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열전박막을 이용한 반도체 소자, 이를 포함하는 반도체 메모리소자, 이의 제조방법 및 이를 이용한 전류 제어방법

  • 기술번호 : KST2014065852
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 의하면, 열전박막의 열에너지 변환 현상을 토대로 입력신호를 조절함으로써 전류 제어를 시도할 수 있는 새로운 형태의 반도체 소자를 제공할 수 있다. 이를 위해 특히, 본 발명의 일 실시예는 기판; 기판 상에 형성된 소스 전극; 기판 상에 형성된 드레인 전극; 및 기판 상에 소스 전극과 드레인 전극 사이로 형성되고, 인가되는 입력신호에 대응하여 열에너지를 생성하는 열전박막을 포함하는 게이트 전극;을 포함하고, 기판은 소스 전극과 드레인 전극 사이에 생성된 열에너지에 기반하여 전류가 흐를 수 있는 전류 채널이 형성되는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자를 포함한다.
Int. CL H01L 35/02 (2006.01)
CPC H01L 35/32(2013.01) H01L 35/32(2013.01) H01L 35/32(2013.01) H01L 35/32(2013.01) H01L 35/32(2013.01)
출원번호/일자 1020100105849 (2010.10.28)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1146301-0000 (2012.05.08)
공개번호/일자 10-2012-0044538 (2012.05.08) 문서열기
공고번호/일자 (20120521) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.10.28)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강상우 대한민국 대전광역시 유성구
2 윤주영 대한민국 서울특별시 양천구
3 임종연 대한민국 대전광역시 유성구
4 김진태 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.10.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0699974-76
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.08.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.09.20 수리 (Accepted) 9-1-2011-0077527-57
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0053394-47
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0252535-10
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.03.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0252536-55
7 등록결정서
Decision to grant
2012.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0250870-90
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;상기 기판 상에 형성된 소스 전극;상기 기판 상에 형성된 드레인 전극; 및상기 기판 상에 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이로 형성되며, 입력신호의 주파수에 기초하여 열에너지를 생성하는 열전박막을 포함하는 게이트 전극;을 포함하고,상기 기판은 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이에 전류 채널이 형성되는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
2 2
제 1항에 있어서,상기 열전박막 상으로 연결된 메탈 와이어를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
3 3
제 1항에 있어서,상기 생성된 열에너지는 상기 입력신호의 주파수에 비례하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
4 4
제 1항에 있어서,상기 기판은 P형 기판 또는 N형 기판인 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
5 5
제 4항에 있어서, 상기 기판은, 상기 P형 기판인 경우 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극의 각 하부로 N형 불순물이 첨가된 것이며, 그리고상기 N형 기판인 경우 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극의 각 하부로 P형 불순물이 첨가된 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
6 6
제 1항에 있어서,상기 열전박막은 Bi-Te계 합금 소재 또는 Bi에 Sb를 도핑한 소재 또는 Te에 Se를 도핑한 소재로 형성된 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
7 7
제 1항에 있어서,상기 게이트 전극은 상기 기판과의 반응성을 줄이기 위해 상기 기판과 상기 열전박막 사이에 Co, Mo, TiN, TaN, Ge, SiGe, SiO2 및 ZrO2 중 적어도 하나의 소재로 형성된 반응 방지층;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
8 8
삭제
9 9
기판 상으로 소스 전극 및 드레인 전극 각각에 대응하는 불순물이 주입되는 단계(S110); 및상기 기판 상에 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극 사이로 열전물질이 박막 형성되는 단계(S120);를 포함하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 제조방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 불순물 주입단계(S110)와 상기 열전물질의 박막 형성단계(S120) 사이에,상기 기판 상으로 Co, Mo, TiN, TaN, Ge, SiGe, SiO2 및 ZrO2 중 적어도 하나의 소재로 반응 방지층이 형성되는 단계(S115);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 제조방법
11 11
입력신호 인가부가 기판 상에 형성된 열전박막으로 입력신호를 인가하는 단계(S210);상기 열전박막이 상기 입력신호의 주파수에 기초하여 열에너지를 생성하는 단계(S220);상기 기판이 상기 생성된 열에너지를 공급받아 온도가 변화되는 단계(S230); 및상기 온도의 변화에 기초하여 상기 기판 상에 형성된 소스 전극과 드레인 전극 사이의 전류 채널 크기가 조절되는 단계(S240);를 포함하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
12 12
제 11항에 있어서,상기 열전박막의 열에너지 생성단계(S220)에서,상기 생성되는 열에너지는 상기 주파수에 비례하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
13 13
제 11항에 있어서,상기 열전박막의 열에너지 생성단계(S220)와 상기 기판의 온도 변화단계(S230) 사이에는,반응 방지층이 상기 열전박막과 상기 기판 사이에 위치하여 상기 생성된 열에너지를 상기 기판에 전달하는 단계(S225);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.