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기판;상기 기판 상에 형성된 소스 전극;상기 기판 상에 형성된 드레인 전극; 및상기 기판 상에 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이로 형성되며, 입력신호의 주파수에 기초하여 열에너지를 생성하는 열전박막을 포함하는 게이트 전극;을 포함하고,상기 기판은 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 사이에 전류 채널이 형성되는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 1항에 있어서,상기 열전박막 상으로 연결된 메탈 와이어를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 1항에 있어서,상기 생성된 열에너지는 상기 입력신호의 주파수에 비례하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 1항에 있어서,상기 기판은 P형 기판 또는 N형 기판인 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 4항에 있어서, 상기 기판은, 상기 P형 기판인 경우 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극의 각 하부로 N형 불순물이 첨가된 것이며, 그리고상기 N형 기판인 경우 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극의 각 하부로 P형 불순물이 첨가된 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 1항에 있어서,상기 열전박막은 Bi-Te계 합금 소재 또는 Bi에 Sb를 도핑한 소재 또는 Te에 Se를 도핑한 소재로 형성된 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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제 1항에 있어서,상기 게이트 전극은 상기 기판과의 반응성을 줄이기 위해 상기 기판과 상기 열전박막 사이에 Co, Mo, TiN, TaN, Ge, SiGe, SiO2 및 ZrO2 중 적어도 하나의 소재로 형성된 반응 방지층;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자
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기판 상으로 소스 전극 및 드레인 전극 각각에 대응하는 불순물이 주입되는 단계(S110); 및상기 기판 상에 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극 사이로 열전물질이 박막 형성되는 단계(S120);를 포함하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 제조방법
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제 9항에 있어서,상기 불순물 주입단계(S110)와 상기 열전물질의 박막 형성단계(S120) 사이에,상기 기판 상으로 Co, Mo, TiN, TaN, Ge, SiGe, SiO2 및 ZrO2 중 적어도 하나의 소재로 반응 방지층이 형성되는 단계(S115);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 제조방법
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입력신호 인가부가 기판 상에 형성된 열전박막으로 입력신호를 인가하는 단계(S210);상기 열전박막이 상기 입력신호의 주파수에 기초하여 열에너지를 생성하는 단계(S220);상기 기판이 상기 생성된 열에너지를 공급받아 온도가 변화되는 단계(S230); 및상기 온도의 변화에 기초하여 상기 기판 상에 형성된 소스 전극과 드레인 전극 사이의 전류 채널 크기가 조절되는 단계(S240);를 포함하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
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제 11항에 있어서,상기 열전박막의 열에너지 생성단계(S220)에서,상기 생성되는 열에너지는 상기 주파수에 비례하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
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제 11항에 있어서,상기 열전박막의 열에너지 생성단계(S220)와 상기 기판의 온도 변화단계(S230) 사이에는,반응 방지층이 상기 열전박막과 상기 기판 사이에 위치하여 상기 생성된 열에너지를 상기 기판에 전달하는 단계(S225);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전박막을 이용한 반도체 소자의 전류 제어방법
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