강상우 대한민국 서울 용산구
2 윤주영 대한민국 서울 양천구
3 성대진 대한민국 충남 공주시
4 신용현 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.05.22 수리 (Accepted) 1-1-2006-0355688-16
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.12.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.01.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0000316-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0162961-97
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.04.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0266301-43
6 의견서
Written Opinion
2007.04.06 수리 (Accepted) 1-1-2007-0266257-21
7 등록결정서
Decision to grant
2007.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0338813-76
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
폴리실리콘층, 게이트 전극층 및 유전체층을 포함하는 반도체 소자의 제조방법에 있어서, 기판(60) 위에 유전체층(30)을 증착하는 단계(S10);상기 유전체층(30)의 상면에 질화막 게이트 전극층(20)을 증착하여 성막하는 단계(S20);상기 질화막 게이트 전극층(20)의 표면에 소수성 기능기를 가진 물질을 흡착시키는 단계(S30); 및상기 물질이 흡착된 질화막 게이트 전극층(20)의 상면에 폴리실리콘층(10)을 성막하는 단계(S40);로 구성되는 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 질화막 게이트 전극층(20)은 질화하프늄인 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 게이트 전극층(20)의 두께는 2 nm ~ 30 nm 인 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 소수성 기능기를 가진 물질은 HMDS인 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 흡착단계(S30)는, in-situ 또는 ex-situ로 가스 형태로 변형된 상기 소수성 기능기를 가진 물질의 분자를 진공상태에서 주입함으로서 흡착하는 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 소수성 기능기를 가진 물질의 분자는 0
7 7
제 4 항에 있어서, 상기 HMDS의 저장용기의 온도는 20 ~ 100 ℃ 이고, 상기 HMDS의 운반기체는 비활성기체 또는 표면 활성화 기체 중 택일된 것이며, 흡착되는 게이트 전극층(20)의 온도는 20 ~ 500 ℃인 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 유전체층(30)은 하프늄실리콘옥사이드인 것을 특징으로 하는 게이트 전극의 수분침투 방지방법
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패밀리정보가 없습니다
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