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잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014065463
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 위상변조 적외선 열화상 기술을 이용한 잉크 인쇄된 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 함수발생기가 발생시킨 조화함수에 따라 할로겐 램프가 조화함수의 열을 검사대상체인 잉크 인쇄된 PCB(잉크젯 PCB)에 조사하고, 동시에 반대쪽의 적외선 열화상 카메라가 할로겐 램프와 동기화되어 조화함수의 주기 1/4마다 잉크젯 PCB의 열영상을 촬영하며, 영상처리 및 분석부에서 상기 적외선 열화상 카메라를 통해 획득된 열영상으로부터 할로겐 램프의 열이 잉크젯 PCB를 투과하면서 발생하는 위상지연 값을 구하여 위상을 복조한 뒤 이를 양품의 건전부 위상 데이터와 비교하여 결함 여부를 검사할 수 있도록 한 잉크 인쇄된 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.이러한 본 발명에 따르면, 위상변조 적외선 열화상 기술을 이용하여 잉크젯 PCB 회로패턴의 물성 또는 형상 변화, 들뜸 등의 결함을 보다 고분해능으로 더욱 신뢰성 있게 검사할 수 있는 장점이 있게 된다.PCB, 잉크 인쇄, 회로패턴, 결함 검사, 위상변조, 적외선 열화상
Int. CL H05K 13/08 (2006.01)
CPC H05K 13/08(2013.01) H05K 13/08(2013.01) H05K 13/08(2013.01)
출원번호/일자 1020070014154 (2007.02.12)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0853861-0000 (2008.08.18)
공개번호/일자 10-2008-0075256 (2008.08.18) 문서열기
공고번호/일자 (20080822) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.02.12)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최만용 대한민국 대전 유성구
2 강기수 대한민국 광주 서구
3 박정학 대한민국 대전 유성구
4 안봉영 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이학수 대한민국 부산광역시 연제구 법원로 **, ****호(이학수특허법률사무소)
2 백남훈 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, KTB네트워크빌딩**층 한라국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2007-0125315-64
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.11.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2007-0073593-39
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.12.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0674186-38
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.13 수리 (Accepted) 1-1-2008-0107272-12
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0107271-66
7 등록결정서
Decision to grant
2008.05.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0265612-40
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
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번호 청구항
1 1
삭제
2 2
조화함수를 발생시켜 제공하는 함수발생기와; 상기 함수발생기에서 제공되는 조화함수를 증폭시켜 제공하는 증폭기와; 상기 증폭기가 제공하는 조화함수에 따라 열을 발생시켜 검사대상체인 PCB의 일측면에 조화함수의 열을 조사하는 할로겐 램프 및 램프 구동부와; 상기 PCB를 사이에 두고 할로겐 램프와는 반대측에 배치되어 PCB의 타측면에 대해 그 온도분포를 나타내는 열영상을 촬영하되, 상기 함수발생기로부터 제공되는 조화함수에 따라 할로겐 램프와 동기화된 상태로 정해진 시간 간격으로 열영상을 촬영하는 적외선 열화상 카메라와; 상기 적외선 열화상 카메라가 촬영한 열영상을 전송받아 저장 및 처리하고 그로부터 회로패턴의 결함 여부를 분석하여 그 결과를 저장 및 표시하는 영상처리 및 분석부;를 포함하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치에 있어서,상기 적외선 열화상 카메라는 상기 할로겐 램프와 동기화되어 조화함수 주기의 일정 간격(π/2)으로 4장의 열영상을 촬영하여 상기 영상처리 및 분석부에 전송하도록 된 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치
3 3
조화함수를 발생시켜 제공하는 함수발생기와; 상기 함수발생기에서 제공되는 조화함수를 증폭시켜 제공하는 증폭기와; 상기 증폭기가 제공하는 조화함수에 따라 열을 발생시켜 검사대상체인 PCB의 일측면에 조화함수의 열을 조사하는 할로겐 램프 및 램프 구동부와; 상기 PCB를 사이에 두고 할로겐 램프와는 반대측에 배치되어 PCB의 타측면에 대해 그 온도분포를 나타내는 열영상을 촬영하되, 상기 함수발생기로부터 제공되는 조화함수에 따라 할로겐 램프와 동기화된 상태로 정해진 시간 간격으로 열영상을 촬영하는 적외선 열화상 카메라와; 상기 적외선 열화상 카메라가 촬영한 열영상을 전송받아 저장 및 처리하고 그로부터 회로패턴의 결함 여부를 분석하여 그 결과를 저장 및 표시하는 영상처리 및 분석부;를 포함하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치에 있어서,상기 영상처리 및 분석부는 상기 적외선 열화상 카메라에 의해 촬영되어 저장된 열영상들로부터 열영상의 각 픽셀 위치에서 위상을 복조한 뒤 복조된 위상 데이터로부터 미리 저장된 양품의 위상 데이터와 비교하여 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 여부를 판정하도록 된 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치
4 4
청구항 3에 있어서,상기 영상처리 및 분석부는 촬영된 열영상 S1, S2, S3, S4에서 얻은 각 픽셀 위치(x,y)의 온도값 S1(x,y), S2(x,y), S3(x,y), S4(x,y)를 이용하여 하기 식으로 정의되는 위상지연 값 Δφ(x,y)를 계산한 후 이를 양품의 위상지연 값과 비교하도록 된 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 장치
5 5
삭제
6 6
함수발생기가 조화함수를 발생시켜 제공하는 단계와; 상기 함수발생기에서 제공되는 조화함수를 증폭기가 증폭시켜 제공하는 단계와;상기 증폭기로부터 제공되는 조화함수에 따라 램프 구동부가 할로겐 램프를 구동시키고 이에 할로겐 램프가 조화함수의 열을 발생시켜 검사대상체인 PCB의 일측면에 조사하는 단계와;상기 PCB를 사이에 두고 할로겐 램프와는 반대측에 배치된 적외선 열화상 카메라가 PCB의 타측면 온도분포를 나타내는 열영상을 촬영하되, 상기 적외선 열화상 카메라가 상기 함수발생기로부터 제공되는 조화함수에 따라 할로겐 램프와 동기화된 상태에서 정해진 시간 간격으로 열영상을 촬영하는 단계와; 상기 적외선 열화상 카메라에 의해 촬영된 열영상을 영상처리 및 분석부가 전송받아 저장 및 처리하고 그로부터 회로패턴의 결함 여부를 분석하여 그 결과를 저장 및 표시하는 단계;를 포함하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법에 있어서,상기 적외선 열화상 카메라는 상기 할로겐 램프와 동기화되어 조화함수 주기의 일정 간격(π/2)으로 4장의 열영상을 촬영하여 상기 영상처리 및 분석부에 전송하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법
7 7
함수발생기가 조화함수를 발생시켜 제공하는 단계와; 상기 함수발생기에서 제공되는 조화함수를 증폭기가 증폭시켜 제공하는 단계와;상기 증폭기로부터 제공되는 조화함수에 따라 램프 구동부가 할로겐 램프를 구동시키고 이에 할로겐 램프가 조화함수의 열을 발생시켜 검사대상체인 PCB의 일측면에 조사하는 단계와;상기 PCB를 사이에 두고 할로겐 램프와는 반대측에 배치된 적외선 열화상 카메라가 PCB의 타측면 온도분포를 나타내는 열영상을 촬영하되, 상기 적외선 열화상 카메라가 상기 함수발생기로부터 제공되는 조화함수에 따라 할로겐 램프와 동기화된 상태에서 정해진 시간 간격으로 열영상을 촬영하는 단계와; 상기 적외선 열화상 카메라에 의해 촬영된 열영상을 영상처리 및 분석부가 전송받아 저장 및 처리하고 그로부터 회로패턴의 결함 여부를 분석하여 그 결과를 저장 및 표시하는 단계;를 포함하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법에 있어서,상기 영상처리 및 분석부가 상기 적외선 열화상 카메라에 의해 촬영되어 저장된 열영상들로부터 열영상의 각 위치에서 위상을 복조한 뒤 복조된 위상 데이터로부터 미리 저장된 양품의 위상 데이터와 비교하여 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법
8 8
청구항 7에 있어서,상기 영상처리 및 분석부는 촬영된 열영상 S1, S2, S3, S4에서 얻은 각 픽셀 위치(x,y)의 온도값 S1(x,y), S2(x,y), S3(x,y), S4(x,y)을 이용하여 하기 식으로 정의되는 위상지연 값 Δφ(x,y)을 계산한 후 이를 양품의 위상지연 값과 비교하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법
9 9
청구항 8에 있어서,양품의 위상지연 값 Δφ(x,y)와 불량품의 위상지연 값 Δφ(x,y)의 감산처리로부터 구한 위상 f(x,y)가 "0" 인 경우에 양품으로, "0"이 아닌 경우에 불량으로 간주하는 것을 특징으로 하는 잉크젯 PCB 회로패턴의 결함 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.