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내면에서 확산 반사하는 케비티;
상기 케비티에서 중심축을 지나는 직선 상에 배치되고 상기 케비티에 형성되고 서로 마주보는 제1 개구부 및 제2 개구부;
상기 제1 개구부를 통하여 상기 제2 개구부의 출구에 배치된 시료에 넓은 선폭을 가지는 태양 모사광을 제공하는 태양 모사부; 및
상기 제1 개구부와 상기 제2 개구부를 연결하는 직선과 교차하는 직선 상에 좁은 선폭을 가지는 분광 광을 제공하는 분광 광원부를 포함하고,
상기 분광 광원부의 상기 분광 광은 상기 케비티 내부에서 확산 반사되어 상기 시료에 균일하게 제공되는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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2 |
2
제 1항에 있어서,
상기 케비티의 내부 면적에 대한 상기 제1 개구부의 면적의 비는 5 퍼센트이하인 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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3 |
3
제 1항에 있어서,
상기 제1 개구부와 상기 제2 개구부를 연결하는 직선과 교차하는 직선과 상기 케비티과 접촉하는 지점에 형성된 적어도 하나의 분광 개구부를 더 포함하고,
상기 분광 광원부의 출력광은 상기 분광 개구부에 제공되는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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4 |
4
제 3항에 있어서,
상기 분광 광원부는:
발광부;
상기 발광부의 출력단에 배치되어 소정의 파장을 선택하는 파장 선택부;
상기 발광부의 출력광을 시간에 따라 주기적으로 변조시키는 변조부; 및
상기 변조되고 파장이 선택된 광을 집속하여 상기 분광 개구부에 제공하는 집속부를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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5 |
5
제 1항에 있어서,
상기 분광 광원부는:
서로 다른 파장을 제공하는 복수의 분광 광원부들을 포함하고,
상기 분광 광원부들은 순차적으로 상기 분광 개구부에 광을 제공하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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6 |
6
제 1항에 있어서,
상기 분광 광원부는 상기 케비티의 내부에 직접 배치되는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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7
제 6 항에 있어서,
상기 분광 광원부는 LED인 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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8
제 1항에 있어서,
상기 분광 광원부의 출력광은 시간에 따라 일정한 주기로 변조되는 것을 특징으로 하는 분광 측정 장치
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9
제 1항에 있어서,
상기 케비티에 형성된 검출 개구부; 및
상기 검출 개구부에 장착되는 검출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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10 |
10
제 9항에 있어서,
상기 케비티 내부에서 상기 검출부를 대향하여 배치된 배플을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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11
제 1항에 있어서,
상기 케비티는 적분구 또는 정육면체인 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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12
제 1항에 있어서,
상기 제1 개구부의 내측 또는 외측에 배치된 제1 조리개; 및
상기 제2 개구부의 내측 또는 외측에 배치된 제2 조리개를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 장치
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13 |
13
확산 반사하는 케비티를 관통하여 태양 모사광을 시료에 제공하는 단계;
상기 케비티의 내부 확산 반사를 통하여 상기 시료에 특정한 파장의 분광 광을 제공하는 단계;
상기 분광 광의 파장을 변화시키는 단계; 및
상기 태양 모사광의 상기 시료에 조사되는 복사 조도를 변화시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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14
제 13항에 있어서,
상기 분광 광의 파장을 변화시키는 단계는 복수의 LED들을 사용하여 파장을 변화시키는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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15
제 13항에 있어서,
상기 분광 광은 시간에 따라 변조된 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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16
제 13항에 있어서,
상기 분광 광을 제공하는 단계는 상기 케비티에 배치된 검출부를 통하여 상기 분광 광의 복사 조도를 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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17 |
17
제 13항에 있어서,
상기 태양 모사광을 상기 케비티에 입사하는 것을 제거하는 단계;
상기 시료에 상기 분광 광을 조사하고 상기 분광 광의 제1 복사 조도를 측정하는 단계;
상기 시료를 제거하고 분광 반사율 표준판을 배치하여 상기 분광 광의 제2 복사 조도를 측정하는 단계; 및
상기 제1 복사 조도와 상기 제2 복사 조도를 이용하여 상기 시료의 반사율을 추출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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18
제 17항에 있어서,
상기 시료의 반사율을 이용하여 상기 시료의 내부 양자 효율을 추출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 특성 측정 방법
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19
개구부 및 상기 개구부와 서로 마주보는 보조 개구부를 포함하고, 내면에서 확산 반사하는 케비티;
상기 보조 개구부를 가리는 조리개;
상기 개구부와 상기 보조 개구부를 연결하는 직선에서 비켜서 배치되고, 좁은 선폭을 가지는 분광 광을 상기 케비티 내부에 제공하는 분광 광원부; 및
상기 분광 광원부의 출력광이 직접 조사되지 않는 영역에 배치된 검출부를 포함하고,
상기 분광 광은 상기 케비티 내부에서 확산 반사되어 시료에 균일하게 제공되고,
상기 시료는 상기 케비티의 외부의 상기 개구부 앞에 배치되는 것을 특징으로 하는 분광 반사율 측정 장치
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20
개구부 및 상기 개구부와 서로 마주보는 보조 개구부를 포함하고, 내면에서 확산 반사하는 케비티; 상기 보조 개구부를 가리는 보조 개구부; 상기 개구부와 상기 보조 개구부를 연결하는 직선에서 비켜서 배치되고, 좁은 선폭을 가지는 분광 광을 상기 케비티 내부에 제공하는 분광 광원부; 및 상기 분광 광원부의 출력광이 직접 조사되지 않는 영역에 배치된 검출부를 포함하고, 상기 분광 광은 상기 케비티 내부에서 확산 반사되어 시료에 균일하게 제공되고, 상기 시료는 상기 케비티의 외부의 상기 개구부 앞에 배치되는 분광 반사율 측정 장치의 분광 반사율 측정 방법에 있어서,
케비티의 내부 확산 반사를 통하여 시료에 특정한 파장의 분광 광을 제공하고 상기 분광 광의 제1 복사 조도를 측정하는 단계;
상기 시료를 제거하고 분광 반사율 표준판을 배치하여 상기 분광 광의 제2 복사 조도를 측정하는 단계; 및
상기 제1 복사 조도와 상기 제2 복사 조도를 이용하여 상기 시료의 반사율을 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 분광 반사율 측정 방법
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