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아킹을 이용한 내플라즈마 평가방법

  • 기술번호 : KST2014065884
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 아킹을 이용한 내플라즈마 평가방법에 관한 것으로, 더 상세하게는 반도체와 같은 정밀기기에 사용되는 부품의 코팅성능을 측정하기 위한 방법 중 내플라즈마 평가방법에서 챔버내에 아킹을 걸어 부품의 코팅에서 튀어나오는 입자를 정량화하여 부품의 내구성을 평가하는 플라즈마 평가방법에 관한 것이다. 본 발명의 평가방법은, 반도체를 포함한 정밀기기에 사용되는 부품의 코팅성능을 평가하는 내플라즈마 평가방법에 있어서, 코팅부품의 시편을 챔버에 장착하고, 챔버의 배기라인에는 OES(Optical emission spectroscopy) 장착하는 평가준비과정과; 상기 챔버에 플라즈마를 걸어 시편에 아킹이 발생되도록 하는 아킹발생실험과정과; 상기 아킹에 의해 시편으로부터 분리된 파티클을 OES 스펙트럼 분석하여 Al 또는 O 성분 피크크기를 정량화하는 OES분석과정과; 상기 OES분석과정에서 분석된 데이터를 이용하여 내플라즈마를 평가하는 내플라즈마 평가과정;을 포함하여 이루어진다. 플라즈마, 내구성, 코팅성능, 아킹, 부품
Int. CL H01L 21/205 (2006.01) H01L 21/3065 (2006.01) H01L 21/66 (2006.01)
CPC H01J 37/32935(2013.01) H01J 37/32935(2013.01)
출원번호/일자 1020080110415 (2008.11.07)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0998987-0000 (2010.12.01)
공개번호/일자 10-2010-0051307 (2010.05.17) 문서열기
공고번호/일자 (20101209) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.11.07)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤주영 대한민국 서울특별시 양천구
2 강상우 대한민국 대전광역시 유성구
3 홍승수 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 웰 대한민국 서울특별시 서초구 방배로**길*, *~*층(방배동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.11.07 수리 (Accepted) 1-1-2008-0772681-92
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.05.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.06.12 수리 (Accepted) 9-1-2009-0035398-21
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0355831-24
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.10.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0659451-83
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.10.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0659453-74
7 등록결정서
Decision to grant
2010.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0546676-78
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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반도체를 포함한 정밀기기에 사용되는 부품의 코팅성능을 평가하는 내플라즈마 평가방법에 있어서, 코팅부품의 시편을 챔버에 장착하고, 상기 챔버의 내부 하측에는 파티클 평가용 기판(70)을 장착하고, 상기 챔버의 배기라인에는 OES(Optical emission spectroscopy) 장착하는 평가준비과정(P1)과; 상기 챔버에 플라즈마를 걸어 측정대상 시편에 아킹이 발생되도록 하는 아킹발생실험과정(P2)과; 상기 아킹에 의해 측정대상 시편으로부터 분리된 파티클을 OES 스펙트럼 분석하여 Al 또는 O 성분 피크크기를 정량화하는 OES분석과정(P3)과; 상기 챔버에서 기판을 분리하고, 이의 성분을 분석하여 면적당 기판위의 Al 또는 O 성분을 정량적 평가하는 성분분석과정(P7)과; 상기 OES분석과정과 성분분석과정에서 분석된 데이터를 이용하여 내플라즈마를 평가하는 내플라즈마 평가과정(P4);을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 아킹을 이용한 내플라즈마 평가방법
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제1항에 있어서, 상기 아킹발생실험과정과 OES분석과정 이전에 표준시편에 대한 표준아킹발생실험과정(P5)과 표준OES분석과정(P6)이 더 이루어지도록 하고, 상기 내플라즈마평가과정(P4)에서는 표준시편의 분석데이터와 측정대상시편의 분석데이터를 비교하여 내플라즈마를 평가하도록 한 것을 특징으로 하는 아킹을 이용한 내플라즈마 평가방법
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삭제
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제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 챔버의 전극(20)주위에 마그네틱을 붙여 플라즈마 밀도효율을 증가시키는 것을 특징으로 하는 아킹을 이용한 내플라즈마 평가방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.